Шкив клиноременного вариатора
Иллюстрации
Показать всеРеферат
1779991
7 памяти, цифроаналоговый преобразователь 8, видеоконтрольный блок 9, синхрогенератор 10, вычислительно-логический блок
11 и запоминающее устройство 12.
Устройство работает следующим обра- 5 зом.
Работа магнитотелевизионного дефектоскопа основана на измерении потерь на перемагничивание участка контролируемого изделия, 10
Электромагнит 1 устанавливают на изделие с зазором М>. По сигналу от синхрогенератора 10 программа работы дефектоскопа вводится в вычислительнологический блок 11, который устанавливают 15 на управляемом генераторе 5 гармонических колебаний и начальную высокую частоту Й1.
Одновременно вычислительно-логический блок 11 запускает аналого-цифровой преоб-. разователь 6. Измерительная информация 20
4Ц с выхода фазового детектора 4 преобра-; зуется в аналого-цифровом преобразователе б и записывается в блок 7 памяти. Вычислительно-логический блок 11 сравнивает поочередно данное значение измерительной информации ЧЩ со значениями Wg, соответствующим различным фиксированным зазорам М между полюсами электромагнита и изделием, находит ближайшее значение З0
О/Щ для частоты N<. Затем вычислительнологический блок 11 измеряет дискретно час- . тоту управляемого, енератора 5 гармонических колебаний в сторону умень-., шения частоты N2. Измерительная информа- 35 ция Vg, соответствующая частоте Й2, также, записывается в блок 7 памяти. По значению
Wg путем линейной интерполяции с учетом разницы ٠— ЧЯ, находится значение 40
ЕЯ, соответствующее бездефектному участку изделия при зазоре М1. После этого вычис-, лительно-логический блок 11 сравнивает значения Vga u Zg и решает вопрос о нали- 45 чии дефекта на данной глубине, соответству- ющей частоте N2, Например, при наличии дефекта потери на перемагничиваниеуменьшаются и значение Vg меньше ЕЯ, разность между ними через цифроаналоговый преобразователь 8 подается на вход видеоконтрольн ого устройства 9, и рич ем я р кость пятна; на экране видеоконтрольного устройства (или цвет на экране цветного видеоконтрольного устройства) зависит от величины разности
ZQ — Vg. После этого согласно программы, записанной в запоминающем устройстве 12, вычислительно-логический блок 11 устанавливает следующую более низкую частоту Мз, глубина проникновения магнитного поля в изделие увеличивается. При этом фазовый детектор вырабатывает сигнал Чф, вычислительно-логический блок 11 находит с учетом разности Р/٠— ЧЩ по значению Wg путем линейной интерполяции значение ZQ, соответствующее бездефектному участку изделия при зазоре М>. После этого вычислительнологический блок 11 сравнивает сигналы Zg u
ЧЩ. При наличии дефекта сигнал ЧЩ меньше сигнала 2Щ и на соответствующем месте экрана отображается соответствующее пятно.
Затем вычислительно-логический блок
11 устанавливает новое значение частоты
N4, причем частота N4 ниже частоты Из. Так, в дефектоскопе последовательно устанавливаются различные фиксированные значения частоты от высоких значений до низких и при атом увеличивается глубина проникновения магнитного поля в изделие и по потерям на перемагничивание устанавливается наличие дефекта на различной глубине.
Значение М/ф заносится в блок 7 памяти на стадии подготовки в контролю следующим образом. Электромагнит 1 устанавливают KB бездефектный участок и под электромагнит 1 покладывают поочередно немагнитные прокладки различной (строго известной) толщины М; и при частотах N> записывают информацию в соответствующие ячейки памяти.
