Устройство для динамических испытаний кольцевых образцов

Устройство для динамических испытаний кольцевых образцов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов. Целью изобретения является повышение точности при повышенной температуре испытаний. Для этого устройство для динамических испытаний кольцевых образцов, содержащее цилиндрический индуктор 1, устанавливаемый коаксиально образцу 2, емкостный накопитель 15 электрической энергии, зарядное устройство 16, разрядник 17 для подключения накопителя 15 к индуктору 1, узел передачи усилия, установленный коаксиально индуктору и выполненный в виде тонкостенного цилиндра 3 из электропроводящего материала и слоя 4 высокопластичного вещества, заполняющего пространство между цилиндром 3 и образцом 2, и два жестких направляющих диска 6 и 7 из электроизоляционного материала, между которыми без зазора установлен узел передачи усилия, снабжено регулируемым источником 10 тока и соединенными с ним электродами 8 и 9, которые установлены в дисках 6 и 7 и контактируют со слоем 4 высокопластичного вещества, в качестве которого использован электролит, а внешняя поверхность тонкостенного цилиндра 3 покрыта электроизоляционным слоем 5. В случае испытания образца из электропроводящего материала слой электролита электроизолирован от образца. Введение средств нагрева образца в виде двух электродов, соединенных с регулируемым источником тока и контактирующих со слоем высокопластичного вещества, в качестве которого использован электролит, который электроизолирован от тонкостенного цилиндра, позволяет поддерживать с большой точностью температуру испытания образца благодаря непосредственному контакту слоя электролита с образцом, что повышает точность испытаний при повышенной температуре. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

союз советских социмистичесних

РЕСПУБЛИН (1) G 01 И 3/30

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

flO ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К АВТОРСКОМУ CPHPi=-1 =":ЛЬСТ& " (21) 4629964/25-28 (22) 02.01.89 (46) 30.11.90. Бюл. K 44 (71) Харьковский авиационный институт им. 11.Е.Буковского (72) О.В.Макаров, В.Ф.Деменко, Ю.В.Ы шилов и ВЛ .Воробей (53) 620.178.72(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

К- "328369, кл . С 01 N 3/30, 1972.

Авторское свидетельство СССР

9 72034 1, кл . G 01 И 3/30, 1980. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ Д1НЛМИЧЕСКИХ

ИСПЫТАНИИ КОЛЪЦЕВИХ ОБРАЗЦОВ (57) Изобретение относится к исследованию прочностных свойств материалов. Целью изобретения является по„„ЯО „„1610388

2 вьшегне точности при повышенной тем= пературе испытаний. Для этого устройство дня динамических испытаний кольцевых ооразцов, содержащее цилиндри-ческий пндуктор 1, устанавливаемый коаксиально образцу 2, емкостный накопитель 15 электрической энергии, "-апя,.!ro= стропство 16, разрядник 17 для подк 1ючения HQKonHTeJIR 15 к индуктор - 1, узел передачи усилия, установя. нный коаксиально индукт ору и выполне,ный в виде тонкостенного цилиндра 3 из электропроводящего ма=ерин,а и слоя 4 высокопластичного вещества, заполняющего пространство между цилиндром 3 и образцом 2, и д за;:-:.есткпх направляющих диска 6 и 7 Е из электроизоляционного материала, 1610388

20 между которыми без зазора установлен узел передачи усилия„снабжено регулируемым источником 10 тока и соединенными с ним электродами 8 и 9, которые установлены в дисках 6 и 7 и контактируют со слоем 4 высокоплас-..c тичного вещества, в качестве которого использован электролит, а внешняя поверхность тонкостенного цилиндра 3 покрыта электроизоляционным слоем 5. . В случае испыгания образца из элек тропроводящего материала слой электролита электроизолирован от образца.

Введение средств нагрева образца в

Изобретение относится к исследо« ванию прочностных свойств материалов, а именно к устройствам для динамичес ких испытаний кольцевых образцов.

Цель изобретения — повышение точ- 25 ности при повышенных температурах ис пыт аний.

