Устройство для поиска дефектов цифровых блоков

Устройство для поиска дефектов цифровых блоков

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике, а именно к устройствам контроля работоспособности и поиска дефектов цифровых узлов и блоков. Целью изобретения является расширение класса контролируемых изделий за счет включения в число контролируемых изделий блоков с элементами памяти. Устройство содержит блок 1 формирования тестовых воздействий, блок 2 памяти, коммутатор 3, блок 4 сравнения, блок 5 индикации, блок 6 управления. Кроме того, устройство содержит проверяемый блок 7 и коммутатор 8 с соответствующими функциональными связями. 1 з.п.ф-лы, 4 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛ ИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51) 4 6 06 Р 11/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМ,Ф СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТ8ЕННЫИ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

1 (21) 42 19959/24-24 (22) 31.03.87 (46) 07. 11.89. Бюл. У 41 (72) A.Ë.Колпаков, Т. Л.Курылева, А.Т.Тяжев и В.Т.Тяжев (53) 68 1.3 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N 1149779, кл. G 06 F 11/26, 1983.

Авторское свидетельство СССР

В 962957, кл. G 06 F 11/ 16, 1982. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОИСКА ДЕФЕКТОВ

ЦИФРОВЫХ БЛОКОВ (57) Изобретение относится к автома-. тике и вычислительной технике, а

„„SU„„1520519 A1

2 именно к устройствам контроля работоспособности и поиска дефектов цифровых узлов и блоков. Целью изобретения является расширение класса контролируемых изделий за счет включения в число контролируемых иэделий блоков с элементами памяти. Устройство содержит блок 1 формирования тестовых воздействий, блок 2 памяти, коммутатор 3, блок 4 сравнения, блок 5 индикации, блок 6 управления. Кроме того, устройство содержит проверяемый блок

7 и коммутатор 8 с соответствующими функциональными связями. 1 з.п. ф-лы, 4 ил.

1520519

Изобретение относится к автоматике и вычислительной технике, а именно к устройствам контроля работоспособности и поиска дефектов цифровых узлов и блоков.

Целью изобретения является расширение класса контролируемых изделий за счет включения в число контролируемых изделий блоков с элементами памяти.

На фиг. 1 представлена схема устройства; на фиг,2 — схема блока управления; на фиг.3 — схема блока формирования тестовых воздействий; на фиг.4 — вид тестов поиска дефектов для комбинационных и последовательных схем.

В тесте дефектов для комбинационных схем (фиг.4а) использованы следу- 20 ющие обозначения: КТ вЂ” коммутационный тест, ККТ вЂ” метка конца КТ, ТН— тестовый набор, КТН вЂ” метка конца ТН, ОТН вЂ” область ТН (включает в себя ТН и KTh), КИД вЂ” метка конца идентифи- 25 катора, KHPli — метка конца перемотки, ОИД вЂ” область идентификатора (включает в себя ТН, КТН, ОТН, КИД, КПРИ), КТПД вЂ” метка конца теста поиска дефектов.

В тесте поиска дефектов для последовательных схем, (фиг.4б) кроме приведенных на фиг.4а обозначений, используются следующие: КТН1 - метка конца ТН, ОУ вЂ” область установки (включает в себя ТН и КТН1), ОИД включает в себя

ТН, КТН, КТН1, ОТН, ОУ„ КИД, KHPN.

Устройство (фиг. 1) содержит блок

1 формирования тестовых воздействий, блок 2 памяти, коммутатор 3, блок 4 сравнения, блок 5 индикации, блок 6

40 управления. Кроме того, на фиг,1 изображены проверяемый блок 7 и коммутатор 8.

Блок 6 управления (фиг. 2) содержит триггер 9, дешифратор 10, триггеры

11 и 12, клавиши 13 ".Пуск" и 14 "Продолжение", счетчик 15, блок 16 элементов И, элемент НЕ 17, элемент И

18, элементы 19-21 задержки, элементы ИЛИ 22-26.

Блок 1 (фиг.3) содержит постоянный запоминающий узел (ПЗУ) 27, счетчик

28, триггер 29, элементы 30-35.задержки, генератор 36 импульсов, регистр 37, элементы ИЛИ 36-41, элементы И 42-44, элемент НЕ 45.

