Способ определения оптических характеристик

Способ определения оптических характеристик

Реферат

 

l7345I

ОПИСАН ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

Союа Советских

Социалистических

Реппублик

Зависимое от авт. свидетельстза №

Кл. 42h, 14/01

Заявлено 26. т .1964(1тв 902714/26-10) с присоединением заявки №

Приоритет

Опубликовано 09.Х.1967. Бюллетспь ¹ 21

Дата опубликования описания 8.XII.1967

МПК С 02d

Комитет по делам иаобретеиий и открытий при Совете Мииивтрвв

СССР

УДК 535-92(088.8)

621.383. 299 (088.8)

681.2.083 (088.8) Авторы изобретения

С. Л. Якубович и А. А, Ширявцев

Заявитель

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК

ЫИКРООЬЪЕКТОВ В ОТРАЖЕННОМ И ПРОХОДЯЩЕМ

MOHOXPOMATH×ÅÑÊOÌ И ПОЛЯРИЗОВАННОМ СВЕТЕ

Известные способы определения оптических характеристик микрообъектов в отраженном и проходящем монохроматическом и поляризованном свете, согласно которым на предметный столик микроскопа устанавливают эталонный препарат и регистрируют значение величины тока на выходе фотоэлектронного умножителя с последуюшим сравнением его со значением подобного сигнала, полученного при отражении от исследуемого объекта, требуют перемещения исследуемого объекта в процессе измерений, Предложенный способ отличается от известных тем, что значения, обусловленные отражением от эталонного образца и непосред"твенно от лампы осветителя в необходимых ооластях спектра, сигналов сводят в таблицу, устанавливают на место эталонного образца измеряемый объект, а о величине измеряемого параметра последнего судят по соотношению сигналов, обусловленных отражением от исследуемого образца и соответствующим табличным значениям. Указанные отличия позволяют исключить перемещения объекта в процессе измерения.

При определении оптических характеристик предложенным способом используют микроскоп с двумя фотоэлектрическими насадками, размещенными над и под микроскопом.

Кроме того, в тубусе микроскопа устанавливают отражательную поворотную пластину, предназначенную для излома пучка лучей от лампы осветителя. На предметный столик микроскопа устанавливают эталонный препарат, например призму полного внутреннего отражения, и регистрируют величину полученного на выходе фотоэлектронного умножения (ФЗУ), затем составляют таблицы соответствия подающего и отраженного или прошедше10 го световых потоков при заданной длине волны.

После этого заменяют эталонный препарат измеряемым образцом, устанавливают табличное значение светового потока, падающего на

15 объект при заданной длине волны, и по величине сигнала на выходе ФЭУ судят об отражательной способности измеряемого образца.

Таким образом однажды произведенная градуировка ФЭУ и составленная таблица со20 ответствия передающего и отраженного световых потоков при заданных значениях длин волн позволяет исследовать образец в необходимом диапазоне длин волн и освещенностей без замены его эталонным препаратом.

Пр едм ет изобретения

Способ определения оптических характеристик микрообъектов в отраженном и проходящем монохроматическом и поляризованном

30 свете, согласно которому на предметный сто173451

Техред Т. П. Курилко Корректоры: О. В. Тюрина и С. Ф. Гоптаренко

Редактор Л. А. Утехина

Заказ 3813/16 Тнракк 535 Подписное

ЦНИИПИ Комитета по делам изобретений и открытий при Совете Министров СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д. 4

Типография, пр. Сапунова, 2 лик микроскопа устанавливают эталонный препарат и регистрируют значения величины тока на выходе фотоэлектронного умножителя с последующим сравнением его со значением подобного сигнала, полученного при отражении от исследуемого объекта, отличающийся тем, что, с целью исключения перемещения исследуемого объекта в процессе измерений, значения, обусловленные отражением от эталонного образца и непосредственно от лампы осветителя в необходимых областях спектра, сигналов сводят в таблицу; устанавливают на место эталонного образца измеряе5 мый объект, а о величине измеряемого параметра последнего судят по соотношению сигналов, обусловленных отражением от исследуемого образца, и соответствующим табличным значениям.