Способ определения плоскости наилучшей установки объектива

Способ определения плоскости наилучшей установки объектива

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и может найти применение при фокусировкеобьективов различных систем, включая ИК-системы. Цель-упрощение и расширение области применения способа Способ заключается в том, что о положении плоскости судят по нулевому значению разности сигналов с приемника излучения, полученных в двух точках зоны оформления пучка лучей, образованных габаритными лучами в пределах максимальной дистанции L-макс между объективом и диафрагмой приемника, причем L,aKc(Di-D2), где f - фокусное расстояние объектива, Di - диаметр выходного зрачка объектива, Da - диаметр диафрагмы перед приемником, а - максимальный поперечный-размер источника излучения.2 ил. м Ё

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК

1656366 ) - f,";„ (19) ()1)

ГОСУДАРCTBEННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4363206/10 (22) 12,01.88 (46) 15.06.91, Бюл, N 22 (71) Ленинградский институт точной мехаНИКИ И ОПТИКИ (72) Г.В.Бреенков, Э.Д,Панков, А.Н.Тимофеев, Ю.А. Губин, Л.A. Губина и Ю.В. Марочкина (53) 535,818(088,8) (56)Патент Франции

М 2116550, кл, 6 02 В 7/00, 1972.

Креопалова Г,В. и др. Оптические измерения. M., 1987, с.170-171, (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЛОСКОСТИ

НАИЛУЧШЕЙ УСТАНОВКИ ОБЪЕКТИВА (57) Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и может найти

Изобретение относится к оптикоэлектронному приборостроению и может найти применение при фокусировке объективов различных оптических систем, включая ИКсистемы, Цель изобретения — упрощение и расширение области применения способа.

На фиг.1 приведена принципиальная схема; на фиг.2 — функциональная схема устройства реализуюшего способ, Способ выполняется в следующей последовательности.

Измеряют освещенность фотоприемником при перемещении контролируемого объектива в двух точках вдоль оптической применение при фокусировкеобъективов различных систем, включая ИК-системы. Цель — упрощение и расширение области применения способа. Способ заключается в том, что о положении плоскости судят по нулевому значению разности сигналов с приемника излучения, полученных в двух точках зоны . оформления пучка лучей, образованных габаритными лучами в пределах максимальной дистанции аякс между объективом и диафРаГМОй ПРИЕМНИКа, ПРИЧЕМ 1 age =((01 02)/a)f. где f — фокусное расстояние объектива, D1— диаметр выходного зрачка объектива. 02— диаметр диафрагмы перед приемником, а— максимальный поперечный размер источника излучения. 2 ил. оси в пределах зоны оформления пучка лучей, максимальная длина которой вдоль оптической оси Lmax определяется из соотношения

01 02

max = где f — фокусное расстояние обьектива, 01 — диаметр выходного зрачка объектива; а — максимальный поперечный размер источника излучения;

Dz — диаметр диафрагмы приемника излучения.

Последовательно измеряют приемником освещенность в двух точках на оптической оси в нескольких положениях

1656366 объектива относительно источника излучения, а затем определяют такое положение, при котором разность сигналов с приемника равна нулю, и по этому положению судят о плоскости наилучшей установки объектива, Устройство (фиг,2) содержит контролируемый объектив 1, диафрагму 2 излучателя

3, определяющую его размер, источник 4 питания излучателя 3, диафрагму 5 приемника 6 излучения, выход которого соединен с входом усилителя 7, выход которого соединен с входом регистрирующего устройства 8.

Способ реализуется следующим образом, Поток излучения от источника 3 проходит через объектив 1 и поступает на приемник 6, смещая объектив 1 вдоль оптической оси и измеряя освещенность в двух точках эоны оформления пучка лучей при перемещении приемника, определяют такое положение объектива, при котором разность сигналов с приемника в двух его положениях на оси, которое и будет плоскостью наилучшей установки объектива.

Формула изобретения

Способ определения плоскости наилучшей установки объектива, заключающийся в том, что измеряют освещенность приемни5 ком излучения в двух точках на оптической оси в нескольких положениях объектива при

его перемещении вдоль оси и по нулевому значению разности сигналов судят о положении, соответствующем плоскости наилуч10 шейустановки объектива, отл ича ющи йс я тем, что, с целью упрощения и расширения области применения, включая ИК-область, освещенность измеряют в зоне оформления пучка лучей, причем приемник

15 устанавливают в пределах зоны, максимальная длина макс которой определяется из соотношения

Di — Ог -макс = f а

20 где f — фокусное расстояние объектива;

Oi — диаметр выходного зрачка объектива;

02 — диаметр диафрагмы приемника; а — максимальный размер источника из25 лучения.

1656366

Составитель В, Сячинов

Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор Л.Бескид

Редактор M. Келемеш

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

Заказ 2046 Тираж 395 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5