Прозрачных объектов

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

О П И С А Н И Е 184480

ИЗОБРЕТЕНИЯ

К АВТОРСКОМУ СВИДЕТЕЛЬСТВУ

Ones Советвиив

Социалистических

Рвспублии

Зависимое от авт. свидетельства ¹

Кл. 42h, 36

Заявлено 26. т 1.1964 (№ 908540!26-10) с присоединением заявки №."1ПК 6 02Ь

Приоритет

Опубликовано 21.И1.1966. Бюллетень № 15

Дата опубликования описания 13.IX.19áá

Комитет по делам изобретений и аткрмтий при Совете Министров

СССР

УДК 535.827.2:535.314 (088.8) Автор изобретения

Ю. А. Черкасов

Заявитель

СПОСОБ ПОДГОТОВКИ ПРОЗРАЧНЫХ ОБЪЕКТОВ

К МИКРОСПЕКТРОФОТОМЕТРИЧЕСКИМ ИЗМЕРЕНИЯМ

В ОТРАЖЕННОМ СВЕТЕ

2 и+1 л т 1,54 (n+-1) -

Известны способы подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете, заключающиеся в изготовлении прозрачно-полированного шлифа (тонкой отполированной с поверхности пластины, закрепленной с помощью канадского бальзама на предметном стекле).

Предложенный способ подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете отличается от известных тем, что пластины исследуемого объекта в шлифе полируют с обеих сторон, а шлиф помещают на поглощающую свет подложку с прослойкой иммерсионной среды, обеспечивающей оптический контакт шлифа с подложкой.

Осуществление описываемого способа под готовки объекта к измерениям основано на

Использовании известной зависимости коэффициента R отражения от показателя п преломления того же вещества. Эта зависимость может быть записана в следующем виде;

Подставляя в приведенную формулу значения показателя и преломления, можно вычислить соответствующие им значения коэффициента

R отражения и построить график зависимости

R от и. Этот график может быть использован для определения показателя и преломления прозрачных объектов по измеренным значениям коэффициента R отражения.

Предмет изобретения

Способ подготовки прозрачных объектов к микроспектрофотометрическим измерениям в отраженном свете, заключающийся в изготовлении прозрачно-полированного шлифа исследуемого объекта, отличающийся тем, что, с целью увеличения точности результатов измерений, пластины исследуемого объекта в шлифе полируют с обеих сторон, а шлиф помеща-. ют па поглоп1ающую свет подложку с прослойкой иммерсионной среды, обеспечивающей оптический контакт шлифа с подложкой.