Способ определения осредненной погрешности прозрачного лимба углоизмерительного прибора

Способ определения осредненной погрешности прозрачного лимба углоизмерительного прибора

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптико-электронных приборах для оценки суммарной погрешности с учетом принципа действия углоизмерительного прибора. Цель изобретения - повышение точности за счет уменьшения влияния ошибок, обусловленных неидентичностью рисунка штрихов. В углоизмерительном приборе, в котором используется данный тип лимба, стопорится его лимб и между считывающей маской одной оптопары и лимбом помещают технологическую маску с одним прозрачным штрихом, так чтобы световой поток, попадающий на первый штрих группы штрихов одной оптопары считывающей маски, полностью проходил через него, а остальные штрихи считывающей маски были бы закрыты. Снимают показания напряжения с фотоприемника оптопары. Эту операцию повторяют со всеми штрихами лимба. Полученные данные нормируются по максимальному значению. Затем измеряют погрешность лимба этой серии по границам тень - свет д N и свет - тень Ј N в каждом штрихе лимба, и полученный массив погрешностей лимба обрабатывают с учетом предварительно полученных нормированных данных конкретного углоизмерительного прибора. 4 ил. (Л С

СОЮЗ СОВЕТСКИХ сОцИАлистических

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 С 1/06

ГОСУДАРСТВЕН(ЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ е

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4600467/10 (22) 01.11.88 (46) 30.06.91. Een. Q 24 (72) Б. Ц. Яхилевич и А. С. Поляк (53) 528.521(088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

t4 1326886, кл. 6 01 С 1/06, 22.07.85;

Авторское свидетельство СССР

hh 1049736, кл. G 01 С 1/06, 17,12.81. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОСРЕДНЕННОЙ ПОГРЕШНОСТИ ПРОЗРАЧНОГО

ЛИМБА УГЛОИЗМЕРИТЕЛЬНОГО ПРИБОРА (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптико-электронных приборах для оценки суммарной погрешности с учетом принципа действия углоизмерительного прибора.

Цель изобретения — повышение точности за счет уменьшения влияния ошибок, обусловленных неидентичностью рисунка штрихов.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в оптико-электронных приборах для оценки суммарной погрешности, вносимой неточностью углового расположения границ штрихов лимба по делительной окружности оптопарами с учетом принципа действия углоиэмерител ь ного прибора.

Целью изобретения является повышение точности за счет уменьшения влияния ошибок, обусловленных неидентичностью рисунка штрихов.

». Ж„„1659702 Al

В углоизмерительном приборе, в котором используется данный тип лимба, стопорится его лимб и между считывающей маской одной оптопары и лимбом помещают технологическую маску с одним прозрачным штрихом, так чтобы световой поток, попадающий на первый штрих группы штрихов одной оптопары считывающей маски, полностью проходил через него, а остальные штрихи считывающей маски были бы закрыты. Снимают показания напряжения с фотоприемника оптопары. Эту операцию повторяют со всеми штрихами лимба. Полученные данные нормируются по максимальному значению. Затем измеряют погрешность лимба этой серии по границам тень — свет д н и свет — тень $ н в каждом штрихе лимба, и полученный массив погрешностей лимба обрабатывают с учетом предварительно полученных нормированных данных конкретного углоизмерительного.прибора. 4 ил, На фиг. 1 приведена профильная проек- «4 ция сопряжения оптопары, считывающей маски одной группы штрихов, лимба и тех- Я нологической маски; на фиг. 2 — график зависимости выходного напряжения О усилителя от номера штриха в группе штрихов оптопары считывающей маски; на фиг. 3 — считывающая маска углоиэмерительного прибора и лимб, вид со стороны излучателя; на фиг. 4 — график зависимости коэффициентов а m от номера штриха в группе штрихов одной оптопары считывающей маски. углоизмерительного прибора.

На фиг. 1 приняты следующие обозначения. 1 — считывающая маска; 2 — лимб углоизмерительного прибора; 3 — технологическая маска с одним прозрачным штрихом; 4-усилитель фотоприемника;

5 — фотоприемник; 6 — осветитель.

Способ реализуется следующим образом.