Блок 1 формирования тестовых воздействий предназначен для ввода с

ПЗУ коммутационного теста, тестовых наборов и командой информации. С группы выходов блока 1 на вход блока 6 управления выдается коммутационный тест, информация о режимах работы устройства, с группы информационных выходов блока 1 на вход блока 2 памяти выдаются тестовые наборы, с выхода разрешения записи блока 1 на вход блока 2 памяти выдается сигнал разрешения записи тестового набора.

Блок 2 памяти предназначен для хранения тестовых наборов. С первой группы информационных выходов блока 2 памяти на вход блока 4 сравнения вы-. даются ожидаемые ответйые реакции . проверяемого блока 7, с второй группы информационных выходов блока 2 памяти на вход коммутатора 3 выдаются тестовые наборы.

Коммутатор 3 предназначен для разделения контактов проверяемого блока

7 на входные и выходные.

Блок 4 сравнения обеспечивает сравнение реакций, получаемых с выходов проверяемого блока 7 и ожидаемых ответных реакций,,хранящихся в блоке 2 памяти. С выхода несравнения блока 4 сигнал несравнения поступает на вход блока 6 управления.

Блок 5 индикации предназначен для индикации номера класса дефектов, присутствующих в проверяемом блоке 7, а также сообщения об отсутствии дефектов в проверяемом блоке и об окон- чании процесса диагностирования.

Блок б управления организует работу всех блоков устройства. С вы- . ходов блока 6 управления на вход блока 1 выдается командная информация; на вход коммутатора 3 выдается коммутационный тест, на вход .блока

5 индикации выдаются номера классов дефектов; на вход блока 5 индикации выдается сигнал разрешения индикации сообщения об отсутствии дефектов в проверяемом блоке и об окончании процесса диагностирования, на. управляющий вход коммутатора 8 поступает сигнал, коммутирующий сигнал сравнения ответной реакции проверяемого блока 7 с ожидаемой на вход блока 2 памяти поступает сигнал, разрешаюший считывание тестового набо.— ра и подачу ceo на проверяемый блок, Коммутатор 8 предназначен для разрешения или запрещения прохождения команды разрешения сравнения с блока

519 6

2S

5 1520

6 управления на. вход блока 4 сравнения.

Устройство работает следующим образом.

По команде с блока 6 управления из блока 1 в блок 6 управления подается коммутационный тест, согласно которому блок 6 управления производит с помощью коммутатора 3 подключение внешних контактов проверяемого блока

7 к выходам блока 2 памяти и к входам блока 4 сравнения. Затем по команде с блока 6 управления из блока 1 в блок 2 памяти записывается первый тестовый набор первого идентификато" ра и ответная реакция, соответствующая реакции проверяемого блока 7 при наличии в нем дефекта данного класса.

По команде с блока 6 управления тестовый набор иэ блока 2 памяти через коммутатор 3 поступает на вход проверяемого блока 7. Ответная реакция проверяемого блока 7 через коммутатор 3 подается на вход блока 4 сравнения. Одновременно на другой вход блока 4 сравнения из блока 2 памяти гоступает ожидаемая ответная реакция е

Дальнейшая работа устройства зависит от того, каким является тестовый набор — проверяющим или установочным. В тесте поиска дефектов схем беэ элементов памяти используются только проверяющие тестовые наборы.

Необходимость установочных тестовых наборов в тесте поиска дефектов схем с элементами памяти объясняется тем, что для перехода от одного проверяемого тестового набора к другому нужно, в общем случае, провести проверяемый блок 7 через несколько внутренних состояний. При переходе по тес товому набору из одного такого промежуточного состояния в другое нет необходимости сравнивать реакции, поскольку такие тестовые наборы используются. только для установки проверяемого блока 7 в требуемое внутреннее состояние.

Если тестовый набор является проверяющим, то сигнал с блока 6 управления поступает на коммутатор 8, разрешая прохождение управляющего сигнала с блока 6 управления в блок 4 сравнения. Поступивший сигнал разрешает сравнение реакций проверяемого блока 7 с ожидаемыми. В случае несовпадения реакций, блок 4 сравнения формирует сигнал несравнения, который поступает на блок 6 управления. Появление сигнала несравнения говорит о том, что в проверяемом блоке 7 отсутствуют дефекты данного класса. В этом случае блок 6 управления вьдает команду на блок 1 для перехода к проверке следующего идентификатора, после чего описание действия повторяется. В случае отсутствия сигнала несравнения с блока 4 сравнения череэ время, равное такту диагностирования, блок 6 управления вьдает команду на ввод следующего тестового набора данного идентификатора.

