Способ капиллярной дефектоскопии

Способ капиллярной дефектоскопии

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к области неразрушающего контроля и может быть использовано для выявления поверхностных трещин в изделиях из металлических и неметаллических материалов. Цель изобретения состоит в повышении чувствительности и упрощении технологии капиллярного контроля. Заполнение дефектов в данном способе дефектоскопии осуществляется путем капиллярной конденсации паров пенетранта в дефектах. Тем самым контролируемая поверхность изделия остается чистой и не требует операции удаления излишков пенетранта с поверхности изделия. Дефекты при таком способе пропитки оказываются полностью заполненными, в то время как при погружении изделия в жидкость последняя заполняет дефекты на определенную глубину, равную 0,1 - 0,3 глубины самого дефекта. Поэтому за счет пропитки дефектов путем капиллярной конденсации чувствительность капиллярного контроля возрастает. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (III) (! I) (юцл G 01 N 21/91

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ,О,ЕТЕЛЬСТВУ (21) 4772026!25 (22) 22.12.89 (46) 07.07.91, Бюл. Рь 25 (71) Институт прикладной физики АН БССР (72) Г.И.Довгялло, П,П.Прохоренко, Н,В,Дежкунов и Н.П.Мигун (53) 537.37 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 521505, кл..6 01 N 21/91, 1974.

Патент США М 3789221, кл. G 01 N 21/16, 1974. (54) СПОСОБ КАПИЛЛЯРНОЙ ДЕФЕКТОСКОПИИ (57) Изобретение относится к области неразрушак)щего контроля и может быть использовано для выявления поверхностных трещин в изделиях из металлических и не металлических материалов. Цель изобретеИзобретение относится к неразрушающему контролю, а точнее к методам капиллярной дефектоскопии, и может быть использовано для выявления поверхностных трещин в изделиях из металлических и неметаллических материалов.

Цель изобретения — упрощение технологии капиллярной дефектоскопии и повышение чувствительности контроля.

На чертеже изображено устройство для реализации способа.

Устройство содержит герметичную камеру 1, нагреватель 2, кювету с пенетрантом

3, дифманометр 4. в камере размещено исследуемое изделие 5, Регулировку давления осуществляют изменением температуры нагревателя и при помощи клапана 6, который настраивается на требуемое давление и при ния состоит в повышении чувствительности и упрощении технологии капиллярного контроля. Заполнение дефектов в даннсм спообе дефектоскопии осуществляется путем капиллярной конденсации паров пенетрантэ в дефектах. Тем самым контролируемая поверхность изделия остается чистой и не требует операции удаления излишков пенетранта с поверхности изделия. Дефекты при таком способе пропитки оказываются полностью заполненными, в то время как при погружении изделия в жидкость последняя заполняет дефекты на определенную глубину, равную 0,1 — 0,3 глубины самого дефекта. Поэтому за счет пропитки дефектов путем капиллярной конденсации чувствительность капиллярного контроля возрастает. 1 ил. превышении которого стравливает часть парэ в емкость 7, ° и

Температуру в камере и температуру из- О делия поддерживают равной температуре Ос, паров пенетранта с целью исключения конденсации их на стенках камеры и на поверхности изделия. Диапазон давления пара, равный (0,8 — 0.95) Рн, обусловлен тем, что нижний предел 0,8 Рн позволяет полностью заполнить дефекты с шириной раскрытия S 80 мкм, е ееркиии предел 0.95 Рн )йе исключает конденсацию пара на поверхно- а сти изделия вследствие флуктуаций плотности материала и температуры пара.

Заполнение поверхностных тупиковых дефектов осуществляется за.счет капиллярной конденсации вследствие разницы дав,лений насыщенного пара над искривленной

1661632

Редактор О.Головач

Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор T.Kîëá

Заказ 2118 Тираж Подписное

8НИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул,Гагарина, 101 и над плоской поверхностями жидкости, Если жидкость смачивает поверхность изделия, то мениск адсорбционной пленки в тупиковой части дефекта имеет вогнутую форму и при давлении пара, меньшем чем давление насыщенного пара над плоской поверхностью, начинается его конденсация в мениске в тупиковой части дефекта и заполнение его до. достижения давления насыщенного пара над мениском пенетранта в дефекте значения давления паров пенет ранта в камере, В результате капиллярной конденсации при давлении паров пенетранта в камере (0,8 — 0,95) Рн поверхностные дефекты с шириной раскрытия <80 мкм оказывается полностью заполнены независимо от их глубины в течение 0,5 — 2 мин. Поверхность изделия при этом остается чистой, в результате чего перед нанесением проявителя не требуется, удалять излишки пенетранта с поверхности.

П.р и м е р. Проводят контроль образцов с шириной. раскрытия дефектов 5 мкм, Ширину раскрытия дефектов замеряют при помощи металлографического микроскопа. B качестве испаряемого вещества используют керасиновый пенетрант ЛЖ-IK, в качестве проявителя — проявитель ПР-1. После контроля проводят замер ширины следа дефекта. Для десяти экспериментов среднее значение ширины следа 270 мкм. Полученные результаты сравнивают с результатами, полученными при контроле стандартным способом с использованием дефектоскопического комплекта, состоящего из керосинового пенетранта ЛЖ-IK, очистителя ОЖ-1 и

5 проявителя ПР-1, обеспечивающего II класс чувствительности капиллярной дефектоскопии. После контроля стандартным способом также проводят измерение ширины следа выявленных дефектов.. Для десяти экспе10 риментов по стандартному способу среднее значение ширины следа составляет

150 мкм.

Формула изобретения

15 Способ капиллярной дефектоскопии, заключающийся в том, что очищают исследуемую поверхность изделия, пропитывают ее в течение 0,5 — 2 мин индикаторным пенетратом; наносят проявитель, проявляют и

20 выявляют следы дефектов, о т л и ч. а юшийся тем, что, с целью упрощения технологии и повышения чувствительности контроля, исследуемую поверхность пропитывают индикаторным пенетрантом

25 путем капиллярной конденсации паров пенетранта в дефектах, для чего иэделие поме-. щают в герметичную камеру, содержащую пары пенетранта при давлении 0,8 — 0,95 давления насыщенного пара пенетранта

30 над плоской поверхностью при заданной температуре, при этом температуру иэделия иддерживают равной температуре паров пенетранта,