weal w/Щ 1аа в/61
wl3,в%,аЮ,..., wR
wl3), ччК, wl3)..., W!3„, Наличие в памяти предварительно записанных при высокой частоте N< значений
М/Щ позволяет произвести отстройку от влияния изменения зазора между электромагнитом 1 и иэделием. Отстройка происходит следующим образом. Допустим, на частоте N1 в блок 7 памяти записалось значение ЧЩ, причем РIЩ ) ЧЩ > В/Щ. Вычислительно-логический блок 11 находит ближайшее меньшее значение ИЩ и ближайшее большее значение М/Щ и вычисля ет разности И/К вЂ” В/Ц, W9 — W9 и, например, VI)„— У/Щ. Путем линейной интерполяции по соотношению
1779991
-(vs - wI3j) (ю ® — wQ) (wl3) — w5j) находится поправка на зазор для частоты Ng и путем алгебраического суммирования
6/Я и поправки находится значение 2®, соответствующее бездефектному участку изделия при частоте йг и зазоре М». После этого согласно алгоритма контроля дефектоскоп переходит на частоту М2 и заносит в блок 7 памяти значение ЧЦ. Затем вычисляется разность 2® < V g», При наличии
N дефекта величина разности будет больше нуля, так как при наличии дефекта величина потерь на перемагничивание участка изделия будет меньше. Поправка для частоты N> не находится, так как предполагается, что поверхностные дефекты отсутствуют.
Сигнал разности ZI3„— VN » ïo сигналу от синхрогенератора 10 преобразуется в цифроаналоговом преобразователе 8 и подается в видеоконтрольный блок 9, на экране которого отображаются сигналы в виде светового пятна, соответствующие различным частотам магнитного поля, а значит, и различным глубинам проникновения магнитного поля. При движении электромагнита 1 и синхронной развертки луча видеоконтрольного блока 9 на экране возникает изображение поперечного сечения контролируемого участка.
Фазовый детектор 4 формирует сигнал, пропорциональный потерям на перемагничивание контролируемого участка изделия.
Управляемый генератор 5 гармонических колебаний формирует по сигналу от вычислительно-логического блока 11 пачки гармонических колебаний различной частоты. Количество дискретных значений частоты Ni зависит от требований к точности и чувствительности дефектоскопа к дефек- там. Верхняя частота может лежать в пределах нескольких килогерц, а нижняя частота — несколько или десятки герц в зависимости от толщины контролируемого изделия.
При контроле более глубинных слоев металла в алгоритме необходимо учитывать влияние дефектов, обнаруженных в подповерхностных слоях металла, для чего из разности, например, 2(@ — Ч® для частоты
82о вычитается величина разности
2Щ9 — Vf3"„, вычисленной при частоте N1g.
При этом учитывается уменьшение потерь на перемагничивание из-эа дефектов, обнаруженных на частотах от Nz до N
10
Формула изобретения
Магнитотелевизионный дефектоскоп, содержащий магниточувствительный узел, фазовый детектор, последовательно соеди15 ненные аналого-цифровой преобразователь, блок памяти, цифроаналоговый преобразователь и видеоконтрольный блок, и синхрогенератор, соединенный двумя выходами соответственно с вторыми входами блока памяти и цифроаналогового преобразователя, отличающийся тем, что, с целью повышения производительности контроля, он снабжен запоминающим устройством, вычислительно-логическим блоком и управляемым генератором гармонических колебаний, а магниточувствительный узел выполнен в виде электромагнита с намагничивающей и измерительной обмотками, один вывод намагничивающей обмотки сое динен с первым входом фазового детектора, второй выход — с первым входом управляемого генератора гармонических колебаний, второй выход которого соединен с вторым входом фазового детектора, для вывода из.мерительной обмотки соединены с третьим и четвертым входами фазового детектора, два выхода которого соответственно соединены с первым и вторым входами аналогоцифрового преобразователя, первый выход вычислительно-логического блока. соединен с третьим входом аналого-цифрового преобразователя, второй выход — с третьим входом блока памяти, третий выход — с управляющим входом управляемого генератора гармонических колебаний, первый вход вычислительно-логического блока соединен с вторым входом блока памяти, а второй вход — с выходом запоминающего устройства, вход которого соединен с третьим входом синхрогенератора.
1779991
Составитель Л.Крюкова
Редактор В.Кузнецова Техред M.Ìîðãåíòàë Корректор М.Максимишинец
Заказ 4432 Тираж Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР
113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5
Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина, 101