Мера магнитной индукции

Мера магнитной индукции

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано в качестве средства поверки и калибровки тесламетров, применяющихся для измерений магнитной индукции. Цель изобретения - повышение точности поверки и калибровки тесламетров за счет снижения магнитного поля рассеяния до уровня, не превышающего 0,8 B<SB POS="POST">раб</SB>, и уменьшения отклонения B<SB POS="POST">раб</SB> от децимальных значений. Для этого пакеты магнитных пластин 1 расположены между сторонами полюсных наконечников 2, образующими зазор, а на их противоположных сторонах помещены корректирующие магниты 3, согласованные с пакетами магнитных пластин по величине и расположению. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛ ИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU 2 А1

tsg 4 G 01 R 33/02

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ЫЯОмЫ3

Б4П!Д,".". i,„",,„ ù

E . EËÈ0 .

Н А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 421 9055/24-21 (22) 03.04.87 (46) 07.05.89. Бюл. У 17 (72) Е.П. Глотов, Ю.A. Рягузов и Г.З. Бучин (53) 621 . 31 7.44 (088 . 8) (56) Патент США Ф 3254273, кл. G 01 R 33/00, 1966. (54) МЕРА МАГНИТНОЙ ИНДУКЦИИ (57) Изобретение относится к области электронной техники и может быть использовано в качестве средства поверки и калибровки тесламетров, применяющихся для измерений магнитной индукпии. Цель изобретения— повышение точности поверки и калибровки тесламетров за счет снижения магнитного поля рассеяния до уровня, не превышающего 0,8 В, и уменьшения отклонения В, от децимальных значений. Для этого пакеты магнитных пластин 1 расположены между сторонами полюсных наконечников 2, образующими зазор, а на их противоположных сторонах помещены корректирующие магниты 3, согласованные с пакетами магнитных пластин по величине и расположению. 3 ип.

1478172

Изобретение относится к магнитоизмерительной технике и может быть использовано в качестве средства поверки и калибровки тесламетров.

Целью изобретения является повы5 шение точности поверки и калибровки тесламет ров за счет снижения магнитного поля рассеяния до уровня, не превышающего 0,8 В ад, и уменьшения отклонения В от децимальных значеpab ний.

Цель достигается тем, что пакеты магнитных пластин расположены между сторонами полюсных наконечников, 15 обращенными в зазор, а на их противоположных сторонах помеп1ены корректирующие магничы, согласованные с пакетами магнитных пластин по величине и расположению, 20

На фиг. 1 показана принципиальная схема ММИ и график распределения аксиальной составляющей магнитной индукции вдоль ее оси; на фиг. 2 и 3 конструкции конкретной реализации ме- 25 ры.

Мера магнитной индукции содержит пакет магнитных пластин 1, два полюсных наконечника 2, корректирующий магнит 3. Кроме того, на фиг . 1 -3 30 введены обозначения. t „ - длина зазора между полюсными наконечниками, d м — диаметр окружности, ближе которой запрещено размещение магнитных пластин Рд диаметр окружности за 35 которую не заходят магнитные пластины; d ц — диаметр отверстий в центре полюсных наконечников, и — длина однородного участка магнитного поля.

ММИ работает следующим образом.

Магнитные пластины, собранные в пакеты и размещенные между полюсными наконечниками, индуцируют магнитный поток в рабочее пространство, где создают постоянное поле. Задача магнитной цепи — создать участок однородного поля с индукцией В и протяра женностью 3

Величина индукции поля в зазоре в основном определяется объемом активной магнитной массы, заключенной меж«50 ду полюсными наконечниками в пакетах магнитных пластин. Для оптимального

: использования магнитного потока диаметр полюсных наконечников D сде0 55 лан несколько меньше D (D (1,3D„) °.

Предложенная схема расположения основной активной магнитной массы автоматически обеспечивает условие расс - Врао

Магнитные пластины имеют форму шайб, призм и т.п. фигур, а набранные из них пакеты — форму штапиков или столбиков.

Размеры пластин и количество пакетов, размещенных в зазоре, выбирают таким, чтобы полученное за их счет значение индукции в зазоре бьшо немного меньше (1-2X) заданного значения Вр„, Однородность поля на рабочем участке будет также примерно обЕспечена, если магниты в зазоре будут располагаться достаточно далеко от него (dÄ 2 „) .

С этой целью необходимо также, чтобы длина зазора была достаточно велика (tä а + 4Й„), а магниты вплотную прилегали к полюсным наконечникам.

Окончательно уровень поля и однородность его устанавливается при помощи корректирующих магнитов, которые должны быть достаточно малы относительно диаметра D„чтобы o6ec- печить их свободное перемещение по поверхности полюсного наконечника при процедуре юстировки. Юстировка заключается в перемещении корректирующих магнитов до получения заданных величин В> и степени однородности поля на участке g по наблюдению сигнала ЯМР. После юстировки пакеты. магнитных пластин и корректирующие магниты закрепляются в найденном оптимальном положении с помощью эпоксидной смолы или клея БФ-2.

Приведенные вьппе геометрические соотношения получены из эксперимента.

Формула изобретения

Мера магнитной индукции, содержащая корпус, пакеты магнитных пластин, полюсные наконечники с отверстиями в центре и поперечный паз в зазоре между ними, отличающаяся тем, что, с целью повьппения точности калибровки, пакеты магнитных пластин расположены между сторонами полюсных наконечников, обращенных в зазор, а на их противоположных сторонах помещены корректирующие магниты, согласованные с пакетами магнитных пластин по величине и расположению .

1 4781 72

1478172

Составитель А. Дивеев

Редактор В. Бугренкова Техред Л.Олийнык Корректор Т Лалец

Заказ 2360/46 Тираж 714 Подп исное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

11 II

Производственно-издательский комбинат Патент, r.Óæãîðoä, ул. Гагарина,101