Способ контроля качества изображения оптических и оптико- электронных систем

Способ контроля качества изображения оптических и оптико- электронных систем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - упрощение способа. Пучок света, формируемый осветителем 1, направляется на щелевую диафрагму 4. Изображение щелевой диафрагмы 4 строится коллимирующим объективом 6 и испытуемым объективом 34 в плоскости анализа, которая переносится микрообъективом 7, в плоскость диска 8 анализатора. Растровые решетки, нанесенные на диск 8 анализатора, вращаемого приводом 9, последовательно проводят пространственную фильтрацию изображения щелевой диафрагмы. Измерительные и нормирующая гармонические составляющие выделяются блоком 11 выделения измерительных и нормирующей гармонических составляющих. Амплитуды измерительных составляющих сравниваются с амплитудой нормирующей гармонической составляющей в блоке 21 обработки сигналов. Результат сравнения, связанный с коэффициентом передачи модуляции контролируемого объектива 34, индицируется блоком 27 индикации. 1 з.п.ф-лы, 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР 1 (2 i ) 4155879/24-10 (22) 14 ° 10,86 (46) 07. 11.89. Бюл. Р 41 (72) Т.М.Айсин, А.В,Подобрянский и Ф.П.Хлебников (53) 535.818 (088,8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 779837, кл. С 01 М 11/02, 1978.

1 (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИЗОБРАЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ И ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННЬИ СИСТЕМ (57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения— упрощение способа. Пучок света, формируемый осветителем 1, направляется на щелевую диафрагму 4. Иэображение щелевой диафрагмы 4 строится коллимирующим объективом 6 и испытуемым объ бр 4 G 01 М 11/00 // G 01 H 11/02

2 .ективом 34 в плоскости анализа, которая переносится микрообъективом 7 в плоскость диска 8 анализатора. Растровые решетки, нанесенные на диск 8 анализатора, вращающемого приводом 9, последовательно проводят пространственную фильтрацию изображения щелевой диафрагмы. Измерительные и нормирующая гармонические составляющие выделяются блоком 11 выделения измерительных и нормирующей гармонических составляющих. Амплитуды измерительных составляющих сравниваются с амплитудой нормирующей гармонической составляющей в блоке 21 обрабо тки сигналов.

Результат сравнения связанный с коэфS фицйентом передачи модуляции контролируемого объектива 34, индицируется блоком 27 индикации, 3 ил.

1520373

Изобретение относится к измерительной технике, может быть использовано для измерения коэффициентов передачи модуляции различных оптичес5 ких систем, например объективов.

Целью изобретения является упрощение способа.

На фиг. i представлена функциональная схема устройства для реализа- 10 ции способа; на фиг. 2 — диск анализатора; на фиг. 3 - временные диаграммы сигналов, формируемых на выходах отдельных блоков.

Устройство содержит оптически свя- 15 занные осветитель 1, состоящий из лампы 2 и конденсатора Э, щелевую диафрагму 4, блок 5 формирования изображения щелевой диафрагмы, состоящий из коллимирующего объектива б, микрообъектива 7, диск 8 анализатора, привод 9, связанный с диском 8 анализатора, фотоприемник 10, блок 11 выделения измерительных и нормирующей гармонических составляющих, состоящий 25 иэ полосовых фильтров 12 — 14, входы которых подключены к фотоприемнику 10, детекторов 15 — 17 входы которых подключены к выходам полосовых фильтров 12 — 14, фильтров 18 — 20; нижних частот; блок 21 обработки сигналов, состоящий иэ переключателя 22, потенциометров 23 и 24, подключенных к фильтру 18 нижних частот, компаратора 25, входы которого подключены к выходу потенциометра 24 и фильтра

19 нижних частот, компаратора 26, входы которого подключены к выходу потенциометра 23 и переключателю 221 блок 27 индикации состоящий из свеЭ

40 тодиодов 28 и 29, подключенных к выходам компараторов 25 и 26.

На диске анализатора нанесены измерительные решетки 30 — 33. Контролируется объектив 34.

Устройство работает следующим образом.

Иэображение тела накаливания лампы 2, входящей в осветитель 1, проецируется конденсатором 3 на щелевую диафрагму 4.

