Способ измерения толщины непроводящих слоев многослойных изделий

Способ измерения толщины непроводящих слоев многослойных изделий

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля изделий, имеющих диэлектрические , немагнитные покрытия, нанесенные на проводящие цилиндрические основания небольшого диаметра. Цель изобретения - повышение точности измерений. Дня этого непосредственно через стенку проводящего изделия, имеющего наружный диаметр D, на которое нанесено диэлектрическое покрытие 2. толщину которого h необходимо измерить, пропускают электрический ток силой I от источника б, измеряют напряженность Н магнитного поля измерительным приемником 4 преобразователь которого 5 расположен в зоне контроля Толщину покрытия определяют по формуле h I/2 л Н - D/2 1 ил

союз соВетских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (5 )5 G 01 В 7/06

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4731925/28 (22) 26.06,89 (46) 23.09.91, Бюл.%35 (72) Я.Н.Фроликов, А.А.Белаш, А.С.Коваль и

И.В.Волоконская (53) 531,717.7 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 619783, кл. G 01 В 7/06, 1977. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕПРОВОДЯЩИХ СЛОЕВ МНОГОСЛОЙНЫХ

ИЗДЕЛИЙ (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля изделий, имеющих диэлектрические, немагнит ные покрытия, нанесенные

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для измерения толщины наружных защитных диэлектрических немагнитных покрытий на цилиндрических проводящих объектах небольших диаметров (например, трубах), Цель изобретения — повышение точности измерений при контроле толщины непроводящих покрытий на цилиндрических проводящих иэделиях, На чертеже представлена схема для реализации способа, Цилиндрическое изделие 1 с непроводящим покрытием 2, имеющее наружный диаметр О, включено в электрическую цепь, состоящую иэ источника тока 3 и амперметра 4.

На поверхности покрытия 2, в зоне кон-троля, устанавливают преобразователь 5 измерительного приемника (измерителя поля) 6. Ток пропускают непосредственно через стенку контролируемого иэделия 1. По

„„Я „„1679178 А1

2 на проводящие цилиндрические основания небольшого диаметра, Цель изобретения— повышение точности измерений. Для этого непосредственно через стенку право ящего иэделия, имеющего наружный ди метр О, на которое нанесено диэлектрическое покрытие 2, толщину которого h необходимо измерить. пропускают электрический ток силой I от источника 6, измеряют напряженность Н магнитного поля измерительным приемником 4. преобразователь которого 5 расположен в зоне контроля. Толщину покрытия определяют по формуле h = I/2 л НО/2, 1 ил. известным значениям наружного диаметра

О изделия, силе проходящего тока I и значению напряженности магнитного поля Н, определяют толщину покрытия по формуле

2лН 2

Применение предлагаемого способа позволяет повысить точность измерения, так как результат измерения не зависит от изменения электропроводности и магнитных свойств изделия, а также, в случае уменьшения наружного диаметра иэделия О и одних и тех же значениях толщины покрытия и силе пропускаемого тока, возрастает напряженность магнитного поля на поверхности измеряемого покрытия, что эквивалентно повышению чувствительности преобразователя.

Формула изобретения

Способ измерения толщины непповодящих слоев многослойных изделий, заключающийся s том, что через проводник, 1679178 используют стенку изделия, а толщину покрытия рассчитывают из соотношения

Составитель И.Юрьева

Техред М,Моргентал Корректор С,Шевкун

Редактор Л,Лашкова

Заказ 3200 Тираж 368 Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 расположенный под непроводящим слоем, пропускают электрический ток, и по сигналу преобразователя, расположенного на поверхности слоя, судят о его толщине, о т л ич а к ®Фй с ÿ тем, что, с целью повышения точности при контроле толщины непроводящих покрытий нэ цилиндрических проводящих изделиях, в качестве проводника

1 0

5 2лН 2 где 0 — наружный диаметр изделия;

1 — сила пропускаемого. тока;

Н вЂ” напряженность магнитного поля.