Способ определения аддитивной составляющей систематической погрешности измерителей параметров активных и реактивных элементов радиотехнических цепей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборах для измерения электрической емкости. Цель изобретения - упрощение метрологической поверки измерителей емкости конденсаторов в условиях отсутствия образцовых средств (мер) путем исключения из результата измерений аддитивной составляющей систематической погрешности с использованием набора конденсаторов. Сущность способа заключается в том, что используется физический закон о равенстве общей емкости совокупности параллельно включенных емкостей конденсаторов и суммарной емкости всех составных частей этой совокупности, а аддитивную составляющую систематической погрешности прибора, которым проводят измерения, определяют как разность двух полученных сумм.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

„„SU„„1499239 (51) 4 С 01 R 17/00 с .: М

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ABTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

Il0 ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ П4НТ СССР

I(21) 4225375/24-21; 4257995/24-21 (22) 07.04.87 (46) 07.08.89. Бюл. У 29 (72) М.A. Лотонов, С.С. Бедняков,:

В.М. Коломыцев, В.П. Салюк и В.Ю. Кондратьев (53) 621.317 ° 337(088.8) (56) Измерения в промышленности.

Справочник. — М.: Металлургия, 19803 с. 29-30.

Бурдун Г.Д. и др. Основы метрологии. — М.: Изд-во Стандартов,1985, с. ° 84-85. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ АДЦИТИВНОЙ

СОСТАВЛЯЮЩЕЙ СИСТЕМАТИЧЕСКОЙ ПОГРЕШНОСТИ ИЗМЕРИТИПЙ ПАРАМЕТРОВ АКТИВНЫХ

И РЕАКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ РАДИОТЕХНИЧЕС-

КИХ ЦЕПЕЙ (57) Изобретение относится к измериИзобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в приборах для измерения электрической емкости индуктивности и сопротивления элементов радиотехнических цепей.

Целью изобретения является повышение точности измерений параметров ак" тивных и реактивных элементов путем исключения иэ результата измерений аддитивной составляющей систематической погрешности с использованием набора соответствующих элементов.

Для примера определяют погрешности измерителя электрической емкости.

Сущность способа заключается в том, что используется физический за2 тельной технике и может быть использовано в приборах для измерения электрической емкости. Цель изобретения— упрощение метрологической поверки измерителей емкости конденсаторов в условиях отсутствия образцовых средств (мер) путем исключения из результата измерений аддитивной составляющей систематической погрешности с использованием набора конденсаторов.

Сущность способа заключается в том, что используется физический закон о равенстве общей емкости совокупности параллельно включенных емкостей конденсаторов и суммарной емкости всех составных частей этой совокупности, а аддитивную составляющую систематической погрешности прибора, которым проводят измерения, определяют как разность двух полученных сумм. кон о равенстве общей емкости совокупности параллельно включенных емкостей и суммарной емкости всех составляющих частей этой совокупности, т.е.

1где С вЂ” истинное значение емкости

i иск составной части при разделении совокупности парал-,, лельно включенных емкостей íà и частей;

ll

С. — истинное значение емкости

1 НСт составной части при разде-, лении этой же совокупности1 параллельно включенных ем-. костей на m частей.

t499239

Учитывая, что доБ < + КСэ

Д . ) = (С".-а".). (3)

i =-1 имеют

II (С,.i=1

Систематическая погрешность средства измерений состоит из аддитивной и 25 мультипликативной составляющих, следовательно, (4) (5) ЗО где Д.: d" .— аддитивные составляющие

ia1 систематических погрешностей д . и д" соответ

< ственно;

К;С<, К<С; - мультипликативные состав ляющие систематических погрешностей d ; и л . соответственно. .Если С; С< находятся в одном

/ П диапазоне, то можно записать с учетом (3), (4) и (5) d,a= d;a const = d

<<

К o oconst К. ll

1 < (6) (") 45

Tarp,а

Il 111 (1-К),> С, » па (1-К) Е С; - m d. (8)

<=1 1=1

Отсюда (ш-п)ь (1 К)(С; — . С,) (9)

II " I 50 -1 i> I и (1-К) (7. C,. - K. С,.)

< 1 ", (10) ш-п

Находят влияние К на определение а.

Из равенств (8) и (7) следует,что общая погрешность измерения

С -а.

С ж

i ) н 1«< (2)

< <<ст i s где С,, С, à,, d" — показания измерителя емкости и систематичес-кие погрешностиэ IO получаемые при измерениях ем» кости в случае разделения совокупности парал лельно включенных емкостей на и и ш частей соответственно, Отсюда

66

К и

С (12) Максимальное значение т.е. К „, выражается классом точности прибора или его относительной погрешности.

Для большинства средств измерений относительная погрешность находится в пределах 10- - 10"з, поэтому К (1 и его значением можно пренебречь.

Следовательно, Л определяют в этом случае с погрешностью, соответствующей классу точности прибора, 1h h Е С",, — 7,C,. (14) Для обеспечения близости С. и С<

1, II

1 необходимо выполнение условия (15) ш-n=1.

Тогда

П1

<1

С. — с С,, (16)

<а1 1" 1

Использование предлагаемого способа определения аддитивной составляющей систематической погрешности измерителя позволит повысить точность измерения путем исключения аддитивной составляющей систематической погрешности иэ результата измерений, не привлекая образцовые средства, выбрать прибор с меньшей систематической погрешностью, отрегулировать нуль измерительной шкалы прибора, не проводить послеремонтную поверку, если определенные дан» ным способом погрешности до и после ремонта одинаковые.

Формула из о бр етения

Способ определения аддитивной составляющей систематической погрешности измерителей параметров активных и реактивных элементов радиотехнических цепей, заключающийся в том, что измеряют суммарную величину, параметра группы элементов различных номиналов, подключенной к входным зажимам измерителя параметров активных

Составитель В. Семенчук

Редактор И. Горная Техред М.Моргентал Корректор С. Черни

Тираж 714 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Заказ 6304

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101

5 14992 и реактивных элементов, и определяют расчетным путем аддитивную составляющую систематической погрешности этого измерителя, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений параметров активных и реактивных элементов, делят набор из N элементов произвольной точности нап групп, и которых суммы номинальных .значений параметров элементов равны, соединяют элементы в группе последовательно для резисторов и элементов .индуктивностей или параллельно для конденсаторов и измеряют общую величину параметра каждой группы, сумми39 о руют полученные результаты измерений, делят этот же набор из И элементов на и-1 групп с равными суммами номинальных значений параметров элемен..тов, которые соединяют в группе по.следовательно для резисторов и элементов индуктивностей или параллельно для конденсаторов и измеряют общую величину параметра каждой группы элементов, суммируют полученные результаты измерений, а аддитивную составляющую систематической погрешности определяют как разность двух суммарных значений измеренных параметров исследуемых групп элементов.