Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки

Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для контроля формы асферических поверхностей линз в процессе их обработки. Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного производства. Устройство содержит контролируемую асферическую линзу 3, компенсатор 4, обеспечивающий автоколлимационный ход лучей после отражения от зеркальной поверхности, и анализатор 5, содержащий осветительную, эталонную и регистрирующие ветви интерферометра. Контролируемая асферическая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка. Компенсатор установлен в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона. Контроль формы поверхности заключается в анализе интерференционной картины, получаемой в результате интерференции эталонного и рабочего волновых фронтов. Рабочий волновой фронт формируется после прохождения излучения дважды через оптические элементы, закрепленные в патроне. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК ()5 G 01 M 11/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ о оь

1() д

1 (21) 4434339/10 (22) 06.05.88 (46) 07,07,91. Бюл,М25 (71) МГТУ им. Н.Э. Баумана (72) Д,Т.Пуряев, M.À.Tóð÷êoâ, B.È,Åðìèëîâ и В.В.Полетаев (53) 535.918 (088.8) (56) Технология оптических деталей. /Ред.

M.Н,Семибратов, M., 1985, с. 154, 221.

Авторское свидетельство СССР

N 613280, кл. G 01 M 11/00, 1977, (54) УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ ФОРМЫ АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ЛИНЗЫ В

ПРОЦЕССЕ ЕЕ ОБРАБОТКИ (57) Изобретение относится к оптическому приборостроению и предназначено для контроля формы асферических поверхностей линз в процессе их обработки, Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в условиях серийного производства.

Изобретение относится к оптическому приборостроению.

Целью изобретения является повышение производительности контроля в процессе обработки в серийном производстве.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства, которое содержит патрон 1 с закрепленным на нем гильзой 2 с прикрепленной на смоле обрабатываемой асферической линзой 3, которая обращена к гильзе предварительно обработанной асферической поверхностью, являющейся ее базой, Линзы 4 компенсатора закреплены в полой части патрона так, чтобы в полученной оптической системе была исправлена волновая аберрация, а также обеспечивался. Ж „„1661604 Al

Устройство содержит контролируемую асферическую линзу 3, компенсатор 4, обеспечивающий автоколлимационный ход лучей после отражения от зеркальной поверхности, и анализатор 5, содержащий осветительную, эталонную и регистрирующие ветви интерферометра. Контролируемая асферическая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе обрабатывающего станка. Компенсатор установлен в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона. Контроль формы поверхности заключается в анализе интерференционной картины, получаемой в результате интерференции эталонного и рабочего волновых фронтов. Рабочий волновой фронт формируется после прохождения излучения дважды через оптические элементы, закрепленные в патроне. 1 ил. автоколлимационный ход лучей, Кроме того, устройство содержит анализатор 5.

Устройство работает следующим образом.

Оно устанавливается на обрабатывающем станке на котором производится обработка асферической поверхности. После обработки от нее отводится режущий инструмент и со стороны обработанной поверхности линзы 3 к устройству подводится анализатор 5. В качестве анализатора используется осветительная (рабочая) эталонная и регистрирующая ветви интерферометра, Оптические элементы 3 и 4, закрепленные в патроне, являются рабочей ветвью полученного интерферометра типа Твайма на-Грина. Сравнивая волновой фронт, выходящий

1661604

Составитель В. Сячинов

РедактОр Т. Юрчикова Техред М.Моргентал Корректор М, Кучерявая

Заказ 2117 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35. Раушская наб.. 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина. 101 из рабочей ветви, с эталонным фронтом, определяют разность хода лучей интерференционной картины, которую наблюдают визуально или регистрируют на фотоприемнике, и по анализу интерференционной картины судят о качестве обработки асферической поверхности. В случае необходимости обработку целиком или по зонам можно продолжить после отвода анализатора из зоны действия обрабатывающего инструмента.

Формула изобретения

Устройство контроля формы асферической поверхности линзы в процессе ее обработки, включающее точечный источник излучения, установленный перед контролируемой асферической линзой, компенсатор с зеркальной поверхностью и анализатор

5 волнового фронта, о т л и ч а ю щ е е с ятем, что, с целью повышения производительности контроля, контролируемая линза закреплена в гильзе, жестко соединенной с патроном, установленным в шпинделе об10 рабатывающего станка, причем компенсатор установлен за контролируемой линзой в полой части патрона, а оптические оси контролируемой линзы и компенсатора совмещены с осью вращения патрона.