Способ установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля электронной аппаратуры и устройство для его осуществления

Способ установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля электронной аппаратуры и устройство для его осуществления

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к автоматическому контролю и может быть использовано в системах внутрисхемного контроля (поэлементного диагностирования) собранных печатных узлов для автоматизации процесса установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля. Для упрощения способа осуществляют дополнительное электрическое соединение строк и столбцов растра контактного поля через сопротивление определенной одинаковой величины. Из каждой совокупности штырьков выбирают по одному штырьку и измеряют сопротивление между первым из этих штырьков и каждым из остальных выбранных в совокупностях штырьков. Крайний штырек определяют по максимальному значению измеренного сопротивления, измеряют и запоминают величины сопротивлений между крайним и каждым из остальных выбранных штырьков, а координату строки или столбца, определяют из математического выражения, приведенного в описании. Устройство, реализующее данный способ содержит плату адаптера 1 с контактными штырьками 4, штеккерную колодку и кабель 3. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕ ТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (51)5 G 01 R 31/02

ГОСУДАРСТВЕННЫИ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИ4ЕТЕЛЬСТВУ (21)4623357/21 (22) 20.12.88 (46) 23,07.91. Бюл. ¹ 27 (71) Винницкий политехнический институт (72) Н.П,Байда, И.Н.Котов, В.И.Месюра, И. В, Месю ра и А.М. Роик (53) 621.317.799 (088.8) (56) Байда Н.П. и др. Микропроцессорные системы поэлементного диагностирования.

М.: Радио и связь, 1987, с.56.

Заявка cD P Г.

N 0S 3414968, кл. G 01 R 31/28, 1985, (54) СПОСОБ УСТАНОВЛЕНИЯ СООТВЕТСТВИЯ МЕЖДУ КООРДИНАТАМИ ШТЫРЬКОВ КОНТАКТНОГО ПОЛЯ АДАПТЕРА И ИХ

АДРЕСАМИ В СИСТЕМЕ КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОННОЙ АППАРАТУРЫ И УСТРОЙСТВО

ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (571 Изобретение относится к автоматическому контролю и может быть использовано в системах внутрисхемного контроля (поэлементного диагностирования) собранных печатных узлов для автоматизации процес-.

Изобретение относится к области автоматического контроля и может быть использовано в системах внутрисхемного контроля (поэлементного диагностирования) собранных печатных узлов для автоматизации процесса установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера (KI1А) и их адресами в системе контроля (СК).

Цель изобретения — упрощение способа и устройства для его осуществления.

Нэ фиг. I-3 изображены соответственно плата адаптера с К0НТ.IK1f ым штырько. Ы2, 1665321 А1 са установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля, Для упрощения способа осуществляют дополнительное электрическое соединение строк и столбцов растра контактного поля через сопротивление определенной одинаковой величины, Из каждой совокупности штырьков выбирают по одному штырьку и измеряют сопротивление между первым иэ этих штырьков и каждым из остальных выбранных в совокупностях штырьков. Крайний штырек определяют по максимальному значению измеренного сопротивления, измеряют и запоминают величины сопротивлений между крайним и каждым из остальных выбранных штырьков, а координату строки или столбца определяют из математического выражения, приведенного в описании, Устройство, реализующее данный способ, содержит плату адаптера 1 с контактными штырьками 4, штеккерную колодку и кабель 3. 2 с,п. ф-лы, 3 ил. вым полем, а также первая и вторая тестплата.

Плата адаптера (фиг.1) содержит растровое контактное поле с l=6 строками и

М=7 столбцами. Адаптер 1 заканчивается штеккерной колодкой 2, от которой кабель 3 ведет к коммутатору СК. Каждый провод кабеля 3 соединяет соответствующий штырь

4.1-4.13, расположенный на плате адаптера

1. с соответствующим ключом коммутатора, имеющим определенный адрес с .СК. Этот адрес, таким образом, присваивается и соединенному с ключом коммутатора контакт1665321 ному штырю, Будем считать, что номер штырька 4! (фиг,1) совпадает с его адресом в СК. При соединении штырьков КПА с ключами коммутатора СК без заранее составленной таблицы соединений (отказ от составления которой может быть обусловлен как высокой трудоемкостью, так и необходимостью выполнения определенных условий, например, обеспечения минимальной длины соединительных проводов) соответствие адресов штырьков координатам штырьков на КПА, которые указаны на краю платы адаптера 1 (фиг. 1), сначала неизвестно вследствие беспорядочного соединенИя и может быть установлено в режиме самообучения СК в соответствии .с предлагаемым способом.

