Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах

Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах

Реферат

Способ обнаружения дефектов в нелинейных средах, заключающийся в пропускании сфокусированного оптического излучения через нелинейный кристалл и сканировании объема кристалла с последующей регистрацией прошедшего излучения на частоте оптических гармоник, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности к дефектам, малым по сравнению с когерентной длиной взаимодействия, оптическое излучение пропускают под углом к оптической оси кристалла нелинейной среды, не равным _c, где _c - угол между оптической осью кристалла нелинейной среды и направлением, для которого K(_c) = 0, где K - волновая расстройка синхронизации, а о наличии дефектов судят по интенсивности излучения на частоте оптических гармоник.