Патент ссср 156749

Патент ссср 156749

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Р;в 156749

Класс G 01n; 42l 3os

Подписная группа Ж 178

С. М. Сутовский

СПОСОБ О ПРЕДЕЛ ЕИ ИЯ КАт1Е< ТВА О "1ИСТКИ ЗАПЫЛ ЕИИЫХ

ГАЗОВ ЭЛЕКТРОЛ ИТИстЕСКИХ ПРОЦЕССОВ

Заявлено 23 ию,-я .962 г. за ¹ 7686;;6, 23-4 в b,îìèòñò по псла.1 nsn6nnònnn:3;:. открытий нр:1 Совете . 1инистров СССР

Опубликовано в «Бюллетене изобретений и товарных знаков» № 16 за 1963 г.

ИВВестен спосоо Оц-"IIIiII кячестВЯ Очистки Газов QT тВердых частиц путем взвешивания контрольных фильтров, устанавливаемых до и после устройства для очистки.

Описываемый способ оценки качества очистки запыленных газов электролитических процессов отличается от известного большей точностью и меньшей трудоемкостью.

Способ основывается на способности кристаллов Iaлоидных солей щелочных металлов приобретать в результате термической активации

Ооъемныи заряд (IIpH Возможности Вь(ходя электр01!ОВ из l pHOTaë,Ia) .

Термическая активация галоидных солей происходит непосредственно при электролизе расплавов, например при электролитичсском получешш магния.

По предлагаемОму спосооу дВе гязОВые кюВеты с торцоВыми стеклами устанавливаются до и после очистного устройства. Через кюветы и очистное устройство циркулирует газовый поток. На стенках кювет, покрытых пленкой токопроводящих жидкостей (HCI и Н SOI) осаждаются термически актпвированные галоидные со III щелочных мстал.! Ов, которые и .III06pBTaIoT ОоъехIный заряд, я на зяряженный c;Ioll осаж яется слой нейтральных частиц (например, хлорид магния).

Через некоторое время кюветы отключаются и производится измерение оптической плотности стекол фотометром или нефелометром. Для каждой кюВеты измеряется прпмер1!яя запыленность дв1 х стекОл, что усредняет показания.

Степень очистки определяется как отношение оптических плотностей обеих кювет. № 156749

Предмет изобретения

Способ определения качества очистки запыленных газов электролитических процессов с применением очистных устройств, о т л и ч а ющ и Й с я тем, что, с целью повышения точности определения и сокращения времени анализа, определение ведут путем измерения оптических

Ilлотностей I7bIJIeBbIx. рельефов cTCKQJI IIIQBOT, помещенных Qo H Iloc 7е очистного устройства.

Составитель В. Кубасов

Редактор Т. С. Малиновская Текред А. А. Камышникова Корректор Ю. М. Федулова

Подп. к печ. 15/ЧП вЂ” 63 г. Формат бум. 70)(108 /ig Объем 0,18 изд. л.

3ак. 1874/16 Тираж 825 Цена 4 коп.

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2