Способ электрических испытаний дискретных элементов

Способ электрических испытаний дискретных элементов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при электрических испытаниях дискретных элементов автоматики и систем управления, в частности при испытаниях программируемых контроллеров с большим числом входо-выходов. Цель изобретения - повышение экономических электрических испытаний дискретных элементов. Испытуемый элемент нагружается током от высоковольтного источника и от низковольтного. Ток низковольтного источника, существенно больший по величине, подается синхронно с открыванием испытуемого элемента. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) SU (и) щ)5 С О1 Ц 31/28

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ НОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (21) 4478482/24-21 (22) 16,08,88 (46) 30.09.90. Бюл. В 36 (71) Харьковское научно-производственное объединение по системам автоматизированного управления (72) В,Б, Акименко, В. Я. Войтенко и К.Ф. Ляшенк о (53) 621. 317 ° 199 (088. 8) (56) Авторское свидетельство СССР

У 6500301 кл. G 01 R 31/26, 1976.

Транзисторы ° Параметры, методы измерения и испытания. M. Советское радио, 1968, с. 48, рис. 210.(54) СПОСОБ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ

ДИСКРЕТНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ

Изобретенные относится к электрическим испытаниям дискретных элементов автоматики. и систем управлення: (в дальнейшем — элементы), время пребывания которых в открытом или закрытом состоянии в рабочем режиме на один или несколько порядков превышает время переключения из одного состояния в другое, и может быть использовано для испытания и технологического прогона элементов на заводах-изготовителях, а также потребителями эл ементов, Цель изобретения — повышение экономичности электрических испытаний дискретных элементов.

На фиг, 1 представлена схема осуществления способа; на фиг. 2, 3 (а, б) ". схемы осуществления способа на постоянном и переменном токе соответственно.

2 (57) Изобретение относится к электронной технике и может быть использовано при электрических испытаниях дискретных элементов автоматики и систем управления, . в частности. при испытаниях программируемых контроллеров с большим числом входов-выходов.

Цель изобретения — повышение экономических электрических испытаний дискретных элементов, Испытуемый элемент нагружается током от высоковольтного источника и от низковольтного. Ток низковольтного источника, существенно больший по величине, подается синхронно с открыванием испытуемого элемента, 3 ил.

На вход испытуемого элемента (клем- а мы 1, 2) подключен источник управляю- щих сигналов дискретных уровней (фиг, 1). При наличии одного уровня входного сигнала дискретный элемент

3 закрыт. Через испытуемый элемент от источника через ограничивающий резистор 4 протекает ток утечки элемента

Тз, Его величина незначительная, так что потенциал выхода приближается к напряжению источника питания (Е 1), подключенного к клеммам 5, 6, Ключ

7 закрыт и дополнительный источник (Е 2), соединенный с клеммами 5, 8, отключен, Дополнительный источник питания (E 2) одним выводом подключен к клемме 8 и через резистор 9 и ключ

7 к выходу элемента 3, а другим — к к клемме 5, При поступлении на вход дискретного элемента 3 сигнала противополож! 596292

4 ного уровня дискретный элемент 3 открыт, от источника,. подключенного к клеммам, 6, протекает ток Т, величина которого больше величины остаточ5 ного тока I вследствие чего потенциал выхода элемента приближается к потенциалу общей шины. Ключ 7 открывается, От дополнительного источника питания через клемма 5, 8 и ограничи- 10 вающий резистор 9, элемент 3 протекает ток I, величина которого значительно превышает величину тока I но их сумма должна соответствовать величине заданного тока. 15

Для .качественной оценки сокращения потерь электроэнергии по способу испытания расход электроэнергии И от первого источника питания при испытании по существующему способу определяется 20

01 о Рэ г (1) где Р, Р - потребляемая мощность от источника питания при открытом и закрытом состоянии 25 дискретного элемента соответственно;

t, t — время пребывания эле мента в открытом и закрытом состоянии за исгытываемай период t „соо тв ет ст венно .

Потребляемае мощности, определяются а

=I (RR) (2)

З 3(3) (3)

R. R — выходное сопротивление в от крыто м и s акрыто м состоянии соответственно, 40

К - сопротивление дискретного элемента.

