Способ определения толщины поверхностного слоя с отличной от объема структурой

Способ определения толщины поверхностного слоя с отличной от объема структурой

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к контролю материалов и изделий и может быть использовано для определения толщины поверхностного слоя с отличной от объема структурой, например после операций упрочнения путем поверхностно-пластического деформирования. Целью изобретения является повышение производительности и расширение области применения за счет регистрации снятия поверхностного слоя по появлению сигналов акустической эмиссии (АЭ) при заданном механическом нагружении. Образец послойно полируют, нагружают до заданного напряжения, регистрируют сигналы АЭ. При появлении сигналов АЭ послойную полировку прекращают.

СОЮЗ СОБЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕС(1УБЛИН (5 It ((г 0 i ((2 04

СПАСАНИЕ ИЗОБРЕ ЕНИЯ

К А ВТОРИЧНОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ ку прекряшяюГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯ14 И ОТН ЫТИЯД

ПРИ ГННТ СССР (21) 4239882/25-28 (22) 04.05.87. (46) 30.08.89. Бюл. l". 32 (71) Тольяттинский политехнический институт (72) М.A Криштял, Д.Л. Мерсан, В.П, Алехин, В.A. Зайцев и М,А. Выбойщик (53) 620.1(79.16(088.8) (56) Металлагряфикя(1982 т, 4.

h» 4, ч. 92-99, Алехи, В."., Физика по i.=»асти и пластич .асти поверхностных слоев мя— териалав. М.: Раук;; 983, с. 280. (54) СПОСС(Б ОПРЕ„ ((ЕЛ(ьИИЯ. ТОЛШИгИ (ОВЯРХНОСТПОГО СЛО5: С ОТ(ЫЧПО ОТ ОБЪЕМА С ТР УКТУР О(Г .

Изобрете;ие ат»осится к контролю материалов и изделий и может быть испальзова:- а для определения толщины поверхностнат о слоя с отличнои от объема структурой, например, после операций упрочне,.ия путем поверхностно-пла" тическога деформирования.

Ьелью изобретения является повышение производительности и расширение области применения за счет регистрации снятия поверхностного слоя по появлению сигналов акустической эмиссии (АЭ) при задан:ом механическом напряжении.

Способ определения толщины поверхностнога слоя с отличной от объема структурой осуществляется следующим образом.

2 (57) Изобре-,e»:-.å относится к контролю мя-.»риалов и иэделий и может быть испо;-ьзавя»а;:|я оп,".еделения толщины поверхностного слоя с отличной от объема структурой, »апример, после аперяц .;i упро :не»»я путем паверхнаст»а-пластич ского деформировяния,. Lе— лью изобретения является повышение производитель»ости и расширень

Составитель К. Хилков

Техред М.Дидык Корректор Т.Малец

Редактор И. Рыбченко

Тираж 789

Подписное

Заказ 5247/46

1НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при К!(Р СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат Патент, г.ужгород, ул. а: арина,1.)1

ltт tl (3 1504607 процедуру повторяют до тех пор, пока сигналы АЭ не будут зарегнстриро— ваны при нагружении. Толщину слоя с отличной от объема структурой on5 ределяют по сумме снятых слоев за вс е время контроля .

Таким образом, предлагаемый способ позволяет повысить производительность и расширить область применения за счет регистрации сигналов АЭ, вызванных деформацией поверхностного слоя образцов при заданном значении механического напряжения.

Формула изобретения

Способ определения толщины поверхностного слоя с отличной от объема структурой, заключающийся в том, что послойно полируют поверхность образца, после каждой полировки измеряют параметры физико-механических характеристик поверхностного слоя на образце и по сумме сн" òûõ слоев определяют толщину поверхностного слоя, о т л и ч а ю ш и и с я тем, что, с целью повышения производительности и расширения области применения, после каждой полировки образец нагружают до заданного значения напряжения, при нагружении измеряют параметры сигналов акустической змис.сии> при гоявлении которых полировку прекращают.