Способ определения содержания элемента в поверхностном слое земли

Способ определения содержания элемента в поверхностном слое земли

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

Использование: для контроля загрязненности почвы и воды. Сущность изобретения: регистрируют на поверхности среды потоки нейтронов ln и протонов р космического излучения и потоки захватного гамма-излучения |у на ядрах определяемого элемента и характеристического излучения х для атомов определяемого элемента. Определение содержания элемента производят в двух слоях различной толщины „ Агтр(иг +Wn)lr по соотношениям: Ci у - г .- где AZ - средний атомный г „AzmpUxlx 2 номер среды, тр-масса протона; ; fly, . Ц массовые коэффициенты поглощения гамма-. нейтронного и рентгеновского излучений в среде; сгп, Ор - сечения взаимодействия нейтронов и протонов с ядрами и атомами определяемого элемента. 1 ил. (Л С

СОЮЗ СОВЕТСКИХ

СОЦИАЛИСТИЧЕСКИХ

РЕСПУБЛИК (я)ю G 01 N 23/00

ГОСУДАРСТВЕННОЕ ПАТЕНТНОЕ

ВЕДОМСТВО СССР . (ГОСПАТЕНТ СССР) ОПИСАНИЕ ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

А лМ<х х

С2— е

Oplp (21) 4904605./25 (22) 22.01.91 (46) 15.08.93, Бюл. М 30 (71) Казахский государственный университет им. С.M.Êèðoaà (72) Е, В, Кол ом ее ц, В. Н, Се востья нов и

Ш.Д, Фридман (56) Авторское свидетельство СССР

М 1427983, кл. G 01 N 23/00, 1983, Авторское свидетельство СССР

М 830241, кл. 6 01 N 23/00, 1979.

{54) СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОДЕРЖАНИЯ ЭЛЕМЕНТА В ПОВЕРХНОСТНОМ

СЛОЕ ЗЕМЛИ (57) Использование: для контроля загрязненности почвы и воды, Сущность изобретения; регистрируют на поверхности среды

Изобретение относится к исследованию или анализу материалов радиационными методами и предназначено для определения загрязнения поверхности Земли.

Цель изобретения — дополнительное определение содержания элемента в поверхностном слое меньшей толщины, Сущность изобретения заключается в том, что регистрируют на поверхности среды потоки нейтронов ln и протонов!р космического излучения и потоки захватного гамма-излучения Г на ядрах определяемого элемента и характеристического излучения

Ix для атомов определяемого элемента. Определение содержания элемента производят в двух слоях различной толщины по соотношениям:

„„53J „„1833807 А1 потоки нейтронов In и протонов Ip космического излучения и потоки захватного гамма-излучения l на ядрах определяемого элемента и характеристического излучения Ix для атомов определяемого элемента. Определение содержания элемента производят в двух слоях различной толщины по соотношениям: C>—

Az%д«х1х

Сг — Р, где Az — средний атомный

Ор!р номер среды, п1 р-масса протона; К,и, й„,,и„массовые коэффициенты поглощения гамма-, нейтронного и рентгеновского излучений в среде; (7n, cTp — сечения взаимодействия нейтронов и протонов с ядрами и атомами определяемого элемента, 1 ил. где А — средний атомный номер средь ;

mð — масса протона;

/z /zn,/cx — массовые коэффициенты поглощения гамма-, нейтронного и рентгеновского излучений в среде, Ол, bp — сечения взаимодействия нейтронов и протонов с ядрамгл и атомами определяемого элемента.

Изобретение иллюстрируется чертежом, на котором представлена геометрия измерений.

Способ осуществля ют следующим образом.

Располагают над поверхностью воды или суши датчик 1 потока нейтронов In кос1833807 мического излучения и датчик 2 захватного гамма-излучения Ig ядер определяемого элемента, датчик 3 потока протонов! р космическо. го излучения и датчик 4 характеристического излучения 4 атомов определяемого элемента.

Производят регистрацию указанных потоков, Определяют содержание элемента в первом

Ci и втором С поверхностных слоях по соотношениям: х х

; Сг—

Ниже приведен пример конкретного выполнения.

При определении содержания хлора в почве получены следующие значения потоков излучения: Yn - 1,7 10 нейтр(см . с.ср);

ly. - 2.6-10 фотон/см .с.ср (с энергией 8,55

-3 2

Мэв), lp - 104 протонов/см,с.ср; lx - 3,5»

10 фотон/см .с.ср (с энергией 2,82 Кэв).

Известно, что,и = 0,022 см /r р„- 0,008 см /г, р = 500 см /г,о»,- 3,2 ° 10 см; op= 9»10 см; Аг 20, mp 1,7» 10 r.

Отсюда С> =0,005, С = 0,01. Причем глубина первого слоя (99 излучения) составляет

150 г/см а второго

P) +Pn фх

=0,01 г/см .

Таким образом, способ обеспечивает дополнительное измерение содержания

С 4zmPuxlx

Ср—

Oplp

Onln где А — средний атомный номер среды; вр — масса протона; ,и,pn, их — массовые коэффициенты поглощения гамма-,нейтронного и рентгеновского излучений в среде; а», Ор- сечения взаимодействия нейтронов и протонов с соответственно ядрами и атомами определяемого элемента. элемента в дополнительном слое меньшей толщины.

Формула изобретения

Способ определения содержания элемента в поверхностном слое Земли, включающий регистрацию на ее поверхности потока нейтронов 1 космического излучения, потока захватного гамма-излучения

1 ядер определяемого элемента и опреде10 ления содержания элемента в поверхностном слое, отличающийся тем, что, с целью дополнительного определения содержания элемента в поверхностном слое меньшей толщины; регистрируют на поверх15 ности потоки протонов Ip космического излучения и характеристическое излучение 4 атомов определяемого элемента, а содержание элемента в первом и втором поверхностных слоях определяют по соотношениям.

1833807

Составитель И. К зеленко

Техред М.Моргентал Корректор А. Козориз

Редактор

Заказ 2683 Тираж Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР

113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., 4/Ь

Производственно-издательский комбинат "Патент", r. Ужгород, ул.Гагарина, 101