Дифракционный интерферометр

Дифракционный интерферометр

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Использование: для проведения исследований прозрачных неоднородных сред, например, в гидродинамике, физике атмосферы , а также для обеспечения более простой и однозначной связи между наблюдаемой интерферограммой и формой изучаемого волнового фронта. Сущность: интерферометр включает в себя источник света, конденсор, щелевую диафрагму, коллиматорный объектив, систему двух фазовых дифракционных решеток, установленных в параллельных плоскостях, между которыми помещен исследуемый объем, проекционный объектив и приемник изображения. Новым в интерферометре является наличие на одной из граней щелевой диафрагмы юстируемой маски с зеркальным покрытием с коэффициентом отражения в пределах 0,04-0,09, на которой располагается ряд равноотстоящих по горизонтали и вертикали круглых пятен диаметром порядка кружка рассеяния 4коллиматорного объектива с коэффициентом отражения в пределах 0,90-0,99. 1 ил. ел с

союз советских

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (si>s G 01 J 9/02

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР . (ГоспАтент сссР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЪСТВУ

00 (21) 4751506/25 (22) 23.10.89 (46) 30.05,93. Бюл. ЬЬ 20 (71) Всесоюзный научный центр "Государственный оптический институт им. С.И. Вавилова" (72) Л,Э. Четкарева (56) Васильев Л.А. и-др. Зеркальный интерферомвтр с восстановленной волной сравнения. Материалы докладов Всесоюзного семин ра "Физические методы исследований прозрачных неод юродностей", ДНТП им. Дзержинского, 975.

Евсеев B.А., Четкарева Л,3. Влияние параметров дифракционного интерферометра на интерференционную картину, Известия высших учебных заведений, серия "Приборостроение". т. ХХ1 И, hh 99, 1981, ЛИТМО, с. 64. (54) ДИФРАКЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР (57) Использование: для проведения исследований прозрачных неоднородных сред, Изобретение относится к области оптического приборостроения и может быть использовано для исследования прозрачных неоднородных сред, например, в гидродинамике, океанологии, физике атмосферы, при изучении малых деформаций в прозрачных твердых средах.

Цель изобретения — повышение точности интерференционных измерений формы волнового фронта излучения, прошедшего неоднородную среду, э также обеспечение более простой и однозначной связи между

„„ЯЯ„„1818547 А1 например, в гидродинамике, физике атмосферы, а также для обеспечения более простой и однозначной связи между наблюдаемой интерферограммой и формой изучаемого волнового фронта. Сущность: интерферометр включает в себя источник света, конденсор, щелевую диафрагму, коллиматорный объектив, систему двух фазовых дифракционных решеток, установленных в параллельных плоскостях, между которыми помещен исследуемый объем, проекционный объектив и приемник изображения, Новым в интерферометре является наличие на одной иэ граней щелевой диафрагмы юстируемой маски с зеркальным покрытием с коэффициентом отражения в пределах 0.04 — 0,09, на которой располагается ряд равноотстоящих по горизонтали и вертикали круглых пятен диаметром порядка кружка рассеяния коллиматорного объектива с коэффициентом отражения в пределах 0,90-0,99. 1 ил. наблюдаемой интерферограммой и формой изучаемого волнового фронта.

Маска позволяет создать в интерферометре пространственно-частотную фильтрацию излучения для одного иэ интерферирующих пучков, Роль фильтров

Фурье играют интенсивно отражающие свет площадки малого диаметра, расположенные на поверхности маски, 8 процессе юстировки пространственный фильтр совмещается с иэображением одного иэ двух выходных зрачков интерферометра. При этом происходит восстановление соответст1818547 вующего волнового фронта, и интерферометр сдвига преобразуется в интерферометр с невозмущенной ветвью сравнения.

Наличие на маске нескольких отражающих пятен упрощает процесс юстировки, цель которой — сведение одного из выходных зрачков интерферометра с отражающим малым пятном. В данном устройстве оба интерферирующих пучка проходят объект под разными углами, поэтому попеременное 10 восстановление каждого из пучков пространственно-частотным фильтром позволит, кроме того, получить информацию о фазовом объекте в двух ракурсах беэ изменения ориентации прибора в целом относи- 15 тельно обьекта исследований, что позволит увеличить объем получаемой информации.

Оптическая схема устройства изображена на чертеже и включает в себя следую.щие элементы; осветитель (поз. 1, 2), 20 диафрагму (поз. 3), расположенную под углом к оптической оси коллиматорного объектива (и:",ь 4), две фаэовые дифракционные . решетки, проэрачную (поз. 5) и отражательную (поз. 6); установленные в параллельных 25 плоскостях по ходу лучей под углом первого спектрального порядка, проекционный объектив(поз,7), находящийся на аси светового пучка, отраженного ат наклонной грани световой диафрагмы, а также приемник иэа- 30 бражения (паз. 8) интерференционной картины.