Первая тест-плата 5 (фиг.2) служит для обеспечения принудительного объединения контактных штырьков 4!, принадлежащих одним и тем же строкам растра КПА, и для принудительного объединения между собой строк растра, Первая тест-плата 5 содержит проводящие дорожки 6166, отображающие, соответственно, строки у -ув растра, лежащие в основе контактного поля, и резисторы 7,i-z — 7 -в, включенные между соответствующими парами дорожек 6>-6s.

Дорожки 6>-66, омическое сопротивление которых практически равно нулю, служат для принудительного объединения совокупностей штырей 4! контактного поля

1, имеющих одинаковую координату по оси у, т.е. принадлежащих одной строке растра

КПА.

Резисторы 71-2 — 76-в служат для принудительного объединения между собой строк растра КПА. Ддя тест-платы 5 число дорожек L=6 и /2=3. Приняв А=1 кОм, 0=10 получим, что величина сопротивления резисторов 7>-g — 7з-р равна 100 Ом. а резисторов

74-5 и 75-6 — 1 кОм. о .Координата у я средней дорожки тестплаты 5, с которой соединяются резисторы разных номиналов, равна Ycp=Y4

Вторая тест-плата 8 (фиг.3) служит для обеспечения принудительного объединения контактных штырьков 4!. принадлежащих одним и тем же столбцам растра КПА. и для принудительного объединения между собой столбцов растра КПА, Вторая тест-плата 8 содержит проводящие дорожки 9!-9т. отображающие, соответственно, столбцы х>-хт растра, лежащего в основе КПА, и резисторы 10>-р - 10ь-v, включенные между соответствующими парами дорожек 9 -9;.

Дорожки 9!-9т служат для принудительного объединения совокуп ос ей цп t рьков

4.! контактного поля, имеющих одинаковую координату по оси х, т.е. принадлежащий одному столбцу растра КПА.

Резисторы 101-г — 106-т служат для принудительного объединения между собой столбцов растра КПА, Для тест-платы 8 число дорожек M=7 и М/2=4. Координата хср средней дорожки тест-платы 8 х я=х4, величина сопротивления резисторов 10. 1-г — 10.з4 равна 100 Ом, а резисторов 104-s — 10в-т—

1 кОм.

Устройство работает следующим образом, Соответствующая тест-плата (сначала первая, а затем вторая) устанавливается на адаптер и прижимается к контактным штырькам 4. При этом штырьки 4 образуют контакт с проводящими дорожками тестплаты, в результате чего штырьки, принадлежащие одним и тем же строкам или столбцам растра (при использовании тесплат 5 или 8 соответственно), электрически объединяются между собой. а строки (столбцы) растра соединяются между собой через соответствующие резисторы, Способ осуществляется следующим образом.

На первом этапе самообучения СК тестплата 5 прижимается к штырькам 4 -4 э

КПА, и путем регистрации наличия коротких замыканий между штырями 4,! определяются совокупности адресов штырьков, принадлежащих отдельным строкам растра (имеющих общую координату у). Для примера (фиг,1) при этом получена следующая матрица

1,7,10

2,4,12,13

3,5З, 6,11

Координатные координаты у совокупностей штырьков, образующих строки матрицы, еще не известны.

Затем из каждой строки полученной матрицы выбирают по одному штырю 4. п редставля юшему соответствующую строку растра КПА(для фиг. 1 это штыри 4z, 4з,4g и4в), и измеряют суммарную величину сопротивления резисторов, включенных между штырем с младшим адресом и остальными иэ. выбранных штырей. Полученная в результате измерений матрица для рассматриваемого примера имеет следующий вид

4.2 4,3 4.6 4.9

4.1 1,3к 1;2к 1,0к 1.0к

Далее по максимальной величине измеренного сопротивления определяется крайний штырь растра КПА, имеющий наибольшую (либо наименьшую) координа1665321 ту на оси у. Затем измеряется суммарная величина сопротивлений резисторов, включенных между крайним и остальными из указанных штырей. Для примера (фиг,1) крайним является штырь 4.2, поскольку со- 5 противление величиной 1,3к, включенное между штырями 4.1 и 4.2, является максимальным из измеренных.

