Способ гранулометрического анализа тонкоизмельченных диэлектрических материалов

Способ гранулометрического анализа тонкоизмельченных диэлектрических материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение может быть использовано для получения кривой распределения частиц непрокаленных коксов тонкого помола по классам крупности и измерения среднего размера частиц в электродном производстве. Цель изобретения - сокращение времени анализа. Между двумя контактными поверхностями, одна из которых электропроводная и выполнена из эластичного материала с тензорезистивным эффектом, располагают монослой контролируемого материала. Сжимают поверхности с определенным усилием, измеряют электрическое сопротивление между отдельными соседними участками эластичной поверхности, определяют гистограмму распределения измеренных электросопротивлений и по ней судят о распределении частиц по размерам. Средний размер частиц определяют по среднему значению измеренных электросопротивлений. 3 ил.

ССНОЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИН

А1 (51)5 С 01 N 15/02

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ HOMHTET

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГННТ СССР (2i) 4334465/23-25 (22) 27.11.87 (46) 15.02.90. Бюл. Р б (71) Запорожский филиал Всесоюзного научно-исследовательского и конструкторского института Цветметавтоматика" (72) А.Н.Тупиков, В.К.Важненко и Н.И.Рогалева (53) 539.215.4(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

Ф 881579, кл. С 01 И 15/02, 1981.

Авторское свидетельство СССР

М 510666, кл. С 01 N 15/02, 1976. (54) СПОСОБ ГРАНУЛОМЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА ТОНК ОИЗМЕЛЬЧЕ1ШЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ МАТЕРИАЛОВ (57) Изобретение может быть использовано для получения кривой распределения частиц непрокаленных коксов тонИзобретение относится к исследованию физических свойств веществ, а именно к способам гранулометрического анализа диэлектрических тонкодисперсных материалов, и может быть использовано для получения кривой распределения частиц непрокаленных нефтяных коксов тонкого помола по классам крупности (по размерам) и измерения среднего диаметра этИх частиц в электродном производстве, а также в угольной, энергетической, химической, горно-рудной отраслях промышленности.

Цель изобретения — сокращение времени анализа.

) „.SU„, 3543301 кого помола по классам крупности и измерения среднего размера частиц в электродном производстве. Цель изоб-, ретения — сокращение времени анализа.

Между двумя контактными поверхностями, одна из которых электропроводная и выполнена из эластичного материала с тензорезистивным эффектом, распо-. лагают монослой контролируемого материала. Сжимают поверхности с определенным усилием, измеряют электрическое сопротивление между отдельными соседними участками эластичной поверхности, определяют гистограмму распределения измеренных электросопротивлений и по ней судят о распределении частиц по размерам. Средний размер частиц определяют па среднему значению измеренных электросопротивлений. 3 ил.

На фиг. 1 изображена картина протекания токов через промежутки эластичной контактной поверхности; на фиг. 2 — устройство для определения рас пределения частиц тонкоизмельченных непрокаленных коксов (с диаметром менее

0,11 мм), реализующее предлагаемый спо соб; на фиг.3 — гистограмма электрическ сопротивлений контролируемых участков эластичной подложки, являющаяся и гисто граммой распределения частиц контролиру емого материала по размерам (сплошная линия — в этом случае по оси абсцисс дс ), рассчитанные интервалы размеров частиц по размерам, полученным микроскопическим методом (штриховая линия).

1543301

Пример картины протекания токов через промежутки 1 эластичной контактной поверхности 2, деформированные частицами 3 контролируемого материала и

5 находящиеся между участками этой поверхности 2, соприкасающимися с токоподводящими контактами 4, которые сЬединены с измерительным прибором представлена на фиг. 1.

Частицы 3 контролируемого материала расположены на неэластичной опорной контактной поверхности 5, выполненной из диэлектрического материала. 15

Картина, показанная на фиг. 1, иллюстрирует принцип работы устройства

Для реализации способа, изображенного

На фиг. 2 и состоящего из датчика 6, ймеющего и-е число контактов 4 (щу- 20 пов) (в данном случае n= 192), соединенных с помощью проводников 7 с разь6мом 8, эластичной проводящей поверхности 2 (электропроводящей резины), опорной контактной диэлектрической 25 поверхности 5, основания 9, прижимного элемента 10 и измерительной схемы

11, соединенной по входам с контактами 12 разъема 8, а по выходу — с вычислительным устройством 13, к выходу которого может быть подключено реГистрирующее и показывающее устройстВо (например, осциллограф или дисПлей).

