Феррозондовый дефектоскоп

Феррозондовый дефектоскоп

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в машиностроении при определении качества изделий из ферромагнитных материалов. Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет устранения пропуска дефектов и выравнивания чувствительности дефектоскопа. Сигнал от электромагнита 1 преобразуется в напряжение и поступает на управляющие входы селективных усилителей 11 и 12, изменяя их усиление в зависимости от величины намагничивающего поля и тем самым стабилизируя передаточную характеристику. При появлении дефекта он регистрируется последовательно во времени феррозондовыми преобразователями 7 и 8 и через схему ИЛИ 15 поступает на регистратор 17. Так как феррозондовые преобразователи 7 и 8 сдвинуты на расстояние S, то в случае, если дефект будет находиться в зоне чувствительности первого феррозондового преобразователя в момент нулевого значения намагничивающего поля, второго феррозондового преобразователя он достигнет в момент максимального значения намагничивающего поля и будет зарегистрирован. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 N 27 90

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

H А BTOPCHGMV СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4421087/25-28 (22) 01. 02. 88 (46) 07.01.90. Бюл. № 1 (71) Научно-производственное объединение

«Атомкотломаш» (?2) В. К. Колыхалов, Н. П. Симонов и С. H. Хоруженко (53) 620.179.14 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

¹ 521511, кл. 6 01 N 27, 86, 1964.

Авторское свидетельство СССР № 739367, кл. 6 01 N 27/82, 1978. (54) ФЕРРОЗОНДОВЫЙ ДЕФЕКТОСКОП (57) Изобретение относится к неразрушающему контролю и может быть использовано в машиностроении при определении качества изделий из ферромагнитных материалов.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет устранения пропуска дефектов и выравнивания чувст„„SU„„1534385 А 1

2 вительности дефектоскопа. Сигнал от электромагнита I преобразуется в напряжение и поступает на управляющие входы селективных усилителей 11 и 12, изменяя их усиление в зависимости от величины намагничивающего поля и тем самым стабилизируя передаточную характеристику. При появлении дефекта он регистрируется последовательно во времени феррозондовыми преобразователями 7 и 8 и через схему ИЛИ 15 поступает на регистратор 17. Так как феррозондовые преобразователи 7 и 8 сдвинуты на расстояние S, то в случае, если дефект будет находиться в зоне чувствительности первого феррозондового преобразователя в, момент нулевого значения намагничивающего поля, второго феррозондового преобразователя он достигнет в момент максимального значения намагничивающего поля и будет зарегистрирован. i ил.

1534385

Фо рм ул а изобретения

S == V(T(4+ КТ72>, (:()(га вито.ll> I(l I .i li>ков

Рв.анк ri>1> Е3 11с г >;пп 1скрс.(И. !>(Р((K()!>I>(I;тор В Гири я

3;;к(38 1,),)а>к 3>1!3 1!онп иснос

ВНИИПИ осуд(>рс).вснп >го ко»итста ио I, >обрсгснияк(и огкр (тияч пр.-(ГI(ll С.(.Ñ.I>

113()35, Москва, Ж--33. Ра Ikici asi наб., а. 4,, 3

I lI)i ill 3II0 t(TiI klklo- IiI fHTo I ok(иЙ k(o )бина) « l lklò (. III >>, г. >>к(o 1)o 1,. (.1. Гагар>и>а. 1() l

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано в машиностроении при определении качества изделий из ферро»агнитных материалов.

Целью изобретения является повышение достоверности контроля за счет устранения пропуска дефектов и выравнивания чувствительностии дефектоскопа.

На чертеже приведена структурная схема дефектоскопа.

Дефектоскоп содержит последовательно соединенные электромагнит 1, г1реобразователь 2 ток — напряжение, фазосдвигаюгций блок 3, детектор 4 и формирователь 5 сигналов, а также последовательно соединенные генератор 6, феррозондовые преобразователи 7 и 8, измерительные каналы 9 и 10, каждый из которых содержит последовательно соединенные селективные усилители 11 и 12, управляюшие входы которых подключены к детектору 4, и детекторы 13 и 14, схему ИЛИ 15, ключ 16, к управляюшему входу которого подключен выход формирователя 5 сигналов и регистратор 17.

Дефектоскоп работает следук>гцим обPcl 50(».

Электромагнит 1 с размещенными между его полюсами феррозондовыми преобразователями 7. и 8, возбуждаемыми генераторо» 6, перемешается по поверхности контролируемого изделия (не показано). Преобразователь 2 ток — напряжение преобразует намагничиваюший ток в сигнал, поступающий через фазосдвигающий блок 3 на детектор 4, который управляет коэффициентом усиления селективных усилителей 11 и 12.

Одновременно из сигнала детектора 4 формирователь 5 сигнала ...рмирует прямоугольные импульсы, управляющие работой ключа 16.

При наличии дефекта сигнал от него последовательно регистрируется обоими феррозондовыми преобразователями 7 и 8 и после детектирования детекторами 13 и 14 последовательно через схему ИЛИ 15 и ключ

l6 поступает на регистратор 17. При этом, так как феррозондовые преобразователи разнесены на расстояние 5, то при прохождении над дефектами одного из феррозондовых преобразователей в момент, когда напряженность намагничивающего поля близка к нулк>, второй феррозондовый преобразователь проходит над дефектом при

10 максимальном значении намагничиваюгцего поля и регистрирует дефект.

Феррозондовый дефектоскоп, содержа15 щий последовательно соединенные электромагнит и преобразователь ток — напряжение, детектор, последовательно соединенные генератор, феррозондовый преобразователь и измерительный канал, к управляющему входу которого подключен выход детектора, и регистратор, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, он снабжен фазосдвигающим блоком, включенным между выходом преобразователя ток — напряжение и входом детектора, последовательно cîåäèíåííûìè вторым феррозондовым преобразователем, по,ключенным к генератору, вторым измерительным каналом, управляющий вход которого соединен с выходом детектора, схемой ИЛИ, второй вход которой подключен к выходу первого измерительного канала, и ключом, выход которого подключен к регистратору, и формирователем сигналов, включенным между выходом детектора и управляющим входом ключа, а феррозондовые преобразователи установлены на расстоянии S, определяемом по формуле где V — скорость перемещения феррозондовых преобразователей;

4р Т вЂ” период изменения намагничива>ошего поля электромагнита;

К вЂ” число полупериодов.