Способ контроля формы поверхности объекта

Способ контроля формы поверхности объекта

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение позволяет контролировать отклонение формы поверхности объекта от эталонной. Целью изобретения является повышение надежности за счет выполнения отсчетного узла в виде гибкой пленки. Предварительно устанавливают на контролируемой поверхности 7 гибкую пленку 1 с теоретическими кривыми на ней и обжимают ее. Проектируют на контролируемую поверхность световую марку от источника 5, расположенного над пересечением базовых линий на гибкой пленке. Перемещают световую марку вдоль контролируемого профиля и определяют ее смещение относительно теоретической кривой на пленке 1 и по изменению величины смещения следа марки и углу наклона источника вычисляют отклонение контролируемой поверхности от эталонного профиля. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)ю G 01 В 3/24

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

O (л (л

М

0с

Й Г 7 (21) 4694711/28 (22) 16,05.89 (46) 07,03.91. Бюл. hk 9 (71) Харьковский авиационный институт им. Н.Е.Жуковского (72) Ю.А.Боборыкин, О,М.Колов и И.И.Левицкий (53) 531.717.2 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

N 1244481, кл. G 01 В 11/24, 1986, (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА (57) Изобретение позволяет контролировать отклонение формы поверхности объекта от эталонной. Целью изобретения является повышение надежности за счет вы,,5U „, 1633256 À1 полнения отсчетного узла в виде гибкой пленки. Предварительно устанавливают на контролируемой поверхности 7 гибкую пленку 1 с теоретическими кривыми на ней и обжимают ее, Проектируют на контролируемую поверхность световую марку от источника 5, расположенного над пересечением базовых линий на гибкой пленке.

Перемещают световую марку вдоль контролируемого профиля и определяют ее смещение относительно теоретической кривой на пленке 1 и по изменению величины, смещения следа марки и углу наклона источника вычисляют отклонение контролируемой поверхности от эталонного профиля, 3 ил.

1633256

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения формы поверхности объектов в авиа- и судостроении, Целью изобретения является повышение надежности за счет выполнения отсчетного узла в виде гибкой пленки.

На фиг. 1 приведена схема контроля; на фиг. 2 — гибкая пленка с теоретическими кривыми профилей и базовыми линиями; на фиг. 3 — схема взаимосвязи смещения профиля.

Схема содержит гибкую пленку 1 с теоретическими кривыми 2 контролируемых профилей и базовыми линиями 3 и 4, источник 5 излучения, ось 6 поворота источника и датчики угла поворота источника (не показаны).

Гибкая пленка предназначается для облегчения контролируемой поверхности, источник измерения установлен с воэможностью поворота вокруг двух координатных осей с целью проектирования следа световой марки в любую точку гибкой пленки 1, 8 качестве источника с датчиками угла могут быть использованы, например, лазерные теодолиты, На чертеже так же показаны контролируемая поверхность 7, которую облегает гибкая пленка 1, базовые точки 8 оси с источником и след световой марки 9 на гибкой пленке. Кроме того, Оо, 0> — опорные точки: с и d — постоянные расстояния от поверхностей; Х и Y— координатные оси; hl — величина смещения следа световой марки на гибкой пленке; p —; hY— расчетная величина смещения.

Способ осуществляется следующим образом, Предварительно на контролируемую поверхность 7 устанавливают гибкую пленку 1 так, чтобы она облегала контролируемую поверхность, а над точкой пересечения базовых линий Оо устанавливают ось 6 поворота источника света. Положение верти5

45 кальной оси излучателя определяют, выдерживая расстояние от опорных точек В излучателя, располагаемых над базовыми линиями 3 и 4 на постоянных расстояниях от поверхностей с и d.

Положение излучателя относительно горизонтальной оси Х определяют по одной из точек Oi, ... Oi на базовой линии 3.

Проектируют от источника 5, установленного в расчетное положение, световую марку на гибкую пленку 1. Последовательно перемещают световую марку 9 вдоль одной из линий 2 контролируемого профиля, поворачивая источник 5. Определяют величину смещения следа световой марки относительно теоретической кривой 2 профиля и по измеренной величине смещения следа световой марки относительно теоретической кривой и углу наклона источника вычисляют величину отклонения контролируемой поверхности от эталонного профиля.

Формула изобретения

Способ контроля формы поверхности объекта, заключающийся в том, 4TQ проектируют световую марку на контролируемый объект под заданным углом, перемещают ее вдоль контролируемого сечения объекта и по смещению марки относительно начального положения, судят о форме контролируемой поверхности объекта, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения надежности за счет выполнения отсчетного узла в виде гибкой пленки, предварительно наносят теоретические кривые профилей сечений контролируемой поверхности и взаимно перпендикулярные базовые линии на гибкую пленку, перед проектированием световой марки устанавливают на контролируемой поверхности гибкую пленку и обжимают ее с контролируемым объектом, а проектирование световой марки производят из точки, лежащей на оси, проходящей через точку пересечения базовых линий.

1633256

Фиг 2

Составитель Н. Солоухин

Техред M.Ìoðãåíòàë Корректор С. Шекмар

Редактор И. Шулла

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101

Заказ 610 Тираж 374 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва. Ж-35, Раушская наб., 4/5