Способ определения бикомплексных параметров материалов на свч

Способ определения бикомплексных параметров материалов на свч

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения - увеличение точности определения бикомплексных параметров материалов на СВЧ. В устройстве, реализующем данный способ, сигнал СВЧ-генератора 1 через вентиль 2 и СВЧ-переключатель 5 подается либо в канал измерения комплексной диэлектрической проницаемости, либо в канал измерения комплексной магнитной проницаемости. В СВЧ-резонаторах 6 и 7 размещаются либо эталонные, либо исследуемые образцы. Сигналы из измерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступают на формирователь 12 временных интервалов, измеритель 13 мощности и осциллограф 14. После измерения резонансных частот и ширины резонансных кривых осуществляется вычисление искомых параметров. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЬГГИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4268114/24-09 (22) 25.06.87 (46) 15.11.89 Бюл. Р 42 (71) Всесоюзный институт повьппения квалификации руководящих и инженернотехнических работников в области стандартизации, качества продукции и метрологии (72) П.А.Иващенко, В.P.Ôåäîðîâ, З.Ф.Иакаров, P).И.Белоусов и Г.Г.Рахимов (53) 621. 317. 328 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР

Р 573775, кл. С 01 R 27/26, 1976.

Иващенко П.А., Соколов В.М. Измерение электромагнитных параметров ферритов на СВЧ методом сравнения.

ИТ 1976, 9 3, с, 58-60, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ БИКОИПЛЕКСНЫХ ПАРАИЕТРОВ ИАТЕРИАЛОВ НА СВЧ

„„SU„„1522083 А 1 (51) 4 С 01 N 22/00 (57) Изобретение относится к технике измерений на СВЧ. Цель изобретения " увеличение точности определения бикомплексных параметров материалов на

СВЧ. В устройстве, реализующем данный способ, сигнал СВЧ-генератора I через вентиль 2 и СВЧ-переключатель 5 подается либо в канал измерения ком лексной диэлектрической проницаемости, либо в канал измерения комплексной магнйтной проницаемости. В СВЧ-резонаторах 6 и 7 размещаются либо эталон» ные, либо исследуемые образцы. Сигналы из измерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступают на формирователь 12 временных интервалов, измеритель 13 мощности и осциллограф 14. После измерения pesoнансных.частот и ширины резонансных кривых осуществляется вычисление искомых параметров. 1 ил, 1522083

Изобретение относится к технике измерений на СВЧ.

Цель изобретения — увеличение точности

На чертеже приведена электрическая структурная схема устройства, реализующего способ определения бикомплексных параметров материалов на СВЧ.

Устройство содержит СВЧ генератора 1, вентили 2-4, СВЧ переключатель 5, первый СВЧ резонатор 6 для измерения комплексных диэлектрических параметров, второй СВЧ резонатор 7 для измерения комплексных магнитных нара- 5 метров; первый и второй СВЧ детекто" ры 8 и 9, первый переключатель 10, усилитель 11, формирователь временных интервалов 12, измеритель мощности 13, осциллограф 14 с генератором линейно изменяющегося напряжения, эмиттерный повторитель 15, разделительный конденсатор 16, преобразователь частоты 17, частотомер 18, блок 19 вычислительный, источник 20 25 напряжения смещения, второй и третий переключатели 21 и 22.

Способ определения бикомплексных параметров материалов на СВЧ реализуют следующим образом. ЗО

Сигнал СВЧ генератора 1 через вентиль 2 и СВЧ переключатель 5 подает-. ся либо в канал измерения комплексной диэлектрической проницаемости, состоящий из последовательно соединенных СВЧ резонатора 6, вентиля 3 и первого СВЧ детектора 8, либо в канал измерения комплексной магнитной проницаемости, состоящий из СВЧ резонатора 7, вентиля 4 и второго СВЧ 4О детектора 9. В СВЧ резонаторах 6 и 7 могут быть размещены либо эталонные, либо исследуемые образцы.Сигналы из измерительных каналов через переключатель 10 и усилитель 11 поступают 45 на формирователь временных интерва-. лов 12, измеритель мощности 13 и осциллограф 14. При определении резонансных частот и ширин резонансных кривых с помощью частотомера f8 максимальное показание измерителя мощ- . ности 13 поддерживают постоянным,регулируя мощность на выходе СВЧ генератора 1. . При переключении с помощью переключателя 22 устройства в режим час55 тотной модуляции, которая осуществляется от генератора линейно изменяющего напряжения, входящего в состав осциллографа 14, осуществляют измерения ширин резонансных кривых,Формирователь временных интервалов 12 вырабатывает гребенку импульсов, количество которых однозначно определяет ширину резонансной кривой по уровню половинной мощности.

Для коррекции нелинейности модуляционных характеристик реализуют режим калиброванного смещения,подключая к СВЧ генератору 1 с помощью переключателя 21 источник 20 напряжения смещения. При этом уточненная ширина резонансной кривой и

dF = — — -- af

4fñì дfэм где af — измеренная ширина резонансной кривой; и

d f — смещение частоты сигнала, возбуждающего СВЧ резонатор с исследуемым образцом; .э йЕ,„- смещение частоты сигнала, возбуждающего СВЧ резонатор с эталонным образцом.

По измеренным резонансным частотам и уточненным ширииам резонансных кривых с помощью блока 19 вычисляют иско мые параметры.

Формула и э обретения и см — — df д Э

bF где df „ — смещение частоты сигнала, возбуждающего СВЧСпособ определения бикомплексных параметров материалов иа СВЧ,. заключающийся в поочередном внесении эталонного образца с известными параметрами и исследуемого образца в полость

СВЧ-резонатора, возбуждении СВЧ-резонатора, измерении резонансных частот, измерении ширины резонансных кривыхйЕ путем возбуждения СВЧ-резонатора час-тотно-модулированным сигналом, в последующем расчете искомых параметров, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности, ширину резонансной кривой определяют при постоянных уровнях мощности на выходе

СВЧ-резонатора, дополнительно смещают частоту сигнала, возбуждающего СВЧрезонатор, и измеряют ширину резонансной кривой df«, а уточненную ширину

4Р резонансной кривой вычисляют по формуле

1522083

Составитель В. Гончаров

Редактор Н.Горват Техред М.Ходанич Корректор В.Гирняк

Заказ 6952/40

Тираж 789

Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина, 101 резонатор с исследуемым образцом; — смещение частоты сигнала, возбуждающего СВЧ-ре5 эонатор с эталонным образцом;

d — измеренная ширина pesoнансной кривой.