Устройство для измерения деформации образца

Устройство для измерения деформации образца

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерению деформаций в образцах оптическими методами. Цель изобретения - увеличение диапазона измерения деформаций в об.разцах больших размеров за счет использования стандартных блоков . Устройство содержит расположенные последовательно источник 1 света , выполненный в виде источника узконаправленных световых импульсов, многоэлементный фотоприемник 2, вы-, полненный в виде матрицы фотоэлементов с числом строк и столбцов, равным 2N +Г, где N l,2...i, блок 3 обработки и регистрации, соединенный с фотоприемником 2, генератор 4 импульсов , блок 5 задержки. При деформации образца 6 изменяется взаимное положение источника 1 света относительно фотоприемника 2, и луч света из источника 1 попадает в один из нецентральных фотоэлементов фотоприемника 2. По положению этого фотозлемента оценивают величину и направление деформации образца 6. 1 ил, Ш сл

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (И) Ai (5D4 G 01 В 11 16

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

Н А ВТОРСНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ СССР

ПО ДЕЛАМ ИЗОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ (21) 4244991 /25-28 (22) 14.05.87 (46) 30.11.88. Бюл. 11 44 (72) В,Н.Гавриков, А.В.Бабенко и О.А.Фуженко (53) 531,781 2 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 326454, кл. С 01 В 11/16, 1974.

Авторское свидетельство СССР

N 579541, кл. G Ol В 11/16, 1977.

t 1 (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИИ ОБРАЗЦА (57) Изобретение относится к измерению деформаций в образцах оптическими методами. Цель изобретения — увеличение диапазона измерения деформаций в образцах больших размеров за счет использования стандартных блоков. Устройство содержит расположен-! ные последовательно источник 1 света, выполненный в виде источника узконаправленных световых импульсов, многоэлементный фотоприемник 2, вы-. полненный в виде матрицы фотоэлементов с числом строк и столбцов, равным 2N +1, где N = 1,2...i блок 3 обработки и регистрации, соединенный с фотоприемником 2, генератор 4 импульсов, блок 5 задержки. При деформации образца 6 изменяется взаимное положение источника 1 света относительно фотоприемника 2, и луч света из источника 1 попадает в один иэ нецентральных фотоэлементов фотоприемника 2. По положению этого фотоэлемента оценивают величину и направление деформации образца 6. 1 ил.

1441193

Изобретение относится к измерению деформаций в образцах и конструкциях оптическими методами.

Цель изобретения — увеличение диа5 пазона измерения деформаций в образцах больших размеров за счет использования стандартных блоков.

На чертеже приведена схема устройства для измерения деформации образца.

Устройство содержит расположенные последовательно источник 1 света, выполненый в виде источника узконаправленных световых импульсов, фотоприемник 2, выполненый в виде матрицы фотоэлементов с числом строк и столбцов, равным 2N + 1, где N =

1,2,...,i, блок 3 обработки и регистрации, соединенный с фотоприемником 2, генератор 4 импульсов, соединенный с.источником 1 света, блок

5 задержки, вход которого связан с генератором 4 импульсов, а выход— с блоком 3 обработки и регистрации.

Источник 1 света и фотоприемник 2 закреплены на образце .6.

Устройство работает следующим образом.

Перед началом измерений источник

1 узконаправленных световых импульсов и многоэлементный фотоприеник 2 устанавливают на измеряемом образце б таким образом, чтобы узконаправленный световой импульс от источника 1

35 узконаправленных световых импульсов приходил в середину центрального фотоэлемента фотоприемника 2.

С момента включения генератора 4 импульсов в кажцый момент времени 4О подается сигнал на источник 1 узконаправленных световых импульсов и через элемент задержки 5 — на блок 3 обработки и регистрации измерений.

Сигнал от генератора 4 импульсов

45 включают источник 1 узконаправленных световых импульсов на время длительности импульса.

При отсутствии деформации источник 1 узконаправленных световых импульсов и многоэлементный фотоприемник 2 расположены на измеряемом образце 6 таким образом, что дискретный узконаправленный световой импульс попадает в середину центрального фотоэлемента — многоэлементно55 го фотоприемника 1. На выходе блока

3 обработки и регистрации при этом будет нуль.

При деформации образца дискретный узконаправленный световой импульс приходит не на центральный фотоэлемент многоэлементного фотоприемника

2, а на какой-либо другой фотоэлемент этого фотоприемника. Блок 3 обработки и регистрации осуществляет определе me величины и направления деформации. Это осуществляется за счет того, что многоэлементный фотоприемник 2 представляет собой по существу координатную сетку с началом координат в центре фотоэлемента, расположенного на пересечении (N+I)-ro столбца и (И+1)-й строки . Расстояние и направление от этого фотоэлемента до любого другого фотоэлемента многоэлементного фотоприемника 3 заранее измеряется и запоминается в блоке 3 обработки и регистрации измерений..

Поэтому блок 3 обработки и регистрации осуществляет лишь выбор того фотоэлемента, на который в данный момент времени пришел дискретный узконаправленный световой импульс, и в зависимости от этого выдает значение величины и направления деформации.

Если же узконаправленный световой импульс попал одновременно на несколько фотоэлементов многоэлементного фотоприемника 2, то расстояние и направление деформации в блоке 3 .обработки и регистрации вычисляется, как среднеарифметическое значение величины и направления всех освещенных фотоэлементов.

Одновременно с выдачей значений величины направления деформации блок

3 обработки и регистрации. выдает значение моментов времени, на которые произведены измерения. Это достигается тем, что одновременно с приходом сигнала от многоэлементного фотоприемника 2 в блок 3 обработки и регистрации приходит сигнал от генератора 4 импульсов. Одновременность достигается введением блока 5 задержки между генератором 4 импульсов и блоком 3 обработки и регистрации. Введя в блок 3 обработки и регистрации значение московского времени включения генератора 4 импульсов, значение тактовой частоты импульсов и осуществляя в блоке 3 обработки и регистрации подсчет поступившего количества тактовых моментов времени, определяется значение времени, на

Формула изобретения

Составитель В.Евстратов

Редактор М. Келемеш Техред М. Уоданич Корректор С.Черни

: Заказ 6275/42 Тираж 680 Подписно е

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

3 14411 момент которого производилось измерение направления и величины деформации, Таким образом, устройство позволяг ет не только проводить измерение

5 величины деформации образцов, но и определять направление деформации, а также осуществлять привязку проводимых измерений ко времени. в образцах больших размеров. 10

Устройство для измерения деформации образца, содержащее расположен-.ные последовательно источник света, 15 фотоприемник и блок обработки и регистрации, соединенный с фотоприем93

4 ником, о.т л и ч а ю щ е е с я тем, чтЬ, с целью увеличения диапазона измерения деформаций в образцах больших размеров,.оно снабжено гене"

psTopoM импульсов, соединенным с источником света, блоком задержки, вход которого соединен с генератором импульсов, а выход — с блоком обработки и регистрации, фотоприемник выполнен в виде матрицы фотоэлементов с числом строк и столбцов, равным 2N + 1 где N 1,2. ..i источник света выполнен в виде источника узконаправленных световых импульсов, а источник света и фотоприемник предназначены для закрепления на образце.