Способ приготовления стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа элементов-примесей в твердых природных материалах

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5!)5 G 01 N 1/28

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4666587/26 (22) 24.03.89 (46) 07,03.91, Бюл, М 9 (71) Уральский научно-исследовательский и проектный институт медной промышленности "Унипромедь" (72) И,Л.Шилоносов и А.Д.Галактионов (53) 543.053(088.8) (56) Атаманов С.П. и др, Исследование минералов медно-никелевых и колчеданных руд методами лазерного локального спектрального анализа. — Сб.: Методы изучения состава и свойств минералов и горных пород

Кольского полуострова. Апатиты, 1980, с. 60-64.

Гайдман Б.М. Количественное определение никеля, кобальта и хрома в магнетитах на лазерном микроанализаторе MAA-1. — Сб,:

Изобретение относится к области локального анализа химического элементного состава твердых природных материалов, в частности к способам приготовления стандартных образцов, и может быть использовано в цветной и черной металлургии, геологии, минералогии.

Целью изобретения является повышение точности анализа.

Сущность способа заключается в следующем.

Подбирают природные материалы, аналогичные исследуемым и свободные от анализируемых примесей. Затем материалы шлифуют и очищают их поверхность. После этого наносят на обработанную поверхность анализируемые примеси тонким равномерным по толщине слоем, не превышающим 0,5 мкм (примерно 10ь от,, Я2ÄÄ 1633319 А1

Методы спектрального анализа минераль-. ного сырья. Новосибирск, 1984, с, 78-80. (54) СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ СТАНДАРТНЫХ ОБРАЗЦОВ ДЛЯ ЛАЗЕРНОГО

МИКРОСПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕМЕНТОВ-ПРИМЕСЕЙ В ТВЕРДЫХ ПРИРОДНЫХ МАТЕРИАЛАХ (57) Изобретение относится к локальному анализу химического элементного состава твердых природных материалов. С целью повышения точности анализа в способе приготовления стандартных образцов, включающем подбор природного ма1-.ðèàла, аналогичного исследуемому и свободного от определяемых примесей. и введение примесей, примесь наносят на поверхность материала. 2 табл. глубины взаимодействия лазерного импульса с поверхностью образца) и не вносящим существенных изменений в условия взаимодействия. Измеряя толщину нанесенного слоя, диаметр и обьем кратера, образовавшегося в результате взаимодействия лазерного импульса с поверхностью образца, рассчитывают процентное содержание определяемого элемента в продуктах лазерной эрозии. Рассчитанные концентрации затем используют для построения градуировочных графиков.

Пример . Изготовление стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа никеля в пиритах. Иэ образцов пирита, предварительно проверенных на отсутствие никеля, готовили шлифы, на которые затем методом вакуумного напыления наносили тонкий слой никеля.

1633319

Иэ табл. 2 видно, что известный способ дает систематически заниженные результаты, Среднее отклонение в редложенном способе почти в 3 раза меньше, чем в способе по прототипу.

Таблица 1

Таблица 2

Составитель Л. Горейнова

Редактор О. Юрковецкая Тех ред М.Морген гал Корректор B. Гирняк

Заказ 613 Тираж 390 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб . 4/5

Г1роизводственно-издательский комбинат "Патент", г Ужгород, ул,Гагарина 101

Напыление проводили на установке ВУП-4 при вакууме 5 10 мм рт,ст, Никелевая проволока испарялась из вольфрамовой спирали. Толщину напыления контролировали по предварительно отградуированному датчи- 5 ку. Приготовленные стандартные образцы были проанализированы на равномерность распределения никеля по поверхности. Результаты представлены в табл. 1.

Для оценки точности предложенного способа и способа по прототипу несколько образцов пирита с известным содержанием никеля и равномерным распределением его по поверхности были проанализированы 15 тем и другим способами. Результаты представлены в табл. 2.

Формула изобретения

Способ приготовления стандартных образцов для лазерного микроспектрального анализа элементов-примесей в твердых природных материалах, включающий подбор природного материала, аналогичного исследуемому и свободного от определяемых примесей. и введение примесей, о т л ич а ю шийся тем, что, с целью повышения точности анализа, примесь наносят на поверхность материала,