Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах

Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

№ 149505

Клас 21д, 11вз

Г п-. (I

° - ., l !

СССР

1,110 f4ð - ; ?а,, 1

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТШИЙ

Подписная группа № 97

М. Э. Кричевский

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТСУТСТВИЯ КОНТАКТА

В ПОЛУПРОВОДHИКОВЫХ ДИОДАХ

Заявлено 26 февраля 1960 г. за ¹ 656718/26 в Комитет по делам изобретений и открьггий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» No 16 за 1962 г, Известные способы определения отсутствия контакта в полупроводниковых дисдах предполагают обязательную отпайку испытуемого диода, если диоды включены параллельно.

Описываемый способ позволяет определять отсутствие контакта в полупроводниковых диодах, включаемых параллельно в электрическую схему, без их отпайки, С этой целью используют разборный трансформатор напряжения.

Принципиальная схема проверки диодов по описываемому способу приведена на чертеже.

Разборный трансформатор 1 выполнен на разборном сердечнике, на одной половине которого укреплена первичная обмотка. При охватывании магнитопроводом вывода проверяемого диода 2 этот вывод выполняет функцию одного витка вторичной обмотки трансформатора. Если к зажимам 3 подключить источник переменного напряжения. то при замыкании общих выводов 4 и 5 схемы по образованному замкнутому контуру потечет ток. При этом ток „îòå÷åò то.лько при условии отсутствия обрыва в испытуемом диоде.

Прохождение тока через контур обнаруживают с помощью трансформатора б тока, витком первичной оомотки которого служит провод, згмыкающий общие точки схемь.. К зажимам 7 вторичной обмотки трансформатора б подклю.ают индикатор, например ооциллограф. Наличие в проверяемых устройствах диодов, включенных параллельно испытуемому, не влияет на точность проверки, поскольку они закорочены проводом, соединяющим выводы 4 и 5. Перенося разборный трансформатор 1 с одного диода а другой, мож;0 испытать па обрыв все параллельно включенные диоды.

Описанный способ может найти широкое применение на предприятиях, выпуска1ощих массовую продукцию на полупроводниковых диодах.

Предмет изоб ретения

Составитель Г А. Емельянов

Техред T. П. Курилко Корректор Ю. М, Федулова

Редактор Н. С. Кутафина

Подл. к печ. 10Х1П-62 г Формат бум. 70X108>/>6 Объем 0,18 изд. л.

Зак, 8349 Тираж 1150 Цена 4 коп

ЦБТИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6.

Типография ЦБТИ, Москва, Петровка, 14

Способ определения отсутствия контакта в полупроводниковых диодах, включенных параллельно один относительно другого в электрическую схему, по прохождению тока через испытуемый диод, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью поверки любого из этих диодов без их отпайки, индуктируют посредством разборного .трансформатора напряжение в выводе испытуемого диода, используя этот вывод в качестве вторичной обмотки трансформатора, и определяют исправность диода по току во вторичной обмотке повышающего трансформатора, первичную обмотку которого включают параллельно испытуемому диоду.