Матрица величин сопротивлений, измеренных относительно крайнего штыря, при- 10 нимает при этом следующий вид 4.2 4,3 4.6 4.9

4.1 1,3к 1,2к 1,0к 1,дк

Координаты строк определяют теперь по известным величинам координаты уср 15 средней точки растра КПА, значений Rn и R< суммарного сопротивления резисторов, включенных, соответственно, на верхней (левой) и нижней (правой) половинах тестfl/lBT, И ЗНаЧЕНИй RMagc И Явлин СООТВеТСТВеН- 20 но максимальной и минимальной величин сопротивлений, измеренных на данном этапе самообучения. При этом определяют так1 1 же величины сопротивлений R n u R n, включенных между средней дорожкой тест- 25 платы и дорожками. отображающими. соответственно, крайнюю верхнюю и крайнюю нижнюю строки адреса (либо его крайние левый и правый столбцы), на которых установлены контактные штырьки (на части 30 строк и столбцов растра КПА, включая крайние строки и столбцы, контактные штырьки

1 могут отсутствовать). Значение R и определяется как наименьшеее число, не меньшее

РаэнОСти Кмакс Rn, T.e. R n = (Г макс Rn), а Зна- 3 ..

1 1 чение R л вычисляют по формуле R n

RMa

Координаты строк (столбцов) растра

КПА, соответствующие искомым совокупностям штырей 4, определяются после этого 40 по значениям величин сопротивлений, включенных между искомыми и крайними штырями растра.

Определения координаты у(4.1) штыря

4.1 относительно координат крайних шты- 45 рей растра КПА осуществляется по соотношениям

-((Ru3y Rn), nPuR„u <, . л где r (Z) — единичная несимметричная функция. принимающая значения

11, если Z >0, ((О (О, если Z < 0. 55

Виам — величина сопротивления, измеренного между искомым и крайним штырями КПА.

Так, для примера (фиг,1) описанная процедура приведена при использовании тестплаты фиг.2 к следующим результатам: уср=.4, Яд=0,3 кОм, йп=2 кОм, Вмакс=2,3 кОм, Ймин=0,1 кОмсЛ=- 1 кОм. R н=(2,3-0,3)=2 кОм, 1

R д1=2,3-2=-0,3 кОм, 1 у(42)=-4+(-0.3)/0,1 х1=1, y(4 l)=4+(1,3-0,3) /1=5, у(4з)=4+(0,1-0,3)/0,1х 1=2, у(46)=4+(2,3-0.3) /1=6, у(46)=4+(0,3-0.3) /О. 1 х1=4.

На втором этапе самообучения СК по тест-плате 8 (фиг.3), осуществляемом аналогично первому этапу, получены следующие совокупности адресов замкнутых между собой штырей

1,8,4

2,7

3, 10

5, 11, 12

6,9, 13

Измерение величин сопротивлений, гключенных между представляющими столбцы растра КПА штырьками 41. 42, 4з, 46 и 4г дает следующие результаты

42 4з 45 46

4l 1,2к 2,0к 1.1к 1,0к

Сопротивления. измеренные относительно крайнего штыря 4.3. имеют следующие значения

4l 4в 46 46

4з 2,0к 3,2к 3,1к 1,0к

С учетом значений хср=-4, Вл=-0,3 кОм, Ru--3 кОм, R „=(3,2-0,3)=3 кОм, R n=3,2-3=0,2 кОмЯ„ин=1кОм, — Л, получаем х(4з) -4 (-3)/1=-7, х(4 >):: 4-(2-3) /1 =5. х(42) =4-(3,2-3)/0,1 х 1=-2, x(46)- 4-(3,1-3)/0,1х 1=3. х(4г)-4-(1-3) /1 =-6.