Способ осуществляется следующим об-3

Разом, Контролируемый тонкоизмельченный диэлектрический материал монослойно располагается на опорной контактной поверхности 5 одним из известных спо- 10 сов (например, встряской). Далее при помощи прижимного элемента 10 с определенным усилием (зависящим от толщины и модуля упругости эластичной контактной поверхности и подбираемым экспериментально) сжимают контактные поверхности 2 и 5 (при этом эластичная поверхность деформируется) и измеряют при помощи измерительной схемы 11 электрические сопротивления 0 между соседними участками эластичной электропроводящей поверхности 2.

Так как эластичная контактная поверхность 2 выполнена из материала, обладающего тензорезистивным эф55 фектом, то удельное (объемное) электросопротивление деформированных промежутков 1 зависит от степени деформации, которая в свою очередь, определяется размером частиц 3, вызывающих деформацию.

Рассмотрим, например, сопротивление между точками а и Ь (R„,) К„,= (Р -др) аЬ, где удельное сопротивление материала до деформации; — изменение удельного сопротивления материала, вызванное а деформацией; — длина отрезка, на котором измеряется сопротивление. выражения для коэффициента тентвительности к=-

Е

Е1 аЬ

Из зочувс

ЛЯ где Я

g Т относительное изменение удельного сопротивления; относительное изменение толщины материала (1 толщина материала до деформации; изменение толщины материала, вызванное деформацией), найдем д1

K1lЛ 1

Яр а

1 или поскольку 81=2r (фиг ° 1, г — радиус частицы 3, вызвавшей деформацию) то

Кр2r

Д

Подставив выражение для ду в (1):

2К

К = р аЬ(1 — — - r)

Ol 1

Обозначая р. ab=R„>, т.е, сопротивление между точками а и Ь (между соседними контактами 4) в случае, если этот участок не деформирован, получаем

2К

К„ =К, (1- -- r), т.е. К,„1,=Й(г).

Сигналы с выхода измерительной схемы 11 поступают на вычислительное устройство 13, которое определяет гистограмму распределения частиц контролируемого материала по размерам и средний размер частиц, выполняя следующие операции: вычиспяет количество сигналов, соответствующих измеряемым сопротивлениям, значения которых попали в заданные интервалы (от К до R, от К

1543301 до R ...., От К, до R. От вычисляет общее количество сигналов, соответствующих измеряемым со— противлениям, значения которых попали в интервал от Е, до К,; находит отношения каждого количества сигналов, соответствующих измеряемым сопротивлениям, значения которых попали в один из заданных интервалов, к общему количеству сигналов, соответствующих измеряемым сопротивлениям, значения которых попали в интервал от Е до 1, т.е. определяет относительные групповые частоты гистограмм распределения измеряемых сопротивлений, являющихся и относительными групповыми частотами гистограммы распределения частиц по размерам; используя уравнение (2), в котором величины К,1 и К заданы, вычисляет границы интервалов распределения частиц по размерам

1. (Ro юь — R;) (3) о с,ь запоминает, выдает на регистрирующее и показывающее устройство гистограмму распределения частиц контроли руемого материала по размерам, у которой относительные групповые частоты равны относительным групповым частотам гистограмм распределения измеряемых сопротивлений, а границы интервалов вычислены по формуле (3); вычисляет среднее значение измеренных сопротивлений; получив среднее значение измеренных сопротивлений 1,Р, используя вы5 ражение (3), вычисляет среднии размер частиц

1- (ось 1 ср ° о с Ь

" Р 2К1

Формула изобретения

Способ гранулометрического анализа тонкоизмельченных диэлектрических материалов, заключающийся в том, что частицы располагают монослойно между двумя контактными поверхностями, одна из которых эластична, и сжимают

20 поверхности с заданным усилием, о т личающийся тем,что,сцелью сокращения времени анализа, измеряют электрическое сопротивление между соседними участками эластичной

25 контактной поверхности, определяют ,гистограмму распределения электри ческого сопротивления между соседними участками эластичной контактной поверхности и по гистограмме судят о кривой распределения частиц по размерам, причем эластичная контактная поверхность выполнена из электропроводящего материала, обладающего тензорезистивным эффектом, а неэластичная контактная поверхность выполнена из диэлектрического материала.

1543301

Составитель М.Рогачев

Техред М.Ходанич Корректор B.Гирняк

Редактор И.Недолуженко

Заказ 396

Тираж 499 Подписное комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

ВНИИПИ Государственного

113035, Производственно-иэдательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул. Гагарина, 101