Если тестовый набор является установочным, то сигнал с блока 6 управления поступает на коммутатор 8, запрещая прохождение управляющего сигнала с блока 6 управления на блок

4 сравнения. В этом случае сигнал. несравнения отсутствует и блок 6 управления через время, равное такту диагностирования, вьдает команду на ввод следующего тестового набора данного идентификатора. Если проверяемый блок проверен уже на всех тестовых наборах идентификатора, а сигнал несравнения так и не появился, то в этом случае в проверяемом блоке 2 присутствует один из дефектов проверяемого класса дефектов и блок 6 управления при попытке считать следующий тесто- вый набор, определив конец идентификатора, вырабатывает команду разрешения индикации номера класса дефектов в блоке 5 индикации. По номеру класса дефектов определяется и устраняется дефект, после чего работа устройства повторяется до полного. устранения всех дефектов.

Блок 6 управления работает следующим образом.

Процесс диагностирования начийается нажатием клавиша "Пуск" 13. В результате обнуляется счетчик 15, устанав.— ливаются в ноль триггеры 11 и 12 и вырабатывается сигнал ЗПКТ вЂ” запись коммутационного теста. С выхода триггера 12 нулевой сигнал поступает на управляющий вход блока 16 элементов

И, запрещая индикацию содержимого счетчика 15 в блоке 5 индикации. Сигнал ЗПКТ разрешает передачу КТ— коммутационного теста с блока 1 на блок 6 управления, в результате чего КТ через дешифратор 10 поступает на вход коммутатора 3. КТ содержит

1520519 информацию о входных и выходных контактах проверяемого блока .7, согласно которой коммутатор 3 подключает входные контакты к выходам блока 2

5 памяти, а выходные — к входам блока

4 сравнения.

При считывании метки ККТ вЂ” конец коммутационного теста, записанной в конце КТ, дешифратор 10 выдает соответствующий сигнал ККТ, который увеличивает на единицу содержимое счетчика 15, а также через время, определяемое элементом 19 задержки, формирует на выходе элемента ИЛИ 24 единичный сигнал ЗПТН вЂ” запись тестового набора, который разрешает. считывание и передачу одного тестового набора в блок 2 памяти.

По прочтении метки КТН (КТН1) на выходе дешифратора 10 формируется соответствующий сигнал КТН (КТН1), который поступает на первый (второй) вход триггера 9, а также через элемент ИЛИ 23 на входы элементов ИЛИ 26 25 и задержки 20. При этом на выходе элемента ИЛИ 26 формируется единичный сигнал КОНТ1, который поступает на блок 2 памяти, разрешая подачутестового набора на проверяемый блок

7. Затем через время, необходимое для формирования на выходе проверяемого блока 7 ответной реакции и определяемое элементом 20 задержки, единица поступает на элементы ИЛИ 25 и задержки 21. При этом на выходе

35 элемента ИЛИ 25 формь„„ ется единица, которая поступает как сигнал КОНТ2 на вход коммутатора 8, а также поступает на вход элемента ИЛИ 26 для под- 4 держания единицы на выходе КОНТ1. .Затем через элемент 21 задержки, рассчитанный на .время сравнения реакций и предназначенный для устранения ложных срабатываний,- единичный сигнал поступает на вход элементы И 18, подготавливая путь для прохождения чеI рез него сигнала НСРВ - несравнения, и на вход элемента И 25 для поддержания единицы на выходах KOHTt, КОНТ2 ° .Результат сравнения может быть

S0 двояким, рассмотрим оба случая.

При совпадении ответной реакции с ожидаемой или при запрете на сравнение на вход НСРВ с блока 4 сравнения поступает нулевой сигнал. В этом случае на выходе элемента НЕ 17 присутствует единица, которая в момент времени, определяемый элементом

21 задержки, через элемент ИЛИ 25 выдает разрешение на считывание и прием очередного ТН.