На чертеже представлена схема устройства для динамических испытаний кольцевых образцов. 30

Устройство с одержит цилиндрический индуктор 1, устанавливаемый коаксиально испытуемому образцу 2. Иежду индуктором и образцом размещается узел пеРедачи давления, выполненный в виде тонкостенного цилиндра 3 из электропроводящего материала и слоя

4 высокопластичного вещества - твердого электролита между цилиндром и образцом. Наружная поверхность тон- 40 костенного цилиндра 3, а в случае испытания образцов из электропроводящего материала и внутренняя поверхность испытуемого образца покрыты электроизоляционным слоем 5. Ин- 45 дуктор 1, образец 2 и узел передачи усилия помещены между двумя жесткими направляющими дисками 6 и 7 из электроизоляционного мат ериала, в которых имеются электроды 8 и 9, соеди ненные с регулируемым источником 10 тока. Источник 10 тока подключен к электродам 8 и 9 через ключ 11, уп..: рввляемый комтаратором 12, на входы которого подаются сигналы с датчика

13 температуры образца и источника

14 опорного сигнала. Цилиндрический . индуктор соединен с емкостным накопитепем 15 электрической энергии, завиде двух электродов, соединенных с регулируемым источником тока и контактирующих со слоем высокопластичного вещества, в качестве которого использован электролит, который электроизолирован от тонкостенного цилиндра, позволяет поддерживать с боль". шой точностью температуру испыгания образца благодаря непосредственному контакту слоя электролита с образ-. цом, что повышает точность испытаний при повышенной температуре. 1 s.n. ф-лы, 1 ил.

Рядным устройством 16 и разрядни -ком 17.

Устройство работает следующим образом.

Перед проведением испытаний на нижнем диске 7 соосно устанавливаются индуктор 1, тонкостенный цилиндр

3 с изолированной внешней поверхнос»„ тью, слой 4 из эластичного твердого электролита и испытуемый образец 2. ;

Индуктор 1, образец 2 и узел 3 передачи усилия закрываютая,сверху диском 6. Электрический ток от источника 10 тока проходит через слой 4 элек.тролита и нагревает его. От нагретого слоя 4 электролита нагревается испьггываемый образец 2..При установлении необходимой температуры образца 2 емкостный накопитель 15 разряжается через индуктор. Возникающее импульсное магнитное поле воздействует на тонкостенный цилиндр 3. Деформируюцнйся цилиндр 3 через слой 4 эластичного электролита нагружает испытываемый образец 2.

Введение средств нагрева испытываемого образца 2 в виде двух электро;, . дов 8 и 9, соединенных с регулируемым источником 10 тока и контактирующих со слоем 4 высокопластичного вещества, в качестве которого использован электролит, электроизолированный от тонкостенного цилиндра 3 с помощью слоя 5 из электроизоляционного материала, позволяет поддерживать с боль шой точностью температуру испытания образца благодаря нелосредственному

Р контакту слоя 4 электролита с образ- . цом 2, что повышает точность прово0388 формула из обретения

Составитель Н.Ямщиков

Техред М.Ходанич, Корректор:А.Осауленко

Редактор М.Келемеш

Тираж 500

Подписное

Заказ 3734

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям н открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.Ужгород, ул. Гагарина, 101

161 димых на устройстве испьпаний йри повышенной т емпературе.

1. Устройство для динамических испытаний кольцевых образцов, содержащее цилиндрический индуктор, устанавливаемый. коаксиально образцу, емкостный накопитель электрической энергии, зарядное устройство, разрядник для подключения накопителя к индуктору, узел передачи усилия, устанавливаемый коакснально индуктору и выполненный в виде тонкостенного цилиндра из электропроводящего материала и слоя высокопластичного вещества, заполняющего пространство между цилиндром и образцом н два жестких направляющих диска из. электроизоляцнонного материала, между которыми без зазора установлен узел передачи усилия, о т л и ч а—

S юще еся тем, что, сцельюповышения .точности при повышенных температурах испыганий, оно снабжено регулируемым источником тока и соединенными с ним электродами, которые установлены в дисках и контактируют сослоем высокопластичного вещества, в качестве которого использован элек» тролит, а внешняя поверхность тонкостенного цилиндра покрыта электро15

2 ° Устройство по п.1, о т л и— ч а ю ц е е с я тем, что в случае испытания образца из электропроводяэ щего материала слой электролита элек2О оопзолирован от образца.