Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем

Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля надежности и отбраковки цифровых интегральных микросхем. Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки. На контролируемую и эталонную микросхемы 4 и 6 одновременной подают напряжение источников 10 и 11 питания и через измерительную головку 3 заданную тестовую последовательность от блока 1 програмного управления и блока 2 кодового воздействия. Преобразователи 7,8 ток-напряжение в шинах питания и вычитающий блок 9 формируют разностный сигнал флуктуаций тока питания обеих микросхем. Измерение мощности флуктуаций разностного сигнала осуществляется до и после нагрева контролируемой микросхемы 4 до максимальнонеразрушающей температуры с помощью микрополосного усилителя 12, регулируемого усилителя 13, квадратичного детектора 14 и усредняющего блока 15. Результат, отображенный на индикаторе 16, сравнивается с заданным значением. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИК (19) (111 во GО1R3128

ОПИСАНИЕ. ИЗОБРЕТЕНИЯ

К ASTOPCHOMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4362188/24-21 (22) 30.11.87 (46) 30.11.89. Бюл. N 44 (72) В.В. Воинов, И.С. Ледовский, В.А. Исаенко и В.В. Кругликов (53) 621 ° 317 ° 779(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 1320778, кл. G 01 R 31/28, 1985. Авторс кое с видетельст во СССР

Н 1420558, кл. С 01 R 3!/28, 1986. (54) СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО

НЕСТАБИЛЬНЫХ ЦИФРОВЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ

МИКРОСХЕМ (57) Изобретение относится к технике неразрушающего контроля и может быть использовано для контроля надежности и отбраковки цифровых интегральных микросхем. Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки. На кон2 тролируемую и эталонную микросхемы

4 и 6 одновременно подают напряжение источников 10 и 11 питания и через измерительную головку 3 - заданную тестовую последовательность от блока 1 программного управления и блока 2 кодового воздействия . Преобразователи 7 и 8 ток - напряжение в шинах питания и вычитающий блок 9 Фор мируют разностный сигнал флуктуаций тока питания обеих микросхем. Измерение мощности флуктуаций разностного сигнала осуществляется до и после нагрева контролируемой микросхемы 4 до максимально неразрушающей температуры с помощью микрополосного ,усилителя 12, регулируемого усилителя 13, квадратичного детектора 14 и усредняющего блока 15. Результат,отображенный на индикаторе 16, сравнивается с заданным значением.

1525637

Изобретение относится к технике неразрушающего контроля, в частности к диагностике цифровых интегральных микросхем, и может быть использовано для контроля их надежности.

Цель изобретения - повышение достоверности отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем за счет выявления дефектов,,t р развивающихся при повышенной температуре.

На чертеже изображена схема устройства для реализации предлагаемого способа. 15

На чертеже приняты следующие обозначения: блок 1 программного управления, блок 2 формирования кодового воздействия, измерительная головка 3, испытуемая цифровая микросхема 4 (ЦМС)yp

Р нагреватель 5, эталонная ЦМС 6 пре= образователи 7 и 8 ток - напряжение, блок 9 вычитания, источники 10 и 11 питания, широкополосный усилитель 12, усилитель 13 с регулируемым коэффици- 5 ентом усиления, квадратичный детектор

14 - усредняющий блок 15; индикатор 16.

Устройство работает следующим об-. разом.

Блок 1 программного управления вы- ЗО полняет функции приема хранения пеУ речня .команд программы контроля и управления.блоком 2 формирования кодового воздействия 2. Последний вырабатывает си гналы кодового воздействия, которые через измерительную головку 3 подаются на испытуемую 4 и

1 эталонную 6 ЦМС. Измерительная головка содержит контролирующие элементы для контролируемой и- эталонной цифро- 4О вых микросхем, необходимые для создания условий контроля (буферные элементы, нагрузка, согласующие, развязывающие или преобразующие элементы) .

От источников 10 и 11 питание подает- 45 ся соответственно на испытуемую 4 и эталонную 6 ЦМС. Одновременно напряжение с преобразователей 7 и 8 подается на блок 9 вычитания, который вырабатывает напряжение прямо пропорци. ональное разности токов потребления

50 обеими микросхемами, Флуктуации напряжения усиливаются широкополосным усилителем 12 и усилителем 13 с регу лируемым коэффициентом усиления.

Регулировка коэффициента усиления 55 обеспечивает нормальную работу квадра" тичного детектора 14, усредняющего блока 15 и индикатора 16. Время усреднения мощности флуктуаций при контроле надежности устанавливается равным времени действия входного кодового воздействия. Для обнаружения неисправной цепи оно равно времени включения цепи после начала действия теста °

Способ осуществляется в следующей последовательности.

На контролируемую и эталонную микросхемы подают напряжение питания и тестовые воздействия. С помощью преобразователей 7 и 8 ток - напряжение и вычитающего блока 9 формируется разность сигналов напряжения, пропорциональных флуктуациям тока потребления микросхем. Измеряют мощность флуктуаций сформированной разности до и после нагрева микросхем до максимально неразрушающей температуры. . Информативным параметром служит разность мощностей флуктуаций, по сравнению которой с заданным значе1 нием производят отбраковку нестабильных микросхем. Возможно осуществление способа и беэ использования эталонной микросхемы, в этом случае вместо разности си гналов напряжения испол ьзуют сигнал пропорциональный флуктуациям тока питания контролируемой микросхемы.

Для определения величины максимально неразрушающей температуры производят следующие операции: заведомо годную микросхему данного типа, считают пороговой, определяют максимально неразрушающую температуру путем снятия зависимости мощности флуктуаций тока питания от температуры.При этом максимально нераэрушающую тем" пературу определяют в момент насыщения зависимости.

Формула изобретения

1. Способ отбраковки потенциально нестабильных цифровых интегральных микросхем, заключающийся в том, что на контролируемую и эталонную интегральные микросхемы одновременно nGдают напряжение питания и входное импульсное воздействие, преобразуют флуктуации тока питания контролируемой и эталонной микросхем в сигналы напряжения, формируют разность сигна-. лов напряжения от эталонной и контролируемой микросхем и измеряют мощСоставитель В. Степанкин

Техред A.Кравчук Корректор О. Ципле

Редактор Т. Парфенова

Заказ 7220/41 Тираж 714 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., и 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул. Гагарина,101

5 1525637

6 ность флуктуаций разности сигналов нагревом и после охлаждения контролинапряжений и выбирают ее в качестве руемой интегральной микросхемы и по информативного параметра, о т л и- результату сравнения разности инфорч а ю шийся тем, что, с целью по- мативных параметров с заданным знавышения достоверности отбраковки по- чением отбраковывают потенциально тенциально ненадежных интегральных нестабильные интегральные микросхемы. микросхем, нагревают контролируемую интегральную микросхему до максималь- 2. Способ по и. 1, о т л и ч а ю- но неразрушающей температуры, и вы- 1р шийся тем, что максимальную недерживают под нагревом заданное вре- разрушающую температуру определяют по мя, охлаждают контролируемую инте- моменту-насыщения температурной загральную микросхему, измеряют инфор- висимости мощности флуктуаций тока мативный параметр, определяют pas- питания эталонной интегральной миность информативных параметров перед 15 кросхемы.