Устройство для контроля профиля поверхности оптического волокна

Устройство для контроля профиля поверхности оптического волокна

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть испльзовано для койтроля профиля поверхности оптического волокна. Целью изобретения является расширение технологических возможностей при измерении оптического волокна. При измерении контролируемую деталь 5 прижимают торцом к планке 10 и поворачивают на угол, кратный 360° с помощью планки 9 деталь 5 занимает фиксированное положение в V-образной канавке призмы. При этом с помощью объектива 2 и окуляра микроинтерферометра наблюдают интерференционную картину в процессе дискретного вращения детали 5, по которой судят о величине торцового биения. 2 ил.

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (Я)5 6 01 8 11/27

6vdA

73 13

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

J (21) 4828513/28 (22) 22.03.90 (46) 23,06.92. Бюл. М 23 (71) Московский радиотехнический институт

АН СССР (72) В.M,Âàòóòèí и А.Н.Родионов (53) 531.717(088.8) (56) Fein Werktechn Messtechn. 1986, 94, М

6, с. 383-385.

Микроинтерферометр МИИ-4. Техническое описание ЛОМО, 1986, с. 12. (54) УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ llPQФИЛЯ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКОГО ВОЛОКНА

„„5U, 1742614 А1 (57) Изобретение относится к измерительной технике и может быть испльзовано для

KoHTpoJIR профиля поверхности оптического волокна. Целью изобретения является расширение технологических возможностей при измерении оптического волокна. При измерении контролируемую деталь 5 прижимают торцом к планке 10 и поворачивают на угол, кратный 360 с помощью планки 9 деталь 5 занимает фиксированное положение в Ч-образной канавке призмы. При этом с помощью объектива 2 и окуляра микроинтерферометра наблюдают интерференционную картину в процессе дискретного вращения детали 5, по которой судят о величине торцового биенйя. 2 ил. изобретение GTHocMTcA к т8хнике Вала" канна-оптической связи, в частности к cilGсабам технОлогическага КОНТропА, и мажет быть йсг!Ол>ьзовано дл>1 контроля! ка !ества сборки Оптических соеДинит8лей (ОС) и Волоконноа-оптических датчиков (ВОД).

Од "1Ой из з— >10ßAð>i! сборки волокон!!оаптических узлов и устрОйстВ яВляется контроль геометрических паpзметран сть1куемых частей и, В частности, кОнтроль торцавага биения аптическ>их Волокон (OB) в GC и элементах ВОД, существенно влия10ще! 0 на э >фективнасть Ax p850Tb!.

Наконе 1ник ОС и стыкуемые части ВОД н общем случае преДстзнляк3т сОбОЙ цилиндрические втулки с "=-акрепленными в них

Off> тзкил: ас! 033034, что ась втулок с апреде" ле! 1 наи l0!!1!Ость!О сон! >ада т с Ocf>IO ОБ. При этом Таацаная f1086pKHOC!ь I3TVJIOK ДОЛжна бь!Ть сан ле!цена н г>рацессе обработки с

:0>рцанай, lанерхнасз ью ОБ, Б>еличинз, Оп;:;-.Деля оща ; "-,епень .Отклонения торцовой G66pK>:эс1!>1 OB OT "1066pXIIGCTL4, ПерП6НДИкулярнай f30;I элемента, называется торцовым of",6I«lем ОВ, Этз величина влияет на потеаи, де:1аляриззци!О и дисперси!О излучени, н ОВ и элементах ВОД, Изнест!!О устраЙстна для контроля пр0филя панерхносги, н котором измеритель-!

If>iM щупам касаются, в заданнОЙ тачке торцовой поверхнаст"I и измеряют величину перемещения кон гакгнай части щупа при вращении контролируемой детали вокруг

0 1!

Недос1аткам — àêîãî устройства является неабходимосгь механического контакта с контролируемой поверхностью, а также необходимость искл!Очения поступательной и нраща1нльной степеней свободы в процес-. се вращения, Кроме того, для обеспечения адекватности результатов измерений профилю исследуемой поверхности необходимо точно выдержиВат усилие касания щупа и скорость вращения контролируемой дета.ли.

Извес!на также устройство для контрол!>з про4>иля поверхности, состоящее из микроинтерферометра с предметным столиком, который расположен перпендикулярна оси обьектива, в котором на пред-. метном столике микраинтерферометра размещают деталь таким образом, что ее контролируемая поверхность оказывается сопряженной с поверхностью столика, При этом деталь жестко закрепляют на столике, исключая таким образом ее перемещение.

Недостатком указанного устройства является Отсутствие ВОзмо>жнОсти ОсущестВлять измерения величины торцового биения микроповерхности относительно оси вращения

50 рабочей поверхности столика V-образной призмы, биссектарная плоскость кОтОрОЙ перпендикулярна рабочей поверхности столика и сонмеще!!а с оптической осью обьектина, опорной планки с полуотверстием на одной из кромок, установленной н пазу, кота рыГ1 13ы пал нен в призме так, чта плоскости симметрии планки и призмы совпадают, и прижимной планки, установленной нз призме с возможностью взаимодействия с опорной планкой са стороны полуотнерстия, диаметр которого ранен диаметру поля зрения обьектива микраи!гтерферометра.

