Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности

Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (19) (11) (я)ю G 01 В 7/34

ГОСУДАРСТВЕ1+ЮЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ (21) 4729043/28 (22) 09,05.89 (46) 30.05.93. Бюл. М 20 (71) Научно. исследовательский институт

"Экран" (72) В.К.Прохоров и Г.А.Маврин (56) Авторское свидетельство СССР

1ч . 1019232, кл. G 01 В 7/34, 1983. (54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОЙ ПОВEPXHOСТИ .(57) Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения — обеспечение достоверности измерений. Способ измерения шероховатости и неровности

Изобретение относится к контрольноизмерительной технике и может быть исйользовано для измерения шероховатости электропроводной поверхности.

- Целью изобретения является обеспечение достоверности измерений.

На чертеже показано сечение контролируемой поверхности в зоне измерения.

Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности осуществляется следующим образом.

На измеряемой электропроводной поверхности 1 образуют измерительный конденсатор, используя в качестве одной из обкладок эту поверхность. При этом в качестве диэлектрика в конденсаторе используют диэлектрическую жидкость 2, например глицерин. Ее слой на поверхности ограничивают замкнутым буртиком 3. Вторую обэлектропроводной поверхности заключается в том, что на измеряемой и эталонной поверхностях образуют электрические конденсаторы, используя в качестве одной из обкладок эти поверхности, измеряют их емкости и по результатам сравнения определяют степень шероховатости и неровности поверхности. Новым в способе является то, что формирование диэлектрика конденсаторов осуществляют путем создания слоя диэлектрической жидкости на одной из обкладок, а другую обкладку каждого конденсатора выполняют в виде электрода, плавающего на поверхности диэлектрической жидкости. 1 ил. кладку 4 конденсатора выполняют в виде электрода, плавающего на поверхности диэлектрической жидкости, Электрод может быть выполнен из меди и иметь коробчатую форму.

Аналогично, на эталонной поверхности, образуют эталонный конденсатор с такими же габаритными размерами в плане, Для его образования используют такое же количество диэлектрической жидкости, Емкости эталонного и измерительного конденсаторов могут быть измерены любым известным измерителем емкости.

Шероховатость измеряемой электропроводной поверхности 1 определяется путем сравнения измеренных емкостей и контролируется по величине коэффициента

К = С/Со, где С вЂ” емкость измерительного конденсатора, образованного на измеряе1818526

Составитель Г. Маврин

Редактор Л. Народная Техред М. Моргентал Корректор М, Куль

Заказ 1933 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101 мой поверхности; Со — емкость эталонного конденсатора, образованного на эталонной поверхности.

При реализации данного способа учитываются абсолютно все неровности контролируемой поверхности. Следовательно, он обеспечивает достоверность результатов измерениЯ, Формула изобретения

Способ измерения шероховатости электропроводной поверхности, заключающийся в том, что на измеряемой и эталонной поверхностях образуют измерительный и эталонный конденсаторы, измеряют их емкости и по результатам сравнения определяют степень шероховатости измеряемой поверхности,отлича ющийся тем, что, с целью обеспечения достоверности измерений, в качестве диэлектрика в конденсаторах используют диэлектрическую жидкость, а вторую обкладку каждого кон10 денсатора выполняют в виде электрода, плавающего на поверхности диэлектрической жидкости.