Если ответная реакция не совпала с ожидаемой, то с блока 4 сравнения на вход НСРВ поступает единичный сигнал. В результате на выходе элемента НЕ 17 устанавливается ноль, который запрещает считывание очередного тестового набора, и выдается сиг-нал ПРИ на блок t, что приводит к пропуску оставшихся ТН данного идентификатора. Необходимость пропуска ТН объясняется тем, что в,результате несравнения реакций доказано отсутствие в проверяемом блоке 7 дефектов из соответствующего данному идентификатору класса дефектов, следовательно, нет необходимости подавать оставшиеся ТН идентификатора.

При считывании метки КПРИ с блока

1 через дешифратор 10 выдается сигнал

КПРИ, действие которого аналогично действию сигнала ККТ.

Если посла очередной попытки ввести ТН считана метка КИД вЂ” конец идентификатора, то дешифратором tO вырабатывается соответствующий сигнал

КИД, который устанавливает в единицу триггер 12. С выхода триггера 12 единичный сигнал поступает на вход блока элементов И 16, разрешая индикацию номера класса дефектов, поступающего из счетчика, 15 в блок 5 индикации.

После устранения обнаруженного дефекта процесс диагностирования может быть продолжен путем нажатия клавиша

"Продолжение" 14. В результате обеспечиваются действия по считыванию очередного тестового набора и устанавливается в ноль триггер 12.

Если тест поиска дефектов прошел до конца, т.е. считана метка КТПД, то дешифратором .10 вырабатывается сигнал КТПД, который устанавливает в единицу триггер tt. С выхода триггера

11 единичный сигнал ИНД поступает в блок 5 индикации, разрешая индикацию информации об отсутствии дефектов в проверяемом блоке 7 и об окончании : процесса диагностирования.

Блок 1 формирования тестовых воздействий работает следующим образом.

Сначала в блок устанавливается

ПЗУ 27 с тестом поиска дефектов.

Затем на вход блока поступает сигнал ЗПКТ. Сигнал ЗПКТ поступает через элемент ИЛИ 38 на генератор им1520519 пульс ов 36 и останавливает его, а также поступает через элемент ИЛИ 38 на триггер 29, устанавливая его в единицу, и поступает на элемент 30 задержки. Единичный сигнал с выхо5 да триггера 29 поступает на вход элемента И 44, разрешая прохождение через него меток к блоку 6 управления, и на вход элемента И 42, подготавливая условия для формирования на его выходе единичного сигнала. Затем через время, необходимое для установки триггера 29, генератора импульсов 36 и определяемое элементом.30 задержки, 15 единичный сигнал поступает на счетчик адреса 28, устанавливая его в ,ноль, а также на элемент 31 задержки.

Затем через время, необходимое для установки нулевого адреса на выходе . 20

АДР счетчика 28 адреса и определяемое элементом 31 задержки, единичный сигнал поступает через элемент ИЛИ

41 на вход СЧ вЂ” считывание ПЗУ 27, вызывая считывание КТ, а через эле- 25 мент ИЛИ 39 на вход элемента 32 задержки, а также на вход элемента 34 задержки.

Затем через время, необходимое для формирования КТ на информационных выходах ПЗУ 27 и определяемое элементом 34 задержки, на выходе элемента 34 задержки появляется единичный сигнал ЗРКГ, по которому происходит запись КТ в регистр 37 коммутации. Через время, необходимое для осуществления считывания-записи КТ и .определяемое элементом 32 задержки, .единичный сигнал поступает на вход элемента ИЛИ 40. С выхода элемента

ИЛИ 40 единичный сигнал поступает на вход "+1", счетчика 28 адреса, увеличивая его содержимое на единицу, и на вход элемента 33 задержки. Затем через время, необходимое для изменения адреса на выходе АДР счетчика адреса 28 и определяемое элементом 33 задержки, единичный сигнал поступает через элемент ИЛИ 41 на вход

СЧ ПЗУ 27, вызывая считывание метки

ККТ вЂ” конец коммутационного теста, и на элемент И 42. При считывании любой метки из ПЗУ 27 единица поступает на вход элемента НЕ 45, с выхода которого ноль запрещает формирование

55 единичного сигнала на выходе элемента И 42. Метка ККТ поступает для анализа в блок 6 управления.