На фиг,1 представлена предлагаемое устройство, общий нид; на фиг.2 — V-образная призма с элементами фиксации цилиндрического наконечника ОС и способ размещения наконечника ОС в V-образной канавке призмы (нид А), Устройство содер>кит микраинтерферометр 1. абьектин 2 микраин1ерферометра, столик 3 микроинтерфераметра, призму 4 с

V-образной канавкой, контролируемую деталь 5, микранинты 6 вертикальнога и гориэантальнога перемещения, биссекторную г1ласкость 7 V образной канавки, винт 8 крепления призмы к столику микраинтерфеpoII6Tna, при>кимну!О планку 9, опорную планку 10, отрезок 11 ОБ, заделанный н контролируемую деталь, прижимные пружины 12, прижимные винты 13, резьбовые отверстия 14, окуляр 15 микроинтерферометра, Призму 4 размещают на столике 3 микраинтерферометра и закрепляют винтом 8 так, чтобы ась призмы совпадала с осью обьектива микроинтерферометра. Упругий прижим контролируемой детали 5 к биссекторным плоскостям призмы осуществляют посредством прижимной планки 9, подпружиненной пружинами 12, надетыми на винты 13, которые завинчиваются в реэьбовые огнерстия 14 на торце призмы. Торцовая поверхность контролируемой де али при этом должна упираться в опорную планку

10., которая установлена в пазу, Выполненf1o;1 в г1ризме так, что плоскости симметрии и, в частности, биения торцовой поверхности ОБ относительна оси цилиндрической базовой поверхности ОС, так как для реализации таких измерений необходимо осу!це5 ствлять вращение контролируемой детали относительно оси, перпендикулярной поверхности стали! а

Целью изобретения является расширение технологических возможностей при измерении торцовой поверхности GB.

Поставленная цель достигается тем, чта в известном устройстве механизм фиксации детали выполнен в виде закрепленной на

1742614 планкиипризмы совпадают. Ширинаопор- ющих фиксированную ось в поле зрения ной планки выбирается исходя иэ необходи- окуляра, которое пропорционально величимос и перекрыть призму и разместить на не торцового биения контролируемой паней два отверстия (не показаны) под креп- верхности. ление винтами к основанию призмы и со- 5 Вкачествепримераконкретногоприместавляет величину порядка двух размеров нения осуществлен технологический контпризмы. В торцовой части призмы 4 со сто- роль торцового биения ОВ в составе ОС с роны Ч-образной канавки выполнена про- диаметром цилиндрической втулки 2,5ммс точка глубиной а, которая по величине волокном типа "Кварц-Кварц". Абсолютная равна глубине V-образной канавки и пред- 10 погрешность измерений не превышала 00? назначена для исключения влияния неци- мкм, íà базе 100 мкм. линдричности контролируемой детали в Использование изобретения позволит процессе измерений. Свободный конец on- осуществлять контроль торцового биения тического кабеля закрепляют на устройстве, микроповерхностей стыкуемых деталей ОС осуществляющем ввод в него светового из- 15 и ВОД, лучения. Формула изобретения

Устройство работает следующим абра- Устройство для контроля профиля позом. верхности оптического волокна, содержаПодсвеченную торцовую поверхность åå микроинтерферометр с предметным

0В наблюдают в окуляре 15микроинтерфе- 20 столиком, рабочая поверхность которого рометра одновременно с интерференциан- перпендикулярна оптической оси.объектива ной кар иной. Поворачивая деталь на микроинтерферометра, и механизм фиксанекоторый угол, кратный 360, фиксируют ции детали, о тл и ч а ю ще е с я тем, что, с положение интерференционной картины. целью расширения технологических воз.Поворот вокруг оптической оси осуществля- 25 можностей при измерении оптического воют, например, посредством приложения па- локна, механизм фиксации выполнен в виде ры сил к воротку, эакрепляемому на закрепленной на рабочей поверхностистоцилиндрической поверхности. В процессе лика Ч-образной призмы. биссекторная плоке 10 и м поворота деталь прижимают торцом к план- скость которой перпендикуляр а б и ке путем давления на вороток вниз. Бла- 30 поверхности столика и совмещена с оптичегодаря упругому закреплению .ской осью объектива, опорной планки с поконтролируемойдетали5посредствомпри- луотверстием на одной иэ кромок жимной планки 9 и

1 жлмной планки 9, при снятии пары сил и установленной в пазу, который выполнен в прекращении вращения контролируемая призме так, что плоскости симметрии пландеталь занимает фиксиров" ííîå положение 35 ки и призмы совпадают, и прижимной планв призме. ки, установленной на призме с

При наблюдении интерференционной возможностью взаимодействия с опорной картины в процессе дискретного вращения планкой со стороны полуотверстия, диаконтролируемой детали измеряют число ин- метр которого равен диаметру поля зрения терференционных интервалов п, пересека- 40 объектива микроинтерферометра.

1742614

Составитель В.Ватутин

Техред M. Mîðãåíòàë Корректор А. Осауле н ко

Редактор И.Горная

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина. 101

Заказ 2276 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5