Способ измерения профиля поверхности

Способ измерения профиля поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к области иЗмерительной техники. Целью изобретения является расширение области применения путем измерения радиусов как внутренних, так и наружных сферических поверхностей крупногабаритных изделий. Сущность изобретения заключается в том. что для измерения формируют слепок поверхности с помощью свернутой вокруг эластичной пленки, например магнитофонной. Слепок используют в качестве образца измерения параметров профиля поверхности и радиуса кривизны. Изобретение обеспечивает возможность измерения радиусов кривизны крупногабиритных сферических изделий. 3 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (sl)5 G 01 В 5/20

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 47841 09/28 (22) 19.01.90 (46) 30.05.92. Бюл. М 20 (71) Пензенский политехнический институт (72) Е.М. Кирин, В.П. Зелбв, И.А. Вагаев и

О.В. Медведев (53) 531.717(088.8) (56) Политехнический словарь. М.: Советская энциклопедия, 1977, с. 482.

Патент Франции

М 2274019, кл. G 01 В 5/20, 1974. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПРОФИЛЯ ПОВЕРХНОСТИ (57) Изобретение относится к области измеИзобретение относится к области измерительной техники, а именно к способам измерения профиля поверхности, например, крупногабаритных сферических изделий, и измерения радиуса их кривизны, Известен способ измерения профиля поверхности, например радиуса кривизны сферических изделий; с помощью сферометра.

Недостатком способа является невозможность измерения и контроля поверхности крупногабаритных изделий.

Наиболее близким к предлагаемому по технической сущности является способ измерения параметров профиля поверхности с помощью слепка, Для контроля профиля матрицы используют слепок, состоящий из контактного слоя, наносимого на поверхность матрицы, смеси на основе смолы, отвердителя. Части слепка, полученного путем заполнения углублений матрицы, собираются с помощью клеящего вещества.

„„Я2„„1737253 А1 рительной техники. Целью изобретения является расширение области применения путем измерения радиусов как внутренних, так и наружных сферических поверхностей крупногабаритных иэделий. Сущность изобретения заключается в том, что для измерения формируют "слепок" поверхности с помощью свернутой вокруг эластичной пленки, например магнитофонной. "Слепок" используют в качестве образца измерения параметров профиля поверхности и радиуса кривизны. Изобретение обеспечивает возможность измерения радиусов кривизны крупногабиритных сферических изделий. 3 ил.

Недостатки способа: необходимость использования дефицитных-материалов (гипс, цемент, смола, отвердитель, наполнитель и т.д.); большая трудоемкость изготовления слепка, значительная себестоимость, необходимость тщательной подготовки измеряе- (Ъ мой поверхности.

Кроме того. способ не может быть использован для измерения профиля поверхности сферической формы, так как для этого необходимо получить слепок в виде правильного шарового сегмента, измерить его параметры (хорду и стрелу прогиба) и рассчитать радиус. Формирование слепка в ви- д де правильного шарового сегмента по этому способу практически невозможно. Это сужает возможности способа и область его применения.

Цель изобретения — расширение области применения путем измерения радиусов как внутренних, так и наружных сферических поверхностей крупногабаритных изделий, а также упрощение способа.

1737253

Поставленная цель достигается тем, что согласно способу измерения профиля поверхности, включающему формирование слепка на поверхности изделия, фиксацию его клеящим веществом, снятие с поверхности изделия и измерение параметров профиля, формирование слепка выполняют из свернутой в круг эластичной пленки, ребра слоев которой перемещают относительно друг друга до совмещения с профилем измеряемой поверхности.

На фиг. 1 изображена схема снятия слепка; на фиг. 2 — круг эластичной пленки; на фиг. 3 — то же, поперечный разрез.

Способ осуществляют следующим образом.

Сначала подготавливают круг эластичной пленки. Диаметр круга может быть любым, желательно 50 — 200 мм. Ширина пленки 5.-25 мм. Наиболее целесообразно использовать магнитофонную пленку шириной 6 мм и пленку от ЭВМ шириной 10-25 мм. Кроме того, в качестве пленки могут быть использованы бумажная телеграфная лента, индикаторная, диаграммная лента, перфолента, полиэтиленовая лента, тканая лента. Конец пленки склеен с кругом, Плотность скручивания пленки должна быть достаточной для свободного формирования слепка и одновременной самофиксации слоев.

Затем кладут круг на внешнюю или внутреннюю поверхность сферического изделия, прижимают его к поверхности и формируют слепок поверхности изделия путем перемещения ребер слоев относительно другдруга до совмещения с профилем измеряемой поверхности. Далее внешнюю поверхность круга смазывают любым клеем (БФ-6, "Момент", ацетон и т.д.) и фиксируют слои пленки с целью сохранения первоначальной формы слепка. В случаедостаточной плотности слоев клей можно не использовать.

Полученный слепок используют в качестве образца для измерения параметров профиля поверхности и радиуса кривизны, например, с яомощью сферометра.

Пример. Измеряли радиус сферического днища химического аппарата обье10

15 позволяет расширить область применения.и производить измерения сферических изде20

45 мом 3 мз, диаметром 2,0 м. Для измерения испольэовали круг магнитофонной пленки шириной 6 мм, диаметром круга 80 мм. Снимали слепок с поверхности днища, фиксировали его внешнюю сторону клеем "Момент", затем измеряли с помощью сферометра параметры слепка и оп ределяли радиус сферического днища — 1502,8 мм. Результаты проверяли по чертежу, радиус сферического днища — 1500 мм. Ошибка измерения — около 0,27 (очень низкая для таких габаритов изделия), По сравнению с известным, предлагаемый способ имеет следующие преимущества: лий любого диаметра, любых габаритов как с внешней, так и с внутренней стороны; позволяет измерять радиусы изделий, которые находятся в эксплуатации и не могут быть двмонтированы для производства измерений; позволяет расширить возможности приборов, применяемых для измерения параметров профиля, например сферометров.

Кроме того, способ имеет точность, не уступающую точности измерения натуральных образцов, прост и эффективен.

Способ может быть использован в измерительной технике для измерения параметров профиля поверхности, например радиусов сферических изделий любых размеров, в различных областях народного хозя йст ва.

Формула изобретения

Способ измерения профиля поверхности, включающий формирование слепка на поверхности изделия, фиксацию его клеющим веществом, снятие с поверхности изделия и измерение параметров профиля, о тл и ч а ю щи и с я тем, что,,с целью расширения области применения путем измерения радиусов как внутренних, так и наружных сферических поверхностей крупногабаритных изделий, формирование слепка выполняют из свернутой в круг эластичной пленки, ребра слоев которой перемещают относительно друг друга до совмещения с профилем измеряемой поверхности.

1737253

Составитель E.Âàêóìîâà

Редактор Л.Веселовская Техред М.Моргентал Корректор C. девкун

Заказ 1882 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский. комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина. 101