Способ определения поглощающей способности вещества для осколков деления атомных ядер

Способ определения поглощающей способности вещества для осколков деления атомных ядер

Реферат

Способ определения поглощающей способности вещества для осколков деления атомных ядер, включающий регистрацию осколков деления одновременно двумя детекторами, один из которых - ионизационная камера, на катод которой нанесен слой спонтанно делящегося вещества, нанесение слоя исследуемого вещества поверх спонтанно делящегося и повторную регистрацию осколков деления обоими детекторами, отличающийся тем, что, с целью удешевления, упрощения и повышения производительности способа, в качестве второго детектора используют полупроводниковый детектор, рабочая поверхность которого является катодом ионизационной камеры, определяют отношение ₁ числа осколков, зарегистрированных одновременно обоими детекторами, к числу осколков, зарегистрированных только полупроводниковым детектором, определяют аналогичное отношение ₂ после нанесения слоя исследуемого вещества, а поглощающую способность этого вещества по отношению к осколкам деления определяют по формуле