Коллимирующий объектив 6, входящий в блок 5 формирования изображения ще-! левой диафрагмы, формирует параллельный пучок лучей, который фокусируется объективом 34 в плоскости анализа, который переносится микрообъективом

7 в плоскость диска 8 анализатора, вращаемого приводом 9.

Измерительные решетки 30 — 33, нанес нны на кольцевую дорожку диска 8, анализатора, приводят пространственную фильтрацию изображения щелевой диафрагмы 4.

Световые потоки, промодулированные измерительными решетками 30 — 33 подают на фотоприемник 10, формирующий электрический сигнал сложного спектра, частоты спектральных составляющих которого определяются пространственными частотами измерительных решеток 30 — 33, нанесенных на диск 8 анализатора, а также протяженностью нанесения измерительных решеток 30—

33 и расстояниями между ними.

Спектральные составляющие электрического сигнала, снимаемого с фотоприемника 10, выделяются полосовыми 12 — 14, входящими в блок 11 выделения измерительных и нормирующей гармонических составляющих, детектируются детекторами 15 — 17, сглаживаются фильтрами 18 — 20.

На выходе фильтров 19 и 20 нижних частот формируется напряжение, пропорциональное коэффициенту передачи модуляции на соответствующей измерительной пространственной частоте.

На выходе фильтра 18 нижних частот формируется напряжение, пропорциональное коэффициенту передачи модуляции на нормирующей пространственной частоте, близкой к нулевой.

Пространственные частоты измерительных решеток 30 - 33 определяются периодом их нанесения на диск 8 анализатора. Пространственные частоты измерительных решеток 30 — 33 не равны друг другу и отличаются друг от друга, например, в два раза, что позволяет выделить соответствующие измерительные сигналы полосовыми фильтрами 13 и 14. На фиг. 1 условно показаны лишь два полосовых фильтра 13 и 14, Нормирующая пространственная частота определяется протяженностью нанесения измерительных решеток и расстоянием между решетками, т. е. периодом нанесения измерительных решеток. Дополнительной дорожки с нанесенной нормирующей частотой нет. Нормирующий сигнал формируется из измерительных сигналов. Амплитуда нормирующего сигнала связана с усредненным значением постоянных составляющих из73 нижних частот, что не изменяет реэуль-ат контроля.

Ф о р и у л а и э о б р е т е н и я

ЗО

С ос тав итель Г. Гатилин а

Корректор В,Кабаций

Редактор Н.Лазаренко Техред Л.Сердюкова

Заказ Ü748/43 Тираж 789 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4(5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина, 101

5 15203 мерительных сигналов, а частота — с числом измерительных решеток и их прост ранственным расположением (фиг. 3) .

Сигнал с выхода фильтра 18 нижних частот поступает на потенциометры 23 и 24, входящие в блок 21 обработки сигнала. С выходов потенциометров 23 и 24 нормирующие сигналы поступают на первые входы компараторов

25 и 26, на вторые входы которых поступают измерительные сигналы с фильтра 19 нижних частот и с выхода переключателя 22, с помощью которого осуществляется выбор верхней измеритель- 11 ной частоты.

При величине измерительных сигналов меньше опорных сигналов, величина которых задается потенциометрами

23 и 24, срабатывают компараторы 23 и 24, формирующие сигналы порогового допускового контроля величины коэффи-. циентов передачи модуляции, которые индицируются светодиодами 28 и 29, входяшими в блок 27 индикации.

При изменении яркости лампы 2, светопропускания объектива 34, чувствительности ФЭУ 10 происходит одновременное изменение сигналов на выходах нормирующего и измерительного каналов, выходах фильтров 18 — 20

Способ контроля качества изображения оптических и оптико-электронных систем, заключающийся в том, что формируют изображение протяженного тестобъекта на входе контролируемой системы, проводят пространственную фильтрацию иэображения тест-объекта на выходе контролируемой системы на измерительной и нормирующей частотах с одновременным преобразованием в электрический сигнал, выделяют нормирующую и измерительные гармонические составляющие электрического сигнала, по соотношениям амплитуд которых судят о качестве контролируемой системы, отличающийся тем, что, с целью упрощения, пространственную фильтрацию изображения тест-объекта на измерительных частотах проводят последовательно, а электрический сигнал формируют в виде пачек импульсов, нормирующую частоту формируют как огибающую пачек измерительных сигналов, а период формирования пачек импульсов равен удвоенной длительности пачек импульсов.