Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки

Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Л 151036

Класс 42b 12аз

ceca 1

ОПИСАНИЕ ИЗ0 1 Т

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Подписная группа Лв 1б4

Б. А. Глаговский, Г, Ш. Ройтштейн и А. Л. Хаит

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ

ПРОЗРАЧНОЙ ЛАКОВОЙ ПЛЕНКИ

Заявлено 29 января 1962 r за № 762040/25-8 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений» № 20 за 1962 г.

Известны устройства для контроля толщины прозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия оптическим методом с помощью фотоэлектрической системы, содержащей источник света, оптическую систему и фотоэлемент, освещаемый светом источника, отраженным от поверхности покрытого лаком изделия.

P описываемом устройстве для повышения точности измерения и возможности непосредственного отсчета значения толщины пленк1 испсльзованы две фотоэлектрические системы, фотоэлементы которых освещены светом, отраженным — один от покрытой лаком поверхности изделия, а другой — от его чистой поверхности. 1;роме того, эти фотоэлементы включены дифференциально в цеш измерительного прибора, один— непосредственно, а другой — через схему задержки времени для совмещения по времени обоих сигналов.

На чертеже изображена схема описываемого устройства.

Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия включает в себя две фотоэлектрические системы 1 и 2. Каждая из систем содержит соответственно источник света 8 и 4, оптическую систему 5 и б и фотоэлемент 7 н

8, Фотоэлемент 7 освещен светом, отраженным от покрытой лаком .0 поверхности изделия 10, а фотоэлемент 8 — от чистой поверхности последнего, Эти фотоэлементы включены дифференциально в цепь измерительного прибора 11, причем фотоэлемент 7 — непосредственно, и фотоэлемент 8 — через схему 12 задержки времени.

Принцип измерения толщины пленки основан на законах Бера и

Byrepa, связывающих поток лучистой энергии, падающий и прошедший через среду определенной толщины. Поэтому константы, входящие в эти законы (например, коэффициенты рассеяния лака, отражения чистой поверхности изделия и др.), определяются экспериментально и учитывак>тся при тарировке устройства. В ", юп -с, кл|п воля № 151036 сигнал от фотоэлемента 8 подается на прибор 11 с временной задержкой, определяемой скоростью движения .изделия 10 и расстоянием между точками измерения, а сигнал от фотоэлементов †сра. Измерительный прибор выдает значение толщины пленки лака в соответствии с результатами обоих измерений.

Предмет изобретения

Составитель М. Б. Нанкин

Техред T. Курилко Корректор Г. Кудрявцева

Редактор T. Загребельная

Подп. к печ 27.IX-62 г, Формат бум. 70Х!08 /, Объем 0 18 изд. л.

Зак. 9804 Тираж 750 Цена 4 коп.

ЦБТИ Комитета но делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва Центр, М, Черкасский пер., д. 2/6, Типография ЦБТИ, Москва Петровка, 14, Устройство для контроля толщины прозрачной лаковой пленки в процессе ее нанесения на поверхность изделия оптическим методом с помощью фотоэлектрической системы, содержащей источник света, оптическую систему и фотоэлемент, освещаемый светом источника, отраженным от поверхности покрытого лаком изделия, о т л и ч а юшееся тем, что, с целью повышения точности измерения и возможности непосредственного отсчета значения толщины пленки, использованы две фотоэлектрические системы, фотоэлементы которых освещены светом, отраженным — один от покрытой лаком поверхности изделия, и другой — от его чистой:поверхности, и включены дифференциально в цепь измерительного прибора, один непосредственно, а друго" — через схему задержки времени для совмещения по времени обоих сигналов.