Ультразвуковой иммерсионный дефектоскоп

Ультразвуковой иммерсионный дефектоскоп

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

l75699

ОПИСАН ИЕ

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Кл. 42k, 46щ

Заявлено 25.V.1964 (№ 903635(25-28) с присоединением заявки №

Государствеииый комитет по делам изобретений и открытий СССР

МПК G 01n

УДК 620.179.16.05(088.8) Приоритет

Опубликовано 09.Х.1965. Бюллетень № 20

Дата опубликования описания 21.XII.1965

Автор изобрети ия

И. С. Школяр

Заявитель

УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ИММЕРСИОННЫЙ ДЕФЕКТОСКОП

Подписная группа М 172

В ультразвуковых иммерсионных дефектоскопах известно применение искусственных отражателей ультразвуковых колебаний в виде пластин, расположенных у поверхности проверяемого изделия со стороны, противоположной установке излучателя. Прошедший через изделие ультразвуковой луч отражается от пластины, проходя через изделие в обратном направлении на излучатель.

В случае, если па пути отряженного луча встретится какое-либо повреждение в материале проверяемого изделия, то он не попадет в излучатель. О наличии дефекта в изделии судят по отсутствию отраженного импульса.

Недостаток такого устройства отражателя заключается в том, что прп непараллельностп плоскости пластины-отражателя и поверхности излучателя ультразвук ковых колебаний отраженный от пластины луч может не попасть па излучатель, что создает ложный сигнал дефекта.

Особенность предложенного ультразвукового дефектоскопа заключается в том, что отражающая ультразвуковой луч пластина выполнена мозаичной и составлена из отдельных треугольных участков, образующих ряд трехгранных пирамид, Вследствие чего при любом у гле направления ультразвукового луча отражение последнего от поверхности пластины происходит под тем же углом, что обеспечивает возвращение отраженного луча в излучатель дефектоскопа.

На фпг. 1 изображен (увелпченно) участок

5 поверхности отражателя; на фпг. 2 — схема отражения луча от поверхностей отражателя; на фпг. 3 — расположение отражательной пластины в ультразвуковой ванне.

Мозаичный отражатель представляет собой

10 лист фольги, поверхность которого снабжена множеством рядом расположенных углублений правильной геометрической формы. Каждое углубление имеет впд трехгранной пирамиды, расположенной вершиной вниз. Благо15 даря тому, что все трп грани этой пирамиды расположены под прямым углом одна относительно другой, ультразвуковой луч, достигший такси ячейки, отражается от граней п гозвращается обратно по тому же направле20 нию, откуда он оыл послан (как это изображено па фиг. 2). Размер грани «а» должен быть г> 3 — 5 ряз больше длппы волны ультразвуковых колебаний. С целью создания нап лучших условий отраженпя ультразвуковых

25 колебаний, сторона мозаичного отражателя 1 (фпг. 3), обрат;<яя рабочей, должна быть отделена от жидкости, заполняющей ванну 2, воздушной прослойкой 8. Площадь мозаичного отражателя должна быть не менее пло80 щади дна ванны. Прп этих условиях обеспе175699

Предмет изобретения

Фиг 1

Фиг. 3

Составитель И. Городинский

Редактор Т. В. Данилова Техред T. П. Курилко Корректоры: Л. В. Тюняева и С. Н. Соколова

Заказ 3565/14 Тираж 1 325 Формат бум. 60)<90 >

ЦНИИПИ Государственного комитета по делам изобретений и открытий СССР

Москва, Центр, пр. Серова, д, 4

Типография, пр. Сапунова, 2 чивается попадание отраженного луча 4, прошедшего сквозь изделие б обратно на излучатель б.

Ультразвуковой иммерсионный дефектоскоп для контроля изделий эхо-методом, в котором для определения глубины залегания дефекта в изделии использован сигнал, отраженный от поверхности вспомогательной пластины, установленной в иммерсионной жидкости у поверхности изделия, нротивоположной месту установки излучателя, отличающийся тем, что, с целью устранения погрешности контроля, обусловливаемой непараллельностью плоскостей излучателя и вспомогательной отражающей пластины, последняя выполнена мозаичной и составлена из отдельных треугольных участков, образующих ряд трехгранных пирамид, вследствие чего при любом угле направления ультразвукового луча отражение последнего от поверхности пластины происходит под тем же углом, что обеспечивает возвращение отраженного луча в излучатель дефектоскопа.