Способ рефлексометрических измерений
Иллюстрации
Показать всеРеферат
№ 151063
Класс /ah, 17„а
СССР
ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ
Подписная группа М 170
Б. М. Левин
СПОСОБ РЕФЛЕКСОМЕТРИЧЕСКИХ
Заявлено 10 июня 1960 г, за М 669758/26 в Комитет по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР
Опубликовано в «Бюллетене изобретений» М 20 за !962 г.
Известны способы рефлексометрических измерений. Однако такие способы недостаточно точны.
В описываемом способе для повышения точности измерений, особенно для зеркал с высоким коэффициентом отражения, применяют многократное отражение параллельного пучка лучей.
На чертеже изображена схема устройства, применяемого для осуществления описываемого способа.
Способ рефлексометрических измерений состоит в том, что зеркала 1 и 2, коэффициент отражения которых определяется, устанавливают на базовые опоры 8 и 4 полок 5 и б, расстояние между которыми выбирают таким образом, чтобы при попадании параллельного пучка лучей от точечного осветителя 7, расположенного в фокальной плоскости объектива 8, через щелевую диафрагму 9 на зеркало 1 количество отражений между зеркалами 1 и 2 было минимаЛьным, например равнялось трем.
Отраженное изображение осветителя 7 посредством объектива 10 совмещают с фотоэлементом 11 и фиксируют при помощи измерительного прибора, например гальванометра, величину фототока. Затем зеркало 2 перемещают в направлении, перпендикулярном его плоскости, до тех пор, пока количество отражений не возрастет и не станет равным любому целому числу натурального ряда. При этом длина хода луча остается неизменной. Снова .производят измерение величины фототока, причем разность между количеством отражений во втором и в первом случаях выбирают достаточно большой, и по зафиксированным показаниям прибора расчетным путем определя1от искомый коэффициент отражения.
Описываемый способ позволяет значительно снизить величину оп ибок измерения за счет относительной жесткости элементов оптиПредмет изобретения
Способ рефлексометрических измерений, отличающийся тем„ ч-.о, с целью повышения точности измерений, особенно для зеркал с высоким коэффициентом отражения, в нем применяют многократное отражение параллельного пучка лучей.
Составитель Ю, А, Буянов.
Рсдактор Л. Н, Гольцов
Техред Т. П. Курилко Корректор Н. В. Щербакова
Подп. к печ. 7.1Х-62 г. Формат бум, 70Х 108 /, Объем 0,18 изд л
Зак. 9800 Тираж 650 Цена 4 коп.
ЦБТИ Комитета по делам изобрстений и открытий при Совете Министров СССР
Москва, Центр, М. Черкасский пер., д. 2/6.
Типография ЦБТИ,. Москва, Петровка, L4.. ческой системы и использования одного и того же участка поверхности фотоэлемента.. Кроме того, при использовании монохроматоров оказывается возможным оценивать с высокой степенью точности спекгральные коэффициенты отражения высокоотражающих слоев.