Способ определения температуры запирающего слоя полупроводниковых вентилей

Способ определения температуры запирающего слоя полупроводниковых вентилей

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А Н И Е f80379

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСИОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Союз Советских

Социалистических

Республик

Зависимое от авт. свидетельства №

Заявлено 28.11.1964 (№ 885386/26-10) Кл. 421, 7, 01 с присоединением з1151вки №

У1ПК 6 Olk

УДК 537.311.33(088.8) Приоритет

Опубликовано 21.111,1966. Бюллетень М 7

Комитет по делам изоорвтеиий и открытий при Совете Министров

СССР

Дата опубликоваиия описания 25.11 .1966

Авторы изобретешгя В. Ф. Байко, Л. С. Гришуков, Г. А. Калашников и И. В. Архипова

Заявитель

СПОСОБ Оп РЕДЕЛ ЕНИЯ ТЕМП ЕРАТУРЪ1 ЗАП И РАЮ1ЦЕГО

СЛОЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЪ1Х ВЕНТИЛЕЙ

Извсстиые способы оппеделеиия температуры запирающего слоя иолупроводииковых веитилей, осиоваииые, например, иа измерешш величины прямого измерительного тока при постоянном иапряжеиии, приводят и значитсльиым погрешиостям при измерешш из-за иелииейиой зависимости тока от температуры.

Предложеши.гй способ измерения температуры запирающего слоя полупроводгшковых вентилей позволяет снизить погрешности при измерсшгях благодаря тому, что по вентилю в испроводящий полупериод пропускают измерительиый ток с импульсами прямоугольной (рогрмы 11 0 тсмиератупс ст д>lт по всличиие ит!дсии51 иапряжсшгя и;1 вситплс.

Предмет изоорстеиия

Способ опредс Ie111151 температуры зашграю-! цего с;1051 полупроводииl Овы . nettTII lеи п тем измерения падения напряжения иа вентиле, От.гггчагогггггггс.г тем, что, с це,п ю умеиьшешгя

N погрешностей ttptt измере ши, Ito ве 1гилю иепроводящий полупериод пропускагот измерительный ток с импульсами прямоугольиой фОРМ11