Искомое соответствие достигается теперь сортировкой адресов штырьков по координатам строк и столбцов с учетом первого и второго этапов самообучения СК, например для КПА (фиг.1) штырьки 4l, 4Т и

4lp имеют одинаковую координату у, поскольку они расположены на одной строке растра КПА, о чем свидетельствует этап самообучения СК по тест-плате 5. Аналогично, координата х=7 штыря 4.3 присваивается и штырю 4lp. расположенному на том же столбце растра КПА, что и штырь 4з, о чем свидетельствуют результаты второго этапа самообучения СК по тест-плате 8.

Для примера (фиг.1) искомые результаты. полученные при осуществлении предложенного способа. принимают вид поле проведения сортировки

1665321

41424344454 647 1849410411412413 х 5 2 7 5 3 6 2 5 6 7 3 3 9 у51 21265245611

Формула изобретения 5

1,Способ установления соответствия между координатами штырьков контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля электронной аппаратуры, заключающийся в том, что электрически объеди- 10 няют штырьки, принадлежащие к одним и тем же строкам, а затем штырьки, принадлежащие одним и тем же столбцам растра, измеряют сопротивления между штырька; ми с неизвестными координатами при обь- 15 единении про строкам и столбцам, по результатам измерений сопротивления определяют совокупность штырьков, соединенных между собой, и устанавливают распределение штырьков по строкам и столбцам, о т л и ч- 20 а ю шийся тем, что, с целью упрощения способа, осуществляют дополнительное, электрическое соединение строк и столбцов растра контактного поля через сопротивления определенной величины, из каждой со- 25 вокупности штырьков, соединенных между собой, выбирают по одному штырьку и измеряют сопротивление между первым из этих штырьков и каждым из остальных выбранных в совокупностях штырьков, край- 30 ний штырек определяют по максимальному значению измеренного сопротивления, измеряют и запоминают величины сопротивлений между крайним и каждым из остальных выбранных штырьков, а коорди- 35 нату строки или столбца, которым принадлежит очередной штырек и вся совокупность соединенных с ним штырьков, определяют по соотношению

-г((Кизм 4)npuRмии <й >40

/cp (Ru3 Rn)/ " (41)= („ - (й„,м-3и)ирцЯ„„„>>11 асср "изм пnu 1 Г1 где ycp — координата средней строки (столбца) растра контактного поля;

Л вЂ” максимальное значение сопротив- 45 ления принудительно включаемого между соседними строками (столбцами) растра; п — целое число. превышающее максимальное число соседних строк (столбцов) растра контактного поля адаптера, на которых не установлен ни один контактный штырек;

1 макс, Вмин соответственно максимальная и минимальная величины сопротивлений, измеренных на соответствующем этапе

R n, R n — суммарные величины сопро1 тивлений, принудительно подключаемых соответственно между средней и крайней левой, и средней и крайней правой строками (столбцами) растра, на которых установлены контактные штырьки;

tg ) — единичная несимметричная функция, принимающая значения (z) Ã1, если Z 0, (О, если Z< О;

1 1 1

R и = (Ймакс Rnj, R л=Вмакс R и, где Rn — суммарная величина сопротивления, включенного, соответственно, между средней и крайней левой дорожками соответствующей тест-платы; (Z)- наименьшее целое число не меньшее

Z.

2.Устройство для установления соответствия между координатами штырькОв контактного поля адаптера и их адресами в системе контроля электронной аппаратуры. содер>кащее две тест-платы, совпадающие по размерам с размерами контактного поля адаптера и содержащие проводящие дорожки, соединенные через штырьки контактного поля соответственно со строками у;((=Щ и столбцами x> O=1 M) растра, соединенного со штырьками контактного поля адаптера,о т л и ч а ю щ е е с я тем, что. с целью упрощения, между каждой парой соседних дорожек у1, yl+1 первой тест-платы и между каждой парой соседних дорожек х1, х;+1 второй тест-платы включены соответственно резисторы й;, и-1 и Rj, I+1 с величиной сопротивления R= Л/и при 1 < L/2, j< М/2 и R=h, ïðè Ы /2, j>M/2.

166532! (12 о о о ф о 4у

Хд Х9 Х5

Рг. .1

Фиа2

Составитель В. Степанкин

Техред М.Моргентал Корректор М. Кучерявая

Редактор В. Данко

Заказ 2390 Тираж 430 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобрегениям и открытиям при VHT СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина. 101