Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к металлургии , в частности к физическим методам определения равномерности распределения элементов, и может найти применение при создании материалов с заданными свойствами. Цель изобретения - повышение точности определения равномерности распределения элементов в сплавах за счет использования дисперсионного метода анализа. Способ включает выплавку, отжиг, механическую обработку и спектральный анализ образцов, причем определяют спектрограммы и значения относительных интенсивностей пар спектральных линий легирующего и основного элементов, далее определяют средневзвешенную дисперсию относительных интенсивностей, и на основании сравнения ее с табличными значениями F-распределения судят о равномерности распределения легирующего элемента. Точность предлагаемого способа выше в 2-6 .раз. 2 табл. (Я

„„SU„„16511

СОЮЗ СОВЕТСНИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСНИХ

РЕСПУБЛИН (51)5 С 01 И 23/00

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К А ВТОРСКОМЪ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТНРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР (21) 4709218/02 (22) 05.05.89 (46) 23.05.91. Бюл. Р 19 (71) Днепропетровский государственный университет им. 300-летия воссоединения Украины с Россией (72) С.В..Твердохлебова, И.М.Спиридонова и П.П.Остроуменко (53) 53.082.5(088.8) (56) Электронно-зондовый микроанализ/

/Под ред. И.Б.Боровского. — M.: Мир, 1974.

Блантер М. Теория термической обработки. — М.: Металлургия, 1984. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ РАВНОМЕРНОСТИ

РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ЛКГИРУЮЩИХ ЭЛЕМЕНТОВ В

СПЛАВАХ (57) Изобретение относится к металлургии, в частности к физическим методам определения равномерности расИзобретение относится к металлургии, в частности к физическим методам определения равномерности распределения легирукицих элементов, и может найти применение при создании материалов с заданными свойствами.

Цель изобретения — повышение точности определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах за счет использования дисперсионного метода анализа.

Способ определения равномерности распределения легирукяцих элементов в сплавах включает подготовку образцов, получение и обработку спект2 пределения элементов, и может найти применение при создании материалов с заданными свойствами. Цель изобретения — повышение точности определения равномерности распределения элементов в сплавах эа счет использования дисперсионного метода анализа. Способ включает выплавку, отжиг, механическую обработку и спектральный анализ образцов, причем определяют спектрограммы и значения относительных интенсивностей пар спектральных линий легирующего и основного элементов, далее определяют средневзвешенную дисперсию относительных интенсивностей, и на основании сравнения ее с таб- а личными значениями F-распределения судят о равномерности распределения легирующего элемента. Точность предлагаемого способа выше в 2-6 .раз.

2 табл. рограмм определяемого элемента, в котором о равномерности судят по значимости средневзвешенных дисперсий отношений интенсивностей аналитической и матричной гомологичных пар спектральных линий на основании F-распределения.

Пример. Сплав системы Fe-ВС-Si-Mn-Cr выплавляют в вакуум-индукционной печи с разливкой в слиток и последующим затвердеванием в среде инертного газа, удаляют прибыльную и донную части, отжигают и обрабатывают верхнюю и нижнюю поверхности образца (сечения 1 и 2) на алмазном

16511

Т аР

1. - --»

Мвссоввл поил Выборочные дисперсии Срепяеввнененныв дисиспытуеиото """ % персии в опеиентв, I (821), (8()а

$ e 82 (2) лица

» > ны матричной (2) и аналитической (1) пар спектрвпънык пиI ин»

Сече иие (() F59 (18, 18) вксп. твбп, FeI 247 6

FeI 252,4

BI 249 68 в

FeI 251,81.

SiI 251 6

"»=H 6

МпП 288 6

PeII 287,6 в з,оо

Si 2,15

Мп 3,31

1,72 2,18

1,60 2, 18

1>28 2,18

0,0021

0,0014

0,0007

0>0025 0,0014

O,00127

O,ÎÎÎ7

FeI 251 81

PeI 252,4

0,00137

0,00086

О,OOO51

PeII 287 6 в»

PeII 287>1

0,00056 0,00065

Ст 6,70

0,00142 0,00083 0,00142

1,54 2,18

CeiI 279 3

FeII 279,3

PeII 279 3

А

1>еп 279,9

0,00092

1,79 2, 1в

1,60 2,18

1,28 2 18

1,54 2 ° 18 в, з,оо

Si 2,15

М З,З1

Ст 6,70

0 0029

0,00146

0,00059

O,ОО14З

О,ОО15

О,ОО1О

0>00046

0,00094

То ие

0>0025

o,ÎÎ1Ç7

0,00065

0,00142

0,0014

0,00086

О,CO051

0,00093

То ие круге до шероховатости Н не более

20 мкм. Подвергают эачищенные поверхности образца воздействию искрового разряда от генератора, производят по

10 обыскриваний на каждой поверхности образца при использовании железного электрода. Разлагают излучение в спектр с помощью спектрографа и регистрируют эти спектры на фотопластинку. Выбирают под спектропроектором при наличии специальных таблиц

i гомологичные пары спектральных ли ний. На микрофотометре измеряют плотности почернений спектральньп(линий 15 с последунлцим переводом их в интенсивности с. помощью характеристической кривой фотопластинки. Находят эначе" ния относительных (R) интенсивностей, например В/Fe и Fe/Fe, затем выбо- 20 рочные дисперсии отношений интенсивностей аналитической (83.;) и матрич° и ной (Si .) пар обоих сечений образца. (2

> . Затем определяют средневзвешенные дисперсии отношений интенсивностей 25 аналитической (S ) и матричной (Sz) а г пар спектральных линий и находят параметр F „,я, который сравнивают с табличным при уровне значимости q u числе степеней свободы Е, и Е . 30 . В табл. 1 представлены данные для в определения равномерности распреде72

4 ления В, Si, Мп, Cr в сплаве и параметр F; в табл. 2 — сравнительные данные по точности определения равно мерности распределения легирующих элементов.

Предлагаемый способ дает возможность использования методов эмисси» онного спектрального и дисперсионноr0 анализа в качестве более точного, простого и универсального способа определения равномерности распределения элементов в сплавах.

Формула изобретения

Способ определения равномерности распределения легирующих элементов в сплавах, включающий выплавку, отжиг и механическую обработку образцов; отличающийся тем, что, с целью повышения точности, после механической обработки снимают спектрограммы и определяют значения относительных интенсивностей гомологич ных пар спектральных линий легнрующего и основного элементов, далее определяют средневзвешенные дисперсии. относительных интенсивностей и на основании сравнения их отношения с табличными значениями F-распределения судят о равномерности распределения легирующего элемента.

1651172

Та блица

Сплав

Массовая доля элементов, Х

Относительная погрешность определения, Х, по способу известному предлагаемому

Стапь марки

17Г1СУ

В 3,0

2,1

0,77

Составитель Ф.Стеценко

Техред С.Мигунова Корректор Т.Палий

Редактор О.Головач

Заказ 1602 Тираж 411 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Рауюская наб., д. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г.ужгород, ул. Гагарина,101

Расплав цинка

Борсодержащие сплавы на ос нове железа

Si 0,40-1,0

Мп 1,0-2,0

А1 О, 12-0, 15

3,4

2,3

7,9

0,87

0,87

1,3