Способ контроля контактирования интегральных схем

Способ контроля контактирования интегральных схем

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение повышает достоверность контроля контактирования ИС на этапе заключительных операций при загрузке схем в контактные устройства плат электротермотренировки. Цель изобретения - повышение достоверности контроля. Сигнал генератора 4 импульсов подводится на вход микросхемы 2, установленной в блоке 1 контактирования и подключенной от источника 3 питания. Блоком 5 измерений контролируется разница между напряжением входного и выходного сигналов, по которой определяется величина контактного сопротивления, сравнивается с эталонной. 2 з.п.ф-лы, 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 R 31/28

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

1 (21) 4654579/21 (22) 21.02.89 (46) 30.06.91. Бюл. ¹ 24 (72) Л.Н.Петров и С.И.Кармызов (53) 621.317.799 (088,8) (56) "Электроника ПЛ вЂ” 01". Паспорт, М., 1986.

Авторское свидетельство СССР

¹ 1383231, кл. G 01 R 31/02, 1988, (54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ КОНТАКТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ (57) Изобретение повышает достсиерность контроля контактирования ИС на этапе за„„5U„„1659924 А1 ключительных операций при загрузке схем в контактные устройства плат элеКтротермотренировки. Цель изобретения — повышение достоверности контроля. Сигнал генератора 4 импульсов подводится на вход микросхемы 2, установленной в блоке 1 контактирования и подключенной от источника

3 питания. Блоком 5 измерений контролируется разница между напряжением входного и вйходного сигналов, по которой определяется величина контактного сопротивления, сравнивается с эталонной. 2 з.п,ф-лы, 2 ил.

1659924

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть использОВано В аВтОматиэированных устройствах контроля интегральных схем (ИС), в частности, на этапе заключительных 5 операций.

Цель изобретения — пс вышение достоверности контроля.

Контроль контактирования ИС по отклонению переходного сопротивления от эа- 10 данной величины основан HB том, что при соблюдении заданной величины переходного сопротивления схема либо перестанет функционировать, либО урОвни ее выходных сигналов не соответствуют заданным, 15

При подаче на вход ИС минимального порогового напряжения питания создак1тся условия, при которых всякое уменьшение этого напряжения приводит к тому, что переходы активных элементов, которые вхо- 20 дят в состав ИС, не могут открыться и функционирование схемы прекращается.

Входные воздействия не могут вызывать выходных сигналов, по отсутствию которых и судят о переходном сопротивлении в зоне 25 контактирования.

При компарировании уровней питающего напряжения и выходных Сигналов обеспечивается слежение за перепадом этих уровней, При этом задают допустимый 30 перепад как функцию от заданных Величин сопротивления в зоне контактирования.

При любом повышении заданной (допустимой) величины переходного сопротивления снижается и перепад уровней, по которому. 35 судят о качестве контакта.

Таким образом, способ позволяет фиксировать ие только два варианта "есть KQHтакт"; "нет контакта", Но и промежуточные значения переходного сопротивления, что 40 позволяет выявлять схемы и с неполностью нарушенными контактами.

На фиг. 1 и 2 приведены схемы распределения напряжений при изменении переходных сопротивлений, 45

Контроль контактирования ИС (фиг. 1) производится в точках 1l, 2, 3 и 4, räå измеряются переходные сопротивления R1, Rz, R3 и R4. При переходных coïpoTèBJ18Hèéõ R1, R, Кэ и R4, Равных нУлю, Оццх == кОпиу, где k< 50

<1 — коэффициент; О х — выходное напряжение; Опит — напряжение питания, т.е, контактирование удовлетворительное. При R1, К2, R3 и R4, больших нуля, Ubtlx =1< Ugx,- f Unogf)); Овых < kUnw, где Uno l — напряжение 55 потерь иа заданной частоте f, что свидетельствует о некачественном контактировании.

Схема для осуществления способа конгроля контактирования ИС (фиг. 1) содзржит контактные блоки 1.1- 1,п с ИС 2, источник 3 питания, генератор 4 импульсов и блок 5 контроля.

