Способ определения толщины пленок на подложке

Способ определения толщины пленок на подложке

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению толщины пленок. Цель изобретения - измерение толщины пленок на микровосковой основе. В микровосковой состав вводят при перемешивании люминофор в концентрации 1 ...5% к сухому остатку, покрывают защищаемый материал или изделие и после высыхания определяют прибором Блескомер тип ФБ-2, в датчик которого вместо осветительной лампы накаливания вставлена УФ-лампа, величину коэффициента яркости , по которому судят о толщине пленки. 1 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (I 9} (1 I) (я)5 G 01 В 11/06

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4692355/28 (22) 22.05.89 (46) 07.10.91. Бюл. М 37 (72) В.А. Ишутин, Т.Н. Ивонина и В,А, Арнаутова (53) 531 717.1 (088.8) (56) Авторское свидетельство СССР

М 99388, кл. G 01 В 11/06, 1952. (54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ

ПЛЕНОК НА ПОДЛОЖКЕ (57) Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению толщиИзобретение относится к измерительной технике, а именно к защите материалов от внешних воздействий факторов.

Целью изобретения является измерение толщины пленок на микровосковой основе.

На чертеже изображен график зависимости коэффициента яркости пленок из состава ИВ ВС вЂ” 706М с добавкой люмогена 3 к c,о. от толщины пленок, Способ осуществляют следующим образом.

Определяют толщину защитной пленки микровоскового состава ИВВС-706М с введенным в него люмогеном светло-желтым

564К в концентрации 3 к сухому остатку.

Для этого образцы из сплава Д16 Т размером 50х50х2 мм, покрытые грунтовкой АК069, взвешивают на весах и с помощью краскораспылителя покрывают составом

ИВВС-706М с введенным s него люмогеном. Причем покрытие составом осуществляют так, чтобы на каждом последующем ны пленок. Цель изобретения — измерение толщины пленок на микровосковой основе.

В микровосковой состав вводят при перемешивании люминофор в концентрации 1...57( к сухому остатку, покрывают защищаемый материал или изделие и после высыхания определяют прибором "Блескомер" тип

ФБ — 2, в датчик которого вместо осветительной лампы накаливания вставлена

УФ-лампа, величину коэффициента яркости, по которому судят о толщине пленки, 1 ил, защищаемом образце масса состава была в

2 раза больше, чем на предыдущем.

Покрытые составом образцы высушива- Д ют на горизонтальной поверхности в течение 24 ч при температуре 20 + 2 С и на них определяют толщину защитной микрово- О сковой пленки в следующей последовательности. Сначала высушенные образцы взвешивают и определяют толщину пленки на каждом из них по массе состава и его плотности (весовой метод). Затем блеска- О мер фотоэлектрического типа ФБ — 2, в котором лампу накаливания заменяют на

УФ вЂ” лампу, устанавливают на исследуемый образец и снимают показания прибора. Таким образом исследуются все образцы, покрытые составом ИВВС-706М.

По полученным данным строят калибровочный график (см. чертеж), из которого, зная коэффициент яркости, можно определить толщину пленки на микровосковой основе, нанесенной на грунтовку.

1682767

Формула изобретения

Способ определения толщины пленок на подложке, заключающийся в том, что в состав пленки вводят дополнительное вещество, освещают пленку, регистрируют параметры, характеризующие взаимодействие света с дополнительным веществом, и по ним судят о толщине пленки, о т л и ч аю шийся тем, что, с целью измерения

О _#_ МО О 8д 00 120

Тоащина юю

Составитель В. Климова

Техред M,Ìoðãåèòàë Корректор Н. Король

Редактор В. Данко

Заказ 3401 Тираж Подписное

ВКИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101

60 уО а 53

Ъ и so

4 толщины пленок на микровосковой основе, в качестве дополнительного вещества вводят при перемешивании люминофор в концентрации 1„.5.7 к сухому остатку, 5 освещение производят ультрафиолетовым излучением, а в качестве регистрирующего параметра выбирают величийу коэффициента яркости свечения люминофора в УФ излучении.