Патент ссср 168915
Иллюстрации
Реферат
ОПИСАНИЕ
ИЗОБРЕТЕНИЯ
К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ!
689И
Союз Советских
Социалистических
Реслублик
Зависимое от авт, свидетельства №
Заявлено 11.Х11.1963 (№ 869966 26-25) Кл. 42h, 34 с присоединением заявки №
ЧПК С 02d
УДК 535.853.4(088.8) Государственный кемитет по делам изобретений и открытий СССР
Приоритет
Опубликовано 26.11.1965. Бюллетень № 5
Дата опубликования описания 23.XI.1965
Авторы
ФЕРОл 1ЕТР проходит вторично через пластину А, а затем через вторую разделительную пластину В.
Оое пластины расположены в фокусах эллипса. Часть света, прошедшая через пластину А, 5 отражается от Мх и от пластины В. Таким образом, пути лучей в интерферометре равнозначны.
1о На фиг. 2 пластинка С компенсирует разность хода в ветвях интерферометра, образующуюся за счет прохождения лучом второи разделительной пластины.
Интерферометр для исследования прозрачных неоднородностей, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений за
20 счет двукратного прохождения луча в исследуемом объекте и локализации полос в любой точке его, в основу геометрического построения положен эллипс, в фокусах которого расположены две разделительные пластины, а vo
25 касательным — зерка„Ià, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения этих касательных к эллипсу.
Известны интерферометры для исследования прозрачных неоднородностей, в которых осуществляется либо двукратное прохождение луча в исследуемом объекте, либо локализация полос в любой точке объекта, Предложенный ингерферометр позволяет объединить эти способы исследования.
В основу геометрического построения предложенного интерферометра положен эллипс, в фокусах которого находятся две разделительные пластины, а по касательным — зеркала, одно из которых перпендикулярно большой оси, причем направления всех элементов интерферометра пересекаются в точке пересечения касательных к эллипсу.
Для компенсации разности хода лучей в стекле в одну из ветвей интерферометра помещена плоскопараллельная стеклянная пластина, толщина которой равна толщине второй (по ходу луча) разделительной пластины.
На фиг. l изображена принципиальная схема построения интерферометра; на фиг. 2— та же оптическая схема с введенной компенсационной пластиной.
Свет от источника (на чертеже не изображен) отражается разделительной пластиной А на зеркало М, и проходит на зеркало М.
Зеркала расположены по касательным к эллипсу. Далее свет, отраженный от зеркала Мь
Подписная группа № 170
АМ + М1А + АВ =АМх+М2В.
Предмет изобретения
1В8915
Составитель Л. Я. Гойхман
Редактор Б. Шнейдерман Техред Л. К, Ткаченко Корректор Л. E. Марнсич
Заказ 3257717 Тираж 775 Формат бум. 60р, 90 /ц Объем 0,13 изд. л. Цена 5 коп.
ЦЫ1ИГ1И Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР
Москва, Центр, пр. Сеоова, д. 4.
Типография, пр. Сапунова, 2.