Способ измерения микроскопических объектов

Способ измерения микроскопических объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Класс 421i 14о5

Ло 146999

СССР

r c =Ё

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

3 В ЕИМОМУ *ВТОРЕКОМУ ЛВИДЕТЕ1»ЯТВУ

Подписная гриппа № I

Ц!

С. Г. Гуревич

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ

Заявлено 14 декабря 1959 г. за № 647261/26 в Комитет по делам изобретений н открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 9 за 1962 г.

Основное авт. св. ¹ 85114 от 24 июля 1949 г. на имя С. Г. Гуревн <а и Н. С. Трукмаповой

Известный по авт. св. № 85114 способ измерения микроскопических объектов и микроскопических линейных смеп1сний, заключакнцийся в том, что шкалу со сравнительно большой ценой деления проецируют с уменыпением в плоскость наблюдаемого объекта, не обеспечивает высокой точности измерения.

Предлагаемый способ отличается тем, что неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличе1IIIû.÷ в заданное число ра оптическим изображением наблюдаемого объекта. Указанное отличие позволило значительно повысить точность измерения

Практически предлагаемый способ осуществляется следующим образом. Вместо наблюдаемого объекта, взятого в натуре, используют его оптическое изображение, увеличенное в некоторое число раз, которое проецируют на жесткий экран с тонким рассеивающим слоем. На этот же экран проецируют неподвижное оптическое изображение шкалы.

Если предположить, что действительная цена одного деления шкалы равна 0,1 .ил, то после ее проецирования с уменьшением в пятьдесят раз в плоскости оптического изображения цена деления шкалы станет в пятьдесят раз меньше, т. е. 0,002 л1 и Теперь, если микроскопический объект величиной в 0,01 м,и увеличить в двадцать раз, то в плоскости своего оптического изображения эта величина станет размером 0,2 и.и.

Так как оба оптических изображения 1шкалы и объекта) совмещаются в одной плоскости жесткого экрана, то в поле зрения микроскопа одному делению объекта будет соответствовать в данном случае сто делений шкалы. Это обстоятельство позволяет производить измерения микроскопических объектов и микроскопических линейных смещений с высокой точностью, в связи с чем предлагаемый способ найдет широкое применение в промышленности. № 146999

Предмет изобретения

Способ измерения микроскопических объектов и микроскопических линейных смешений по авт. св. М 85114, о тл и ч а ю щи йс я тем, что, с целью повышения точности измерения, неподвижное оптическое изображение шкалы совмещают с увеличенным в заданное число раз оптическим изображением наблюдаемого объекта

Составитель описания В. Г, Туфельд

Редактор Н. С. Кутафина Техред А. A. Камышникова Корректор Ю. Л1. федулова

Подп. к печ. 21.1Ч-62 r. Формат бум. 70Х106 /1в Объем 0,18 изд. л.

Зак. 3966 Тираж 550 Цена 4 коп.

U5TH при Комитете по делам изобретений и открытий при Совете Лзинистров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6.

Типография ЦГ>ТИ Комитета, Москва Петровка 14.