Патент ссср 160859
Иллюстрации
Показать всеРеферат
СОЮЗ СОВЕТСКИХ
COllИАЛИСТИЧЕСКИХ
Респу БЛИК
ОПИСАНИЕ
ИЗ ОБ РЕТЕН И Н
К АВТОРСКОМУ СВИАБТЕЛЬСТВУ
X 160859
Класс
42h, 20в(Ф. л(а
МПК
О 02d
Заявлено 24.Х.1962 (№ 800034126-10) 10СУДАРСТВЕННЫИ
КОМИТЕТ ПО ДЕЛАМ
И ОБРЕТЕНИЙ И ОТКРЫТИЙ СССР
УДК
Опубликовано 26.II.1964. Бюллетень № 6
Подписная грунта № 163
Н. В. Королей
ОПТИЧЕСКИЙ ЭМИССИОННЪ1Й МИКРОАНАЛИЗАТОР
Известные приборы для эмиссионного микроанализа не позволяют достаточно надежно выделить нужную зону из анализируемой пробы.
Предложенный прибор отличается от известных тем, что в нем оптическая система микроскопа проектирует изображение искры на зеркальную щель спектрального прибора.
Кроме того, для контроля при совмещении спектральных линий с входными щелями спектрального прибора в нем система поджига искры подключена к блоку строчной развертки телевизионной трубки.
На чертеже изображена оптическая схема эмиссионного микроанализатора, Свет от источника 1 через систему 2, 3, 4 опакиллюминатора, отражаясь от кварцевой пластинки 5, попадает на объект 6 исследования в отраженном свете либо на электроды 7 и 8 при контроле их установки, Контроль осуществляется через оптическую систему, состоящую из микрообъектива 9, наклонной кварцевой пластинки 5, ахроматиче. ского кварц -флюоритового блока линз 10, наклонного плоского зеркала 11, вогнутого кварцевого зеркала 12, объектива 13 зрительной трубки, проектирующего изображение с поверхности зеркала 12 в окуляр 14 с увеличением 1:1, Узкая щель, прорезанная в слое алюминия зеркала 12, является щелью спектрального прибора с оптическими деталями 15, 16, 17, 18, после которых интенсивность выбранных аналитических линий через прорезь в зеркале 18 регистрируется фотоумножителем 19, а лучи, отраженные от зеркала 18 с помощью деталей
20, 21, проектируются на экран передающей телевизионной трубки 22 либо при выведенном зеркале 21 через зеркальную щель коллекторной линзы 23 свет попадает ца катод фотоумножителя 24.
Предмет изобретения
1. Оптический эмиссионный микроанализатор, содержащий микроскоп для исследований в отраженном свете, спектрограф и аппаратуру для фотоэлектрической регистрации, о тл и ч а ю шийся тем, что, с целью повышения локальности и абсолютной чувствительности эмиссионного микроанализатора, в пем оптическая система микроскопа проектирует изображение искры на зеркальную щель спектрального прибора.
2. Микроанализатор по и. 1, о тл и ч а юшийся тем, что в нем, для контроля при совмещении спектральных линий с входными щелями спектрографа система поджига искры подключена к блоку строчной развертки телевизионной трубки. № 160859 о.Ж
Составит«ль Л. Я. Гойхман
Редактор Л. В. Калашникова Техрсд 1О. В. Баранов Корректор О. Б. Тюрин,i
Поди. к печ. 29, 1 — 64 г. Формат бум. 60 )(90 Объем 0.23 изд, л.
Заказ 935)4 Тираж 600 Цена 5 коп.
ЦНИИГ1И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР й1осква, Нентр, пр. Серова, д. 4
Типографии, пр. Сапунова, 2