Способ фотографического эмиссионного спектрального анализа

Способ фотографического эмиссионного спектрального анализа

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Сущность изобретения: способ включает возбуждение эмиссионных спектров анализируемых и градуировочных проб в разряде между аналитическим электродом и противоэлектродом, фотографирование на одну фотопластину спектров нескольких анализируемых и градуировочных проб и расчет результатов анализа, причем воз-, буждение и фотографирование спектров всех анализируемых и градуировочных проб осуществляют одновременно, используя е качестве аналитического электрода блок из последовательно собранных анализируемых и градуировочных проб, установленный параллельно щели спектрометра, в качестве противоэлектрода - электрод в виде лезвия, длина которого равна длине аналитического электрода и установленного параллельно ему, а в качестве аналитического сигнала для каждой из проб - продольный участок аналитической спектральной линии, начало и конец которого расположены от начала -линии на расстояниях, пропорциональных расстояниям на которых расположены, соответственно , начало и конец пробы от начала блока образцов. Ё

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (s»s G 01 N 21/73

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

НОЙТЕ

П -". хяР;

Ы (21) 4845080/25 (22) 16.04.90 (46) 23.06.93, Бюл, № 23 (71) Самарский филиал Научно-исследовательского института технологии и организации производства двигателей (72) Е.П.Сафонова (56) Терек Г., Мики И,. Гегуш Э. Эмиссионный спектральный анализ. M.: Мир., 1982, т, 464.

Авторское свидетельство СССР

¹ 529379, G01 J 3/40, 1976. (54) СПОСОБ ФОТОГРАФИЧЕСКОГО

ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА (57) Сущность изобретения: способ включает возбуждение эмиссионных спектров анализируемых и градуировочных проб в разряде между аналитическим электродом и противоэлектродом, фотографирование на одну фотопластину спектров нескольких

Изобретение относится к аналитиче° ским методам контроля сплавов и может быть использовано в лабораториях, применяющих фотографический спектральный анализ.

Цель изобретения — уменьшение трудоемкости фотографического спектрального анализа, Это достигается тем, что фотографирование спектра комплекта стандартных образцов или анализируемых проб осуществляется за одну экспозицию блоками. Собранный блок определенной высоты затачивают на токарном станке и устанавливают в штатив параллельно входной щели спектрографа. Против блока фиксируют противозлектрод в виде!

Ы 1822949 А1 анализируемых и градуировочных проб и расчет результатов анализа, причем воз-. буждение и фотографирование спектров: всех анализируемых и градуировочных проб осуществляют одновременно, используя в качестве аналитического электрода блок из последовательно собранных анализируемых и градуировочных проб, установленный параллельно щели спектрометра, в качестве противоэлектрода — электрод в виде лезвия, длина которого равна длине аналитического электрода и установленного параллельно ему, а в качестве аналитического сигнала для каждой из проб — продольный участок аналитической спектральной линии, начало и конец которого расположены от начала .линии на расстояниях, пропорциональных расстояниям на которых расположены, соответственно, начало и конец пробы от начала блока образцов. лезвия на расстоянии аналитического промежутка и подают напряжение от искрового генератора, Образующаяся искра рассредотачивается между блоком и противоэлектродом.

8 случае исследования, например, рас- К3 пределения элементов в зоне сварного или, паянного шва достаточно вместо блока ус- . тановить анализируемый участок шва. Линейный световой разряд, образующийся в аналитическом промежутке, проектируют на щель спектрографа, перед которой вмес-о диафрагмы устанавливают сетку, кото. рая делит полученный спектр на равные участки. B дальнейшем фотометрируют каждый участок аналитической линии, соответ;

1822949

Составитель

Техред М.Моргентал

Редактор Т. Шагова

Корректор С, Патрушева

Заказ 2177 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/5

Производственно-издательский комбинат "Патент", г, Ужгород, ул.Гагарина, 101 ствующий определенному участку анализируемой пробы или блока стандартных образцов. Полученные результаты замеров подвергаются обработке.

Выиграш во времени очевиден, так как за одну экспозицию фотографируют не-" сколько стандартных образцов, необходимых для градуировки установки. При исследовании распределения элементов вдоль выбранного участка пробы, напри- 10 мер, сварного шва, выигрыш в трудоемкости будет еще больше.

Формула изобретения

Способ фотографического эмиссионного спектрального анализа, включающий возбуждение эмиссионных спектров анализируемых и градуировочных проб в разряде аналитическим электродом и противоэлектродом, фотографирование на одну фотоплвстину спектров нескольких анализируемых и гра- 20 дуировочных проб и расчет результатов анализа, отличающийся тем, что, с целью улучшения воспроизводимости результатов анализа и уменьшения его трудоемкости, возбуждение и фотографирование спектров всех анализируемых и градуировачных проб осуществляют одновременно, используя в качестве аналитического электрода блок из последовательно собранных анализируемых и градуировочных проб, установленный параллельно щели спектрометра, в качестве противоэлектрода— электрод в виде лезвия, длина которого равна длине аналитического электрода и установленного параллельно ему, а в качестве аналитического сигнала для каждой из проб — продольный участок аналитической спектральной линии, начало и конец которого расположены от начала линии на расстояниях, пропорциональных расстояниям, на которых расположены соответственно начало и конец пробы от начала блока образцов.