Интерференционный способ определения

Интерференционный способ определения

Иллюстрации

Показать все

Реферат

 

ОПИСАЙЙЕ В

Союа Соеетскик

Социалистических

Республик

Зависимое от dBT. свидстельс1ва №

Заявлсно22,1.1966 (№ 1050951/25-28) с присоединением заявки ¹

1ЧПК 6 01Ь

Пр:1оритет

Опубликовано 16Х.1967. Бюллетень ¹ 11

Комитет по делам изобретений и открытий при Соеетв Министров

СССР,"3,1К 621.9.015.08(088.8) Дата опубликования описания 17ХП.19б7

Авторы изобретения

3. В. Кулайтис и Д. A. М" цюлявичус

Вилыпосский филиал Каупасского политехнического института

Заявитель

ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ

ИЗМЕНЕНИЯ ЧИСТОТЫ (И1ЕРОХОВАТОСТИ) Г1ОВЕРХНОСТИ ДЕТАЛЕЙ В ПРОЦЕССЕ ТОНКОЙ ОБРАБОТКИ

Предмет изобретения

Известен интерференционный способ определения измерения чистоты (шероховатости) поверхности деталей в процессе тонкой ооработки, состоящей в том, что по изображению интерференционной картины судят о чистоте (шероховатости) поверхности.

Такой способ определения чистоты (шероховатости) поверхности детали позволяет контролировать чистоту поверхности только в статистическом состоянии.

Предлагаемый способ отличается от известного тем, ITo с исследуемой поверхности детали сдувают охлаждающую жидкость, Iiaпример, струей воздуха и фотографируют последовательно интерференционную картину исследуемой поверхности, по которой судят об изменении чистоты (шероховагости) поверхности детали.

Зто позволяет повысить точность определсш1я параметров, характеризующих чистоту поверхности (шероховатости) непосредственно в процессе тонкой обработки детали прп использовании охлаждающей жидкости.

На черте>ке изобра>кена схема измерительного комплекса, поясняющая предлагаемый способ.

В процессе тонкой обработки без снятия детали со станка применяется измерительный комплекс, который включает шлифовальный круг 1 па круглошлифовальном станке, соп lo

2 воздушной заслонки, исследуемую деталь 3, закрепленную в центрах 4, диск — световую заслонку 5, лампочку 6 накаливания, кронштейн 7 крепления, фотоэлемент 8, провода

9 — l2, исто и:пк питания импульсной лампыстроботрона 18, устройство 14 синхронизации, кинокамеру 16 с электрическим приводом, иптерферометр 16 для исследования подвижных поверхностей деталей в процессе обработки и поводковое устройство 17 для вращения детали.

При осуществлении способа интерферометр 16 для исследования подвижных поверхностей деталей i: процессе обработки закреllлЯетсЯ прот!1в шлифуемойl Детали 8. Струси воздуха очищают деталь от охлаждающей

>Ila при oopa0OTiio детали шлифованием, применяя с этой целью воздушную заслонку, рабочий конец которой

20 годвс,iell и ooïå шлпфова;И1Я. Затем фотографируют последовательно интерфсрспцпо 1иую картину исследуемо!1 пове1>хпостп, по I OTopoII судят об изменении чистоты (шероховатости) поверхности детали.

Интерференционный способ определен1гя изменения чистоты (шероховатости) поверхпо30 сти деталей в процессе топкой обработки, отличаюи4ийся тем, что, с целью повышения точности определения параметров, характеризующих чистоту поверхности (шероховатость) непосредственно в процессе тонкой обработки деталей, при использовании охлаждающей жидкости, с исследуемой поверхности детали сдувают охлаждающую жидкость, например, струей воздуха и фотографируют последовательно интерференционную картину исследуемой поверхности, по которой судят об изменеs пии чистоты (шероховатости) поверхности детали.

Составитель Л. Ионова

Редактор Н, Джарагетти Текрсд Л. Ч. Бриккер Корректоры: Н. И. Быстрова и Е. Н. Гудзова . >акая 2147/4 Тираж 535 Подпггсггое

Цг1ИИГ1И Комитета ио лелям гг.гобрстсггигг и открытий при Совете Министров СССР

Москва, 11агтр, г р. Серова, д. 4

Типографгггг, пр. Сапунова, 2