Анализатор спектра электрических сигналов

Анализатор спектра электрических сигналов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Изобретение относится к технике анализа электрических сигналов. Цель изобретения - расширение диапазона анализируемых частот и повышение точности измерения. Анализатор содержит лазерный источник (1) света, формирователь 2 пучка света, призму 3 полного внутреннего отражения, на отражающей грани которой расположена пленка 4 магнитооптического материала (MOM), поляризатор 5, Фурьеобъектив 6 и фоторегистратор 7, расположенные последовательно по ходу луча света. На MOM нанесено износостойкое покрытие 11, толщина которого удовлетворяет условию д(рв) - 6(р - в} 2U2Urnert Acos(J + 0) Acos(-0) Ae угол распространения света в покрытии, 0- угол дифракции, L - толщина покрытия, д - сдвиг фаз при полном внутреннем отражении . 1 ил. Ё VJ VI (Л С СО N3

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)ю G 01 R 23/18

ГОСУДАРСТВЕННЫЙ КОМИТЕТ

ПО ИЗОБРЕТЕНИЯМ И ОТКРЫТИЯМ

ПРИ ГКНТ СССР

ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4816617/21 (22) 28.02.90 (46) 15.11.92. Бюл. М 42 (71) Симферопольский государственный университет им. M.B.Ôðóíýå

{72) Ю.Ф. Вилесов, В.Г.Вишневский, А.P.Ïðîêîïîâ и А.В.Ярыгин (56) Авторское свидетельство СССР

hh 817661, кл. G 03 Н 1/16, 1981.

Патент США

ЬЬ 3594064, кл. G 02 F, 1971.

Автометрия, М 2, 1985, с.81-85. (54) АНАЛИЗАТОР СПЕКТРА ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ СИГНАЛОВ (57) Изобретение относится к технике анализа электрических сигналов. Цель изобретения — расширение диапазона анализируемых частот и повышение точно,, Я,, 1775682 А1 сти измерения. Анализатор содержит лазерный источник (1) света, формирователь 2 пучка света, призму 3 полного внутреннего отражения, на отражающей. грани которой расположена пленка 4 магнитооптического материала (MOM), поляризатор 5, Фурьеобъектив 6 и фоторегистратор 7, расположенные последовательно по ходу луча света. На МОМ нанесено износостойкое покрытие 11, толщина которого удовлетворяет условию д(1 0) — д(р — 0) =

241 241 жК ат антк т " " угол распространения света в покрытии, 0угол дифракции, L — толщина покрытия, д— сдвиг фаз при полном внутреннем отражении. 1 ил.

1775682 д(,р+в) -а(р-о) =

2 1-и

Изобретение относится к технике анализа спектра электрических сигналов.

Цель изобретения — расширение области анализируемых частот и повышение точности измерения. 5

На чертеже представлена структурная схема устройства.

Анализатор содержит лазерный источник 1 света, формирователь 2 пучка света, призму 3, на отражающую грань которой 10 нанесена пленка 4 магнитооптического материала (МОМ), анализатор 5, Фурье-объектив 6, фоторегистратор 7, магнитную ленту

8 с блоками 9 и 10 записи и протяжки и износостойкое диэлектрическое покрытие 15

11.

Устройство работает следующим образом.

На магнитную ленту записывается исследуемый сигнал. Блок 10 протяжки протя- 20 гивает магнитную ленту с сигналограммой . под пленкой МОМ. Поля рассеяния сигналограммы наводят в пленке МОМ структуру намагниченности, аналогичную сигналограмме. Свет лазерного источника 1 расши- 25 ряется формирователем 2 и пройдя через призму 3 освещает пленку 4 МОМ, где дифрагирует на индуцированной структуре намагниченности. Продифрагировавшие лучи попадают в износостойкое покрытие 11. За 30 счет того, что лучи распространяются под разными углами, между ними возникает разность фаз. После полного внутреннего отражения и прохождения покрытия 11 в обратном направлении лучи света вновь по- 35 падают в MOM и дифрагируют. Лучи, продифрагировавшие после первого и второго прохода МОМ, интерферируют. Поскольку разность фаз, возникшая при полном внутреннем отражении, компенсирована сло- 40 ем диэлектрика, амплитуды лучей складываются и .прекращается перекачка энергии между порядками дифракции, в результате чего выравнивается АЧХ. После этого продифрагировавшие лучи выхо- 45 дят из призмы 3, проходят анализатор 5;

Фурье-объектив 6 и формируют в его фокальной плоскости спектр электрического сигнала. Фоторегиетратор 7 производит считывание спектра, 50

При этом толщина диэлектрического покрытия должна удовлетворять условию

Составитель А.Орл

Редактор Техред М.Моргент

2 Ln

ТБ, (Гд) где р- угол распространения света; д — скачок-фаз при полном внутреннем отражении.

О- угол дифракции, (— толщина покрытия, А- длина волны света, п — показатель преломления.

В этом случае за счет сдвига фаз в износостойком слое компенсируется изменение

АЧХ, обусловленное этим сдвигом и за счет этого расширяется диапазон анализируемых частот и повышается точность измерения.

Формула изобретения

Анализатор спектра электрических сигналов, состоящий из источника лазерного излучения, формирователя пучка излучения, призмы полного внутреннего отражения, на отражающей грани которой расположена пленка магнитооптического материала, поляризатора, Фурье-объектива и фоторегистратора, расположенных последовательно на ходу луча света, фоторегистратор в фокальной плоскости объектива, магнитной ленты с блоком протяжки и записи, соприкасающейся с пленкой, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью расширения диапазона анализируемых частот и повышения точности измерения, призма содержит дополнительно прозрачное износостойкое покрытие, нанесенное на пленку магнитооптического материала, толщина которого удовлетворяет услови Ь (+ ) (ю ) =

2 Ln где р- угол распространения света; д- скачок фаз при полном внутреннем отражении; д- угол дифракции; — толщина покрытия;

А- длина волны света; и — показатель преломления. ов вл Корректор.Н.Тупица

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород. ул. Гагарина, 101

Заказ 4032 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5