Способ определения диаметра кристаллитов поликристаллических углеродных материалов

Способ определения диаметра кристаллитов поликристаллических углеродных материалов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к металлургии, а именно к способам контроля качества искусственных углеродных материалов. Цель изобретения - увеличение точности определения диаметра кристаллов поликристаллических углеродных материалов. Способ заключается в измерении коэффициента теплопроводности и коэффициента связности углеродных материалов, на основе которых вычисляют диаметр кристаллитов а по формуле 1а В (Я /F -к), где (Я - коэффициент теплопроводности материала, к - коэффициент связности, В - численный множитель, зависящий от температуры измерения , F - численный коэффициент, определяемый макротекстурой материала.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (st)s G 01 N 25/18, 27/02

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4632387/25 (22) 05.01,89 (46) 15.05,93. Бюл. М 18 (72) А.С.Котосонов, И.Я.Левинтович и

И,А.Дмитриев (56) Фиалков А.С. Формирование структуры и свойств углеграфитовых материалов.— M.:

Металлургия, 1965.

Kelly В.Т. The thermal conductivity of

graphite. Chemistry and Physics of Carbon, 1969, ч. 5, р. 119 — 215. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИАМЕТРА

КРИСТАЛЛИТОВ ПОЛИКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ УГЛЕРОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к металлургии, а именно к способам контроля качества искусственных углеродных материалов.

Целью изобретения является повышение точности определения диаметра кристаллитов, Поставленная цель достигается тем, что, помимо измерения теплопроводности исследуемого поликристаллического углеродного материала А, дополнительно определяют коэффициент связности, причем в случае исследования карбонизованных образцов для определения коэффициента связности измеряют четырехзондовым способом удельную электропроводность образца о, а величину коэффициента связности рассчитывают по формуле k = 2 (г/ ст1, где

ol — удельная электропроводность кристаллитов вдоль плоскости слоев. В случае графитировэнных образцов для определения коэффициента связности измеряют четы„„5U, 1637526 А1 (57) Изобретение относится к металлургии, а именно к способам контроля качества искусственных углеродных материалов. Цель изобретения — увеличение точности определения диаметра кристаллов поликристалли ческих углеродных материалов. Способ заключается в измерении коэффициента теплопроводности и коэффициента связности углеродных материалов, на основе которых вычисляют диаметр кристаллитоя!а по формуле 1а = В . (3, /F k), где g — коэффициент теплопроводности материала, k — коэффициент связности,  — численный множитель, зависящий от температуры измерения, F — численный коэффициент, определяемый макротекстурой материала, рехзондовым способом удельную электропроводность а и поперечное магнитосопротивление М в магнитном поле индукции Н и рассчитывают величину коэффициента связности по соотношению с Нгт м где с — постоянный коэффициент, Если образец имеет выраженную макроструктуру, вводят дополнительный поправочный коэффициент F, определяемый по известным правилам в зависимости от макротекстуры и равный отношению проводимости беспористых объемов поликриt сталла к проводимости кристаллитов вдоль базисной плоскости. Диаметр кристэллитов определяют на основании измеренных значений коэффициента теплопроводности и коэффициента связности по формуле

ВА агавЂ

1637526

Составитель Е.Сиренко

Редактор О.Стенина Техред М.Моргентал Корректор Е.Папп

Заказ 1975 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина. 101 где  — численный коэффициент, равный

0,12.

Формула изобретения

Способ определения диаметра кристаллитов поликристаллических углеродных материалов, включающий измерение теплопроводности в исследуемом направлении, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности дополнительно определяют коэффициент связности, а диаметр кристаллитов определяют по формуле ! а=В /F К где А- коэффициенттеплопроводности материала в исследуемом направлении;

k — коэффициент связности в том же направлении;

 — численный множитель, зависящий от температуры измерения;

F — численный коэффициент, определяемый макротекстурой материала, pasный отношению проводимости беспористых объемов поликристалла к проводимости кристаллитов вдоль базисной плоскости.