Затем на входе ЗПТН вЂ” запись тестового набора появляется единичный сигнал, который поступает на вход

"+1" счетчика 28 адреса, увеличивая

его содержимое, и на вход элемента

33 задержки. Затем через время, необходимое для изменения адреса на выходе АДР счетчика 28 адреса и определяемое элементом 33 задержки, единичный сигнал поступает через элемент ИЛИ 41 на вход СЧ ПЗУ 27, вызывая считывание ТН вЂ” тестового набора. Считывание ТН сопровождается появлением нуля на входе элемента НЕ 45, с выхода которого единица поступает на вход элемента И 42. При этом на выходе элемента И 42 формируется единичный сигнал, который поступает на элемент 35 задержки, а также через элемент ИЛИ

39 на элемент 32 задержки. Затем через время, необходимое для формирования ТН на информацйонных выходах ПЗУ

27 и определяемое элементом 35 задержки, на выходе элемента 35 задержки появляется единичный сигнал РЗЗП, по которому происходит запись ТН в блок 2 памяти.

Затем через время, определяемое элементом 32 задержки, единичный сигнал увеличивает на единицу содержимое счетчика 28 адреса с последующим формированием сигнала СЧ, обеспечивая тем самьж считывание метки

КТН (КТН1), которая поступает для анализа в блок 6 управления.

Приход на вход блока сигнала ПРМ вызывает установку триггера 29 в ноль, а также..запуск генератора 36 импульсов, сигналы с выхода которого обеспечивают последовательное считывание информации из ПЗУ 27 до появления метки KIIPY.. При этом нулевой сигнал с выхода триггера 29 поступает на вход элемента И 42, запрещая формирование сигналов РЗЗП и на элемент

И 44, запрещая прохождение через него меток к блоку 6 управления. Считывание с ПЗУ 27 метки КПРИ вызывает по- явление на выходе элемента И 43 единичного сигнала, который проходит через элемент ИЛИ 38 и останавливает генератор 36 импульсов, а также устанавливает триггер 29 в единицу.

Единица с выхода триггера 29 поступает на элемент И 42, подготавливая условия для формирования сигнала

РЗЗП, и на элемент И 44 и разрешает

1520519

12 прохождение через него метки КПР11 из ПЗУ 27 в блок 6 управления.

Формула изобретения

1. Устройство для поиска дефектов цифровых блоков, содержащее блок формирования тестовых воздействий, блок памяти, блок сравнения, блок индикации, блок управления и первый коммутатор, причем первая группа информационных выходов, блока формирования тестовых воздействий соединена с группой информационных входов блока памяти, вход разрешения считывания которого,соединен с первым выходом блока управления, группа входов за-, дания режима которого соединена с второй группой информационных выходов блока формирования тестовых воздействий, группа синхронизируюцих входов которого соединена с первой группой выходов блока управления,,вход условия несравнения которого. соединен 25 с выходом несравнения блока сравнения, первая группа информационных входов которого соединена с первой группой информационных выходов блока памяти, вторая группа информационных З0 выходов которого соединена с первой группой информационных входов первого коммутатора, группа управляющих входов которого соединена с второй группой выходов блока управления, третья группа выходов которого соединена с группой инфор1:.:ционных входов блока индикации, вторая группа..информационных входов блока сравнения соединена с первой группой информационных выходов первого коммутатора, вторые группы информационных входов и выходов которого являются соответственно группой входов и группой выходов устройства для подключения к контролируемому цифровому. блоку, причем блок управления содержит два элемента ИЛИ, элемент И, два элемента задержки, элемент НЕ, клавиш "Пуск", клавиш "Продолжение" и дешифратор, гру.ппа входов которого является группой входов задания режима блока управления, первая группа выходов дешифратора является второй группой выходов блока управления, вход условия несравнения которого соединен с вхо55 дом элемента НЕ и с первым выходом первой группы выходов блока управления, выход элемента НЕ соединен с первым входом элемента И, второй вход которого соединен с выходом первого элемента задержки, вход которого сое— динен с выходом второго элемента задержки, выход элемента И соединен с первым входом первого элемента ИЛИ, выход которого соединен с вторым выходом первой группы выходов блока управления, выход клавиша Пуск соединен с первым входом второго элемента

