Способ определения износа инструмента

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к трибологии. Целью изобретения является повышение точности определения износа прессового инструмента с упрочняющим покрытием за счет дискретизации регистрируемого параметра. В покрытии на разной глубине располагают химические элементы, отличные от содержащихся в покрытии. Инструмент изнашивают и с помощью эмиссионного спектрального микроанализа поверхности контртела регистрируют спектральные линии элементов, входящих в состав покрытия. Износ инструмента определяют по появлению в спектре линий элементов, расположенных в покрытии элементов.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ.

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК ()9) (и) 45 9 А1 (5)) 4 С 01 N 3/56

11: !

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ .Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ П(НТ СССР (21) 4361438/25-28 (22) 11.01.88 (46) 30.08.89. Бкц). У 32 (71) Ростовский-на-Дону институт сельскохозяйственного машиностроения (72) Б.С. Хомяк, П.Б. Хомяк, И.Б. Хомяк, В.И. Запорожченко, E.M. Меньшикова и Г.Н. Красовский (53) 620.178,16(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 823966, кл. С 01 N 3/56, 1979. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗНОСА ИНСТРУМЕНТА (57) Изобретение относится к трибологии. Целью изобретения является повыИзобретение относится к трибологии и может быть использовано в машиностроении для определения износостойкости прессового инструмента.

Целью изобретения является повышение точности определения износа прессового инструмента с упрочняюцим покрытием эа счет дискретизации регистрируемого параметра.

Способ осуществляется следующим образом.

В упрочняющем покрытии прессового инструмента на разной глубине располагают меченые зоны за счет введения элементов, отличных от содержащихся в покрытии. Инструмент подвергают Лрикционному воздействию и с помощью эмиссионного спектрального микроанализа поверхностей контроля регистрируют появление на них элементов из меченых зон ° Последнее по известной глубине расположения

2 шение точности определения износа прессового инструмента с упрочняю(цим покрытием за счет дискретизации регистрируемого параметра. В покрытии на разной глубине располагают химические элементы, отличные от содержащихся в покрытии. Инструмент изнашивают и с помощью эмиссионного спектрального микроанализа поверхности контртела регистрируют спектральные линии элементов, входящих в состав покрытия. Износ инструмента определяют по появлению в спектре линий элементов, расположенных в покрытии элементов. меченых зон позволяет определить износ покрытия.

Пример. На поверхность вставок ВК 20-КС, предназначенных для высадки гаек М 10 иэ стали 10 КП на автомате А 1820, наносили упрочнякв(ее покрытие TiN — CrN толщиной

6 мкм на установке "Булат". При этом на глубине 3 мкм выполняли меченую

О зону толщиной 3000 А, содержащую дополнительно MoN

Периодически через 100 тыс штампоударов на поверхности гаек определяли интенсивность спектральных линий элементов, входящих в состав упрочняющего покрытия. Элементы иэ меченых зон были обнаружены через

1,8 млн. штампоударов.

Предложенный способ позволяет без остановки инструмента контролировать его износ.

Составитель И. Солдатенков

Редактор М. Питкина Техред M.Моргентал Корректор М.Васильева

Заказ 5245/44 Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

3 1504569

Формула изобретения

Способ определения износа инструмента, заключающийся в том, что инструмент подвергают фрикционному 5 воздействию с помощью контртела, путем эмиссионного спектрального микроанализа исследуют поверхность контртела, регистрируют спектральные линии элементов, входящих в состав материала инструмента, и определяют износ инструмента, о т л ичающий с я тем, что, с целью повышения точности определения износа прессового инструмента с упрочняющим покрытием, в покрытии на разной глубине размещают химические элементы, отличные от содержащихся в покрытии, а износ инструмента определяют по появлению в регистрируемом спектре линий этих элементов.