Способ измерения линейных параметров детали на микроинтерферометре

Способ измерения линейных параметров детали на микроинтерферометре

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля положения объекта по трем координатам. Целью изобретения является повышение информативности . На одном прозрачном позитиве фиксируют проекционные и интерференционное изображения эталонной детали. На этот же позитив проецируют проекционные и интерференционное изображения исследуемой детали. Микрометрическими винтами совмещают характерные точки интерференционных изображений и по отсчетам винтов определяют линейные параметры детали.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (505 G 01 В 11/00

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4734988/28 (22) 03.07.89 (46) 07.10.91. Бюл. М 37 (71) Всесоюзный научно-исследовательский и конструкторский институт средств измерения в машиностроении (72) Г.Б. Кайнер. (53) 531.717,2 (088.8) (56) Микроинтерферометр Линника МИИ-4.

Инструкция к пользованию. ЛОМО, 1970, с. 15 — 20, (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ

ПАРАМЕТРОВ ДЕТАЛИ НА МИКРОИНТЕРФЕРОМЕТРЕ

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля профиля сложной формы.

Цель изобретения — повышение информативности.

Способ осуществляется следующим образом.

Устанавливают на столике микроинтерферометра МИИ-4 эталонную деталь и получают ее проекционные иэображения по двум направлениям в пределах резкой фокусировки и интерференционное изображение по третьему.. Фиксируют эти изображения на одном прозрачном позитиве, который используют в микроинтерферометре в качестве экрана.

Устанавливают на столике микроинтерферометра.исследуемую деталь и получают на экране ее проекционные и интерференционное иэображения. С помощью микро„„5U„, 1682765 А1 (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в машиностроении для контроля положения объекта по трем координатам. Целью изобретения является повышение информативности. На одном прозрачном позитиве фиксируют проекционные и интерференционное изображения эталонной детали. На этот же позитив. проецируют проекционные и интерференционное изображения исследуемой детали. Микрометрическими винтами совмещают характерные точки интерференционных изображений и по отсчетам винтов определяют линейные параметры детали. винтов совмещают проекционные и интерференционное изображения эталонной и исследуемой деталей нз экране.

Определяют смещения изображений исследуемой детали относительно изображений эталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали.

Формула изобретения

Способ измерения линейных параметров детали на микроинтерферометре, заключающийся в том, что устанавливают деталь на столике микроинтерферометра, получают ее интерференционное изображение и определяют параметры исследуемой детали, отличающийся тем, что, с целью повышения информативности, перед установкой исследуемой детали устанавливают на столике эталонную деталь и получают ее интерференционное проекционные

1682765

Составитель В. Костюченко

Техред М.Моргентал Корректор С. Шевкун

Редактор В. Данко

Заказ 3401 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, улХагарина, 101 изображения, фиксируют на одном прозрачном позитиве интерференционное и проекционные изображения, после установки исследуемой детали используют этот позитив в качестве экрана, на котором получают ее проекционные и интерференционное изображения, с помощью микровинтов микроинтерферометра совмещают проекционные и интерференционное иэображения исследуемой детали с соответствующими иэображениями на позитиве, определяют смещения изображений иссле.5 дуемой детали относительно изображений эталонной детали на позитиве и используют полученные данные при определении параметров исследуемой детали.