Способ анализа ионов, близких по массе

Способ анализа ионов, близких по массе

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А Н И Е l72ll7

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 421, 3 09

Заявлено 19.I I.1964 (№ 882245/26-25) с присоединением заявки №

Приоритет

МПК G 01п

УДК 531.75(088,8) Государственный комитет по делам изобретений и открытий СССР

Опубликовано 22.VI.1965. Бюллетень № 12

Дата опубликования описания 20.UII.19á5

"1

1 .е

В. И. Хвостенко и А. Ш. Султанов 1

Институт органической химии Башкирского государствен ого университета

Авторы изобретения

Заявитель гг Х11й <,1.„"„д, 6 <6."11ОТс1Ц

СПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ, БЛИЗКИХ ПО МАССЕ

Предмет изобретени я

Подписная группа № 178

Известны способы анализа ионов, близких ло массе, с применением масс-спектрометров с высоким разрешением.

Предложенный способ отличается от известного тем, что в масс-спектрометре применен ионный источник с отрицательной поверхностной ионизацией, позволяющий повысить точность анализа.

Сущность изобретения поясняется на примере анализа серы в присутствии кислорода.

Здесь исключение влияния кислорода на результаты определения серы достигается применением в масс-спектрометре ионного источника с отрицательной поверхностной ионизацией. При температуре катода 2500 †28 К образуются только атомные отрицательные ионы, т. е. ионы 0-, на катоде не образуются.

Ионы S — образуются на поверхности катода из молекул сернистых соединений, 10 Способ анализа ионов, близких по массе, с применением масс-спектрометра, отличагощийся тем, что, с целью повышения точности, применяют ионный источник с отрицательной поверхностной ионизацией.