На ИС 2 подают питание с источника 3 питания, на вход подают воздействия с генератора 4 импульсов. С помощью блока 5 контроля контролируют отклонение опорного (на входе) и исследуемого (на выходе) сигналов, Разность уровней между ними задавали как функцию переходного сопротивления, В случае, если разность выше заданной величины переходного сопротивления, качество контактирования неудовлетворительное и дальнейший маршрут схемы определяется технологической картой. В случае, если разность равна или ниже заданной, условия контактирования удовлетворительные. Заданная величина переходного сопротивления выбирается в зависимости от требований, предьявляемых к схеме.

При включении генератора и подаче питающих напряжений на выходе испытуемой

ИС появляется выходное напряжение, уровни "0" и "1" которого определяются переходными сопротивлениями R1 — R4. При R1—

R4, равных нулю, U>b = IUD», где Ь<:1, при этом нормированные величины Ull >l "0" и

"1" задаются в блоке измерений. При R1—

R4, больших нуля, логические уровни изменяются, что фиксируется блоком измерений.

Допустим, что переходное сопротивление R4 (фиг. 1) стало больше нормы, ток через R4 создает дополнительное напряжение ОВ4, при этом в фазе измерения напряжения U>b>< "0" к испытуемой ИС добавится напряжение ОЙ4, что будет классифицироваться блоком измерения о некачественном контактировании, Величина предельно допустимого переходного сопротивления заранее вводится оператором в блок измерения, с которым сравнивается фактическое измерение.

Блок измерения может фиксировать переходные сопротивления и ниже минимального значения (5 ° 102 Ом), Величины UR4 и

Usus "0" определяются напряжением Ull», которое подается в блок измерений для автоматизации процесса проверки контактирования, Возможна также реализация способа, при которой на генераторе импульсов устанавливается минимальное входное напряжение Uax, которое при ожидаемых значениях переходных сопротивлений обеспечивает функционирование испытуемой ИС, Блок измерения контролирует этот сигнал, При наличии переходного сопротивления (допустим R1 (фиг. 1) по величине больше ожидаемого) появляется дополнительное напряжение UR1, снижающее поро1659924

Формула изобретения

1. Способ контроля контактирования интегральных схем, заключающийся в том, что на контролируемые микросхемы подают напряжение питания и импульсное воздействие, измеряют информативный параметр, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности контроля, перед началом контроля на достоверной выборке устанавливают зависимость между величиСоставитель В.Степанкин:

Техред M.Mîðãåèòàë Корректор Н.Король

Редактор А,Лежнина

Заказ 1843 Тираж 437 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. ужгород, ул.Гагарина, 101 о говое входное напряжение непосредственно на выводе ИС, которое уже не позволяет воздействовать на испытуемую ИС по первому входу — функционирование ИС прекращается, что фиксируется блоком 5 контроля.

Предлагаемый способ позволяет зафиксировать переходное сопротивление величиной 15-100 Ом, чем и обеспечивается повышение достоверности контроля контактирования ИС, так как становится возможным оценивать качество контактирования при различных заданных величинах переходного сопротивления, ной информативного параметра и контактным сопротивлением микросхем, в процессе испытаний определяют по измеренному значению информативного параметра вели5 чину контактного сопротивления, сравнивают его с эталонной величиной и по результату сравнения судят о качестве контактирования микросхем, причем в качестве информативного параметра выбирают раз10 ность между входным и выходным напряжениями микросхемы.

2. Способпо п.1,отличающийся тем, что при подаче импульсного воздействия на вход микросхемы его амплитуду вы15 бирают равной пороговому напряжению переключения данного типа интегральных схем, контролируют функционирование микросхемы и при его наличии считают контактирование удовлетворительным.

20 3. Способпоп, 1,отличающийся тем, что в качестве информативного параметра принимают разность между напряжением питания и напряжением выходного сигнала интегральной микросхемы.