Для каждого типа (серии) углоизмерительных приборов определяют коэффициенты а1. а г а з.;.,ащ следующим образом, В собранном опытном углоизмерительном приборе стопорят его лимб таким образом, чтобы проэкция группы штрихов одной оптопары считывающей маски совпадала со штрихами лимба. Между считывающей маской 1 одной оптопары и лимбам 2 помещают тонкую технологическую маску 3 с одним прозрачным штрихом по размеру большему, чем один штрих оптопары считывающей маски (фиг, 1). Технологическую маску 3 ориентируют таким образом, чтобы световой поток, попадающий на первый штрих группы штрихов одной оптопары считывающей маски, полностью проходил через него, а остальные штрихи считывающей маски 1 были бы закрыты непрозрачной ее частью.

После этого снимахэт показания напряжения U на выходе усилителя 4 фотоприемника 5. Затем сдвиганэт технологическую маску 3 таким образом, чтобы световой поток, попадающий на второй штрих группы штрихов этой же оптопары считывающей маски полностью проходил через его второй штрих, а остальные штрихи считывающей маски 1 были бы закрыты непрозрачной частью технологической маски 3. После этого снимают показания напряжения О на выходе усилителя 6 фотоприемника 5. Аналогичные операции повторяют со всеми m штрихами в группе штрихов одной оптопары считывающей маски 1. Используя полученные экспериментальные данные напряжений Um на выходе усилителя 6 в зависимости от номера штриха в группе штрихов оптопары считывающей маски, строят график зависимости U от номера штриха (фиг. 2), Затем полученный график нормируют по формуле

0(О) и принимают а(пэ) = o. п

Эти нормированные значения напря>кений являются коэффициентами а1,а2,а з,..., ав„используемыми для определения коэффициентов веса. Затем измеряют погрешность лимба в каждом штрихе по границам тень — свет д 1, д 2,д з,...„д v, и свет — тень ф 1.

@, фз,..., фч анализатором с одним штрихом, проекция которого на проверяемый лимб равна проекции каждого штриха в группах штрихов оптопар считывающей маски угло измерительного прибора.

Полученный массив погрешностей лимба в каждом штрихе по границам тень — свет д1, д 2, д з,.„д g и границ штрихов сает — тень (1Д р,ф з,....,ф и обрабатывают по формуле:

10 ((:1) @

Ь=:Д, К.(д,+ф), (1) р=о n — 1 где д r - ëoãðemíoñòü лимба в каждом. штрихе на границе тень — свет; ф r — погрешность лимба в каждом штрихе на границе свет — тень, i — - независимая переменная, характеризующая угол, на который измеряется погрешность лимба углоизмерительного

-20 прибора, 1« i< N;

N — количество штрихов на лимбе углоизмерительного прибора;

q — количество групп штрихов на считывающей маске углоиэмерительного прибора;

m — количество штрихов в группе штрихов одной оптопары считывающей маски углоизмерительного прибора;

r — независимая переменная

1+и+ - — 1, is N — и — +1

Я Я г= +и+ --1 — И, >N — n -- э — +1

N N

35 g g р — независимая переменная 0 р (q-1);

К вЂ” коэффициенты веса погрешности

40 границ штриха лимба в суммарном сигнале погрешности лимба углоизмерительного прибора (2)

2gm)Ä aе е =1

Предлагаемый способ позволяет посредством полунатурного макетирования получить более высокую точность оценки погрешности вносимой лимбом в углоизмерительный прибор.

Формула изобретения

Способ определения осредненной погрешности прозрачного лимба углоизмерительного прибора, заключающийся в последовательном измерении частной погрешности каждого иэ штрихов и обработке результатов измерений, о т л и ч а ю щ и й1659702 6 оо

7Î4

7ВОФ.фца. 3

1 2 3

Составитель ВЯопов

Редактор Т.Парфенова Техред М.Моргентал Корректор О.Кундрик

Заказ 1832 Тираж 314 - Подписн ое

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб.. 4/5 проиаеодстеенно-иадательскид комоииат патент, г. Ужгород, ул.Гагарина, 101 с я тем, что, с целью повышения точности за счет уменьшения влияния ошибок, обусловленных неидентичностью рисунка штрихов, при измерении для каждого из штрихов

6 производят опрЕделения частных погрешностей по границам свет — тень и тень — свет, а при обработке результатов используют данные дополнительных определений.

g Q(m)