Способ контроля качества приклейки тензорезисторов на металлических поверхностях

Способ контроля качества приклейки тензорезисторов на металлических поверхностях

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к тензометрии. Цель изобетения повышение надежности и точности контроля качества приклейки тензорезисторов Сущность изобретения заключается в том что измеряют емкость между решеткой приклеенного тензорезистора и металлической поверхностью конструкции, на которую тензореэистор наклеен, после чего сравнивают эту емкость с емкостью, измеренной для эталонного образца Поскольку емкость очень слабо зависит от температуры (благодаря слабой температурной зависимости диэлектрической проницаемости применяемых клеев), нет необходимости эталонный и испытуемый тензорезисторы содержать в одинаковых температурных условиях.

союз советских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5!15 G 01 В 7/18

ГОСУДДРСТ8ЕННЫй КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

"11 Ег А (21) 4723012/28 (22) 24.07.89 (46) 23.06.91. Бюл. N 23 (71) Учебно-научно-производственныи центр при Одесском государственном университете (72) О. П. Канчуковский, А. А. Могильницкий, В. Н. Моржаков, В. А. Першин, А. Л. Шенкевич и А. В. Ильинский (53) 531.781.2(088.8) (56) Мухин Н. Л. Способ контроля готовности тензодатчикэ к эксплуатации. Заводская лаборатория, 1965, N. 5. с. 628, 629. (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА НАКЛЕЙКИ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ НА МЕТАЛЛИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЯХ

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к тензометрии.

Цель изобретения — повышение надежности и точностй контроля.

Способ контроля качества наклейки тензорезисторов на металлических поверхностях заключается в том, что измеряют емкость между решеткой тензореэистора и поверхностью детали и сравнивают ее с эталонной.

Поскольку емкость очень слабо зависит от температуры (благодаря слабой температурной зависимости диэлектрической проницаемости и рименяемых клеев), нет необходимости эталонный и испытуемый тензорезисторы содержать в одинаковых температурных условиях. Не зависит емкость также и от материала металлической поверхности, на которую наклеивается тензорезистор. При использовании измерительного,,5U,, 1б57945 А1 (57) Изобретение относится к измерительной технике, в частности к тензометрии. Цель изобетения - повышение надежности и точности контроля качества приклейки тенэореэисторов. Сущность изобретения заключается в том, что измеряют емкость между решеткой приклеенного тензорезистора и металлической поверхностью конструкции, на которую тенэорезистор наклеен, после чего сравнивают эту емкость с емкостью, измеренной для эталонного образца. Поскольку емкость очень слабо зависит от температуры (благодаря слабой температурной зависимости диэлектрической проницаемости применяемых клеев), нет необходимости эталонный и испытуемый тензорезисторы содержать в одинаковых температурных условиях. сигнала частотой 10 Гц емкостное сопро5 тивление для большинства используемых тензорезисторов и клеев не превышает

10 -10 Ом, что позволяет производить надежные измерения с большой точностью.

Процесс измерения занимает очень мало времени и может производиться дистанционно. Возможна также автоматизация как регистрации, так и сравнения с эталоном.

Эталонный образец готовят следующим образом.

На измерительную консольную балку равного сопротивления длиной 0,5 м и толщиной 10 м наклеивают с помощью клея

БФ вЂ” 2 два тензорезистора типа 2ФКТК с длиной базы 10 мм и сопротивлением

Rp=100 Ом. Наклейку тенэорезисторов производят по следующей технологии, Наносят слой клея, который выдерживают на воздухе при 20 С в течение 1 ч, затем в

1657945 течение 15 мин при 55-60 С, затем в течение 1 ч при 85 — 90 С. После этого производят приклейку тенэореэистора при 140-150 С в течение 1 ч. Давление прижима тензорезистора к детали во время приклейки составляет 6 кгс/смг.

После того, как тензорезистор приклеен, производят изгиб балки посредством смещения ее свободного конца на 10 мм и с помощью приклееных тензорезисторов производят измерение ее относительной деформации. В качестве измерительного прибора используют тензоусилитель "Топаз †".

Полученные результаты показали, что отклонение измеренной относительной деформации от теоретической, вычисленной по формуле

hA

Е= г где h — толщина балки; д» вЂ” величина прогиба конца балки;

1 — длина балки, составляет не более 5, что не намного превышает погрешность измерений на приборе "Топаз-4" (2 ). Емкость между решетками приклеенных тензорезисторов и основанием(балкой), измеренная с помощью прибора BM 560 (Тесла), позволяющего измерять емкости с точностью +0,1пФ, равна 88 пФ для одного тензорезистора и

90,2 пФ для другого. Сопротивление клеевого слоя, измеренное на тераомметре

Е6-13А, равно для обоих тензорезисторов

2 10 — 5 10 Ом.

Совпадение теоретической и измеренной относительной деформации дает основание считать качество приклейки данных тензорезисторов хорошим и эти образцы считать эталонными.

Пример 1, На ту же измерительную балку приклеивают такие же два тензорезистора типа 2ФКТК. При наклейке несколько нарушена технология приклейки — выдержку слоя клея осуществляют на воздухе в течение 1 ч при комнатной температуре, а затем осуществляют приклейку тензорезистора в течение 1 сут при комнатной температуре и давлении прижима 6 кгс/см . г

Емкость для одного тензорезистора в этом случае равна 79,2 пФ, а для другого

75,6 пФ. Сопротивление клеевого слоя для этих образцов не отличается от сопротивления клеевого слоя эталонных образцов, Сравнение относительной деформации, измеренной с помощью этих тензорезисто5 ров, с теоретической дает отклонения 10 ( для одного образца и 12 для другого.

Пример 2. Два тензорезистора того же тина и размера наклеивают на ту же балку равного сопротивления с нарушени10 ем технологии приклейки. На этот раз приклейку осуществляют сразу же после нанесения слоя клея и проводят при комнатной температуое в течение 1 сут при давлении 3 кгс/см . Емкости в.этом случае

15 равны 70,1 и 61,8 пФ. Сопротивление же клеевого слоя и в этом случае не отличается от сопротивления эталонных образцов, Сравнение относительной деформации, измеренной с помощью этих тензорезисто20 ров, с теоретической дает отклонения 15 и

20 .

Как видно из примеров, предлагаемый способ контроля позволяет быстро. надежно и с достаточно высокой степенью точности

25 определять качество приклейки тензорезисторов, е то время как измерение сопротивления клеевого слоя (прототип) еще не дает достоверного результата.

Таким образом, использование предла30 гаемого способа контроля качества приклейки тензорезисторов на металлические поверхности обеспечивает по сравнению с существующими способами контроля более высокую надежность и точность измерений, 35 а также меньшее время измерений при возможности дистанционного измерения и автоMàтической регистрации и сравнения измеряемой емкости с эталонной. При этом нет необходимости поддерживать одинако40 вые условия для эталонного и измеряемого образца.

Формула изобретения

Способ контроля качества наклейки тен 45 зорезисторов на металлических поверхностях, включающий в себя измерение электрического параметра, характеризующего качество приклейки, и сравнение этого параметра с эталонной величиной, о т50 л и ч а ю шийся тем, что. с целью повышения надежности и точности контроля. в качестве измеряемого параметра используют емкость, 55