Суммарная мощность P определяетс ся: 1 45

Ре +Pз, I (R+R+)+I> (1 +R ) (4)

Мощность, потребля емая элементом от двух источников Р по предлагаемому способу, определяется. составляющей

B открытом состоянии P y 50

Р, -1, R,+I Rg+(Iq+Ig) К, (5) и составляющей в закрытом состоянии

Р0 е

55 (К,R» (6) Разность потребляемой мощности Р определяется:

Р-Р -Р - (R+R )+I (R+R ) - P R;+

+ 1 К + (I, + I .) R, +I g (R +К з)). (8)

Сокращение потерь электроэнергии

17 равно

И=Р(Е, +t,), (9) где t, и — время нахождения в открытом и закрытом состоя нии

Учитывая, что ток утечки закрытого элемента I3 на несколько порядков меньше тока задаваемой величины I ток I,, потребляемай, от источника

Е 1 на один или несколько порядков задают меньше тока Т., потребляемого от дополнительного источника питания, причем сумма токов I и I равна задаваемой величине тока I, а выходное сопротивление закрытого элемента R3 на несколько порядков больше сопротивлений ограничиваюших резисторов 4, 9 и сопротивления открытого элемента К, с достаточной для практических расчетов степенью точности, преобразовав формулу (9), сокращение потерь электроэнергии M при применении предлагаемого способа пропорционально произведению величины задаваемого тока I времени проведения испытания tö и разности напряжения источника питания элемента и дополнительного источника питания, т. е.

W=It9I (E 1-Е2) .

Вариант реализации схема на постоянном токе приведен на фиг. 2.

В качестве ключа 7 применен диод

10. Источники питания подключаются через соответствующие цепи к выходу элемента 3 с соответствующей (в данном случае положительной) полярностью.

В закрытом состоянии элемента диод !О заперт разностью напряжений источников (Е1 и Е2). К элементу через резистор 4 приложено напряжение исто ника питания Е1, В открытом состоянии элемента 3 диод 10 отпирается. От источника пи-, тания Е 2 ток протекает через ограничивающий резистор 9, диод 10 и элемент 3. От источника Е 1 — через резистор 4 протекает ток, значительно меньше тока, протекающего от источникаЕ2, Способ электрических испытаний дискретных элементов, з аключающийся 25 в том, что на выходы испытуемого дискретного элемента в закрытом состоя5 159

Вариант реализации схема испытания на переменном токе приведен на фиг. За и б.

Принцип работы схемы аналогичен принципу работы схема (фиг. 2). Напряжения, поступающие на элемент 3 от обмоток 11 и 12 трансформатора 13 через соответствующие резисторы 4, 9 и ключ 7, последовательно включенный в цепи резистора 9, должны быть синфаэ ными ..

Ключ 7 коммутирует обе полуволны тока при открытом элементе 3 и т заперт при закрытом элементе 3. В качестве ключа применяют реле, опто1иристоры и другие элементы. Управление работой ключа осуществляется от падения напряжения на резисторе 4 или от внешнего источника U подключен5х 1 ного к клеммам 14 и 15, Формул а из обр ет ения

6292 6 нии подают заданный уровень напряжения, на управляющий вход испытуемого дискретного элемента — импульсное

5 воздействие, ограничивают ток через

В испытуемий дискретный элемент íà sa.данном первом значении, о т л и ч а " ю шийся тем, что, с целью повышения экономичности электрических испытаний дискретных элементов, синхронно с подачей импульсного воздействия на управляющий вход испытуемого дискретного элемента формируют второе значение тока через испытуемый дискретный элемент, совпадающее с первым . заданным значением по направлению, превосходящее его.по.величине и удовлетворяющее условию НОМ 1

20 где I - ноьжнальный ток при элек-

Ном трических испытаниях дискретного элемента; первое заданное значение

1 тока через исйытуем|й элемент;

Iq — второе значение тока через испытуемый элемент.

Оба

1596292

И г

14

08

1З О

f иа

Составитель В,Степанкин

Техред M.Дидык

Корректср Л.Бескид

Редактор М,Бандура

3 оказ 2908 Тираж 563 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г..ужгород, ул. Гагарина, 101