Сущность изобретения заключается в том, что в плоскости граней осветительной диафрагмы установлена юстируемая маска 35 (поз. 9) с малым коэффициентом отражения (порядка 4-570), на поверхности которой имеется ряд равноотстоящих по.горизонтали и вертикали на расстоянии 7-Ю мм (в зависимости от фокусного расстояния кол- 40 лиматорного обьектива) круглых отражающих площадок (пятен) малого диаметра (порядка кружка рассеяния коллиматорного обьектива) с коэффициентом отражения в пределах 0,90-0,99..Узел диафрагмы с мас- 45 кой схематично представлен видом А на чертеже схемы, Схема работает следующим образом: источник света (поз. 1) изображается канденсором (поз. 2) на щель диафрагмы (поэ, 50

3). Объектив (паз. 4), в фокальнай плоскости которого находится щелевая диафрагма, формирует параллельный пучок света, который падает на прозрачную фазовую решетку (поз, 5) под углом первого порядка дифракции для длины волны, соответствующей центральной части используемого интервала излучения источника света. C учетом того, что для образования полос в системе двух метрологических решеток с энергетической точки зрения выгодно использовать пучки наименьших, порядков дифракции, в интерферометре использованы фазовые решетки, концентрирующие излучение соответственно для прозрачной решетки в О, +1, а для отражательной в й2. порядки спектра, При кратности постоянных решеток, равной двум, например, 600 и

300 штрих./мм соответственно для прозрачной и отражательной решеток дифрагированные на прозрачной решетке в О, +1 порядки два плоских волновых фронта, пройдя исследуемую среду и прадифрагировав затем на отражательной решетке в ч=2 порядки, возвращаются при отсутствии неоднородности по тому же пути. На поверхности прозрачной решетки оба пучка вторично дифрагируют в О, +1 порядки и интерферируют между собой, Решетки в интерферометре располагаются в параллельных плоскостях с некоторым взаимным разворотом штрихов относительно оси Х на угол О.

Диафрагма (поэ. 3) располагается в фокальной плоскости объектива (поз. 4) и выполнена .на пластинке, ориентированной под углом, который может составлять величину ат 30 до 450. Оба выходных зрачка интерферометра при малом отклонении от автоколлимации фокусируются раздельно в плоскости диафрагмы. В прототипе далее оба пучка после отражения от однородной зеркальной и верхности диафрагмы падают на проекционный обьектив. В предлагаемом устройстве один иэ выходных зрачков интерферометра совмещается в плоскости маски с помощью ее юстировачнаго механизма с одним отражающим пятном малого

° диаметра, выполняк)щего функцию пространственно-частотного фильтра. В реЗультате пучок, прошедший через фильтр, трансформируется в невозмущенный фазовым объектом пучок. Для выравнивания интенсивностей интерферирующих пучков фоновая поверхность маски имеет приблизительно на порядок меньший коэффициент отражения, чем коэффициент отражения малого пятна. Расстояние между соседними отражающими пятнами маски составляют в зависимости от фокусного расстояния коллиматар. .at o объектива 7-12 мм, что обеспечивает возможность получения изображения двух выходных зрачков интерфераметра в плоскости диафрагмы раздельно соответственна на отражающем пятне и на слабо отражающей поверхности маски, Низкий фоновый коэффициент отражения маски может быть осуществлен различными, способами, Например, нанесением отражающего покрытия на внутреннюю поверх1818547 ность маски, выполненную из стекла с большим коэффициентом поглощения, или нанесением непосредственно на внешнюю поверхность маски отражающего покрытия с заданным коэффициентом отражения.

Составитель Л. Четкарева

Техред M.Ìoðãåíòàë Корректор H. Ревская

Редактор

Заказ 1934 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб„4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г. Ужгород, ул.Гагарина. 101

Вследствие пространственно-частот,ной фильтрации излучения и восстановления одного из интерферирующих фронтов возникает возможность интерпретировать полученную интерферограмму, как обычную двухлучевую с невозмущен ной опорной ветвью. Таким образом, использование данного дифракционного интерферометра обеспечивает по сравнению с прототипом, с одной стороны, повышение точности измерений формы волнового фронта на величину от единиц до 20-30 процентов в зависимости от степени сложности исследуемого фазового объекта за счет достижения более простой и однозначной связи между наблюдаемой интерференционной картиной с формой исследуемого волнового фронта, а также позволяет получить интерференционную картину для двух ракурсов наблюдений, соответствующих двум дифракционным направлениям излучения без изменения ориентации прибора в целом относите, но объекта исследований, что поэволяе" увеличить объем получаемой информации.

Формула изобретения

Дифракционный интерферометр, содержащий последовательно установленные на оптической оси и оптически связанные

5 осветитель, щелевую диафрагму, плоскость которой расположена под углом к оптической оси, коллиматор, две фазовые дифракционные решетки, прозрачную и отражательную, установленные под углом

10 первого спектрального порядка для центральной длины волны используемого спектрального интервала излучения к оптической оси, обращенные рабочими поверхностями друг к другу, между которыми расположен

15 объем с исследуемой средой, проекционный объектив, и приемник изображения интерференционной картины, о т л и ч а ю щ и йс я тем, что, с целью повышения точности интерференционных измерений, одна иэ

20 граней щелевой,диафрагмы снабжена пространственно-частотным фильтром, выполненным в виде маски с коэффициентом отражения в пределах от 0,04 до 0,09, установленной с возможностью перемещения в

25 плоскости щелевой диафрагмы и снабженной рядом равноотстоящих по горизонтали и вертикали круглых пятен с коэффициентом отрах;ения 0,90-0,99, причем диаметр пятен не превышает диаметра пятна рассе30 яния коллиматорного объектива, Ф