ИЛИ и с третьим выходом первой группы выходов блока управления, о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что, с целью расширения класса контролируемых изделий, в устройство введен второй коммутатор, управляющий вход которого соединен с вторым выходом блока управления, третий выход которого соединен с первым информационным входом второго коммутатора, второй информационный вход которого соединен с шиной потенциала логического нуля, четвертый выход блока управления со" единен с входом разрешения индикации блока индикации, выход второго коммутатора соединен с входом разрешения сравнения блока сравнения, выход разрешения записи блока формирования тестовых воздействий соединен с входом разрешения записи блока памяти, причем в блок управления введены три триггера, счетчик, блок элементов И, третий элемент задержки, три элемента ИЛИ, причем первый выход дешифратора соединен с входом установки в "1" первого триггера, выход которого является четвертым выходом блока управления вхоц установки в "0" первого триггера соединен с выходом клавиша 1 Пуск 1 и с входом сброса счетчика, второй выход дешифратора соединен с входом установки в " 1" второго триггера, вход установки в "0" которого соединен с выходом второго элемента ИЛИ, третий выход дешифратора соединен с тактовым входом счетчика и с входом третьего элемента задержки, выход . которого соединен с вторым входом первого элемента ИЛИ, выход клавиша

"Продолжение соединен с третьим входом первого элемента ИЛИ и с вторым входом второго элемента ИЛИ,группа выходов счетчика соединена с группой входов блока элементов И, вход которого соединен с прямым выходом второго триггера, третья группа выходов блока управления соединена с

1520519

1О группой выходов блока элементов И, четвертый выход дешифратора соединен с первым входом третьего элемента

ИЛИ и с входом установки в "1" треть5 его триггера, второй вход третьего элемента ИЛИ соединен с пятым выходом дешифратора и с входом установки в

"0" третьего триггера, выход третьего элемента ИЛИ соединен с первым входом четвертого элемента ИЛИ и с входом второго элемента задержки, выход которого соединен с первым входом пятого элемента ИЛИ, второй вход которого соединен с выходом 15 первого элемента задержки, выход пятого элемента ИЛИ соединен с вторым входом четвертого элемента ИЛИ и с третьим выходом блока управления, первый выход которого соединен с вы.ходом четвертого элемента ИЛИ, вто рой выход блока управления соединен с прямым выходом третьего триггера.

2. Устройство по п. I о т л и— ч а ю щ е е с я тем, что блок фор- мирования тестовых воздействий содержит постоянный запоминающий узел, счетчик, триггер, шесть элементов задержки, генератор импульсов, регистр, четыре элемента ИЛИ, три элемента И, элемент НЕ, причем первый вход группы синхронизирующих входов блока соединен с входом запуска генератора импульсов и с входом установки в "0" триггера, выход которого соединен с

35 первыми входами первого н второго элементов И, второй вход группы синхронизирующих входов блока соединен с первым входом первого элемента ИЛИ и с входом первого элемента задерж- 40 ки, выход которого соединен с входом второго элемента задержки и с входом сброса счетчика, выход первого эле- мента ИЛИ соединен с входом установки в "1" триггера и с входом остановки генератора импульсов, выход которого соединен с первым входом второго элемента ИЛИ, второй вход которого является третьим входом группы синхрониэирующих входов блока выход второго элемента задержки соединен с первыми входами третьего и четвертого элементов ИЛИ и с входом третьего элемента задержки, выход которого соединен с входом разрешения записи регистра, выход четвертого элемента

ИЛИ соединен с входом четвертого элемента задержки, выход которого соединен с третьим входом второго элемента ИЛИ, выход которого соединен с тактовым входом счетчика и с входом пятого элемента задержки, выход которого соединен с вторым входом третьего элемента ИЛИ и с вторым входом первого элемента И, выход которого соединен с вторым входом четвертого элемента ИЛИ и с входом шестого элемента задержки, выход которого является выходом разрешения записи блока, выход третьего элемента ИЛИ соединен с .входом считывания постоянного запоминающего узла, группа адресных входов которого соединена с группой выходов счетчика, группа выходов постоянного эапомннающего узла соединена с группой входов третьего элемента И, с группой информационных входов регистра и является первой группой информационных выходов блока, выход постоянного запоминающего узла соединен с вторым входом второго элемента И, с входом третьего элемента

И, с входом элемента НЕ, выход которого соединен с третьим входом первого элемента И, выход третьего элемента

И соединен с вторым .входом первого элемента ИЛИ, группы выходов постоянного запоминающего узла, регистра и выход второго элемента И соединены с второй группой информационных выходов блока.

1520519

1520519

ВИЙЕЙ

Составитель И.Иваныкин

Редактор В.Петраш Техред Л.Сердюкова -Корректор А.Обрумар

Заказ 6759/